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2017
03-13X 射線探傷技術(shù)在文物保護及考古繪圖中的應(yīng)用
一、X射線探傷技術(shù)在文物考古中應(yīng)用的原理X射線探傷技術(shù),是利用射線透過物體時,發(fā)生吸收和散射這一特性,通過測量材料中因缺陷存在影響射線的吸收來探測缺陷的一種技術(shù)。根據(jù)底片上有缺陷部位與無缺陷部位的黑度圖像不一樣,就可判斷出缺陷的種類、數(shù)量、大小等,這就是射線照相探傷的原理,也稱X射線照相技術(shù)。在考古學(xué)中運用X射線照相技術(shù),就是利用X射線照相方法所具有不損壞器物的特性,而且,具有高穿透能力的電磁輻射X射線。在文物保護工作中單一的利用數(shù)碼照片,只能對器物表面及形的一些信息進行了解,銹層底部及器物的內(nèi)2017
03-13新型X射線食品雜質(zhì)檢測機-可同時檢測多種雜質(zhì)
提起X射線食品檢測技術(shù),大家自然會聯(lián)想到食品中的千奇百怪的雜質(zhì),紙、創(chuàng)可貼、鋼絲球、玻璃、塑料,金屬等等其他一些東西。如果食品當(dāng)中只有一種雜質(zhì),那么傳統(tǒng)的X射線機就可以解決此類檢測問題。但是如果有多種雜質(zhì),或者雜質(zhì)的密度接近食品,那么檢測的難度就加大了,或者說難以解決。為了解決這一問題,奧龍射線集團推出了可檢測多種食品雜質(zhì)的X射線機。該設(shè)備采用先進的雙能探測器和進口小焦點X射線源,配置專業(yè)用于多種樣品同時成像處理軟件,可檢測食品中兩種或者多種雜質(zhì),也可以用于檢測工藝品或者醫(yī)療器械。雙能成像和傳統(tǒng)2017
02-202017
02-152017
01-122017
01-092016
12-222016
12-222016
11-182016
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09-072016
08-182016
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08-01DR平板探測器常識——非晶硒和非晶硅平板探測器的區(qū)別
DR平板探測器常識——非晶硒和非晶硅平板探測器的區(qū)別在數(shù)字化攝片中,X線能量轉(zhuǎn)換成電信號是通過平板探測器來實現(xiàn)的,所以平板探測器的特性會對DR圖像質(zhì)量產(chǎn)生比較大的影響。選擇DR必然要考慮到平板探測器的選擇。平板探測器的性能指標(biāo)會對圖像產(chǎn)生很大的影響,醫(yī)院也應(yīng)當(dāng)根據(jù)實際需要選擇適合自己的平板探測器。DR平板探測器可以分為兩種:非晶硒平板探測器和非晶硅平板探測器,從能量轉(zhuǎn)換的方式來看,前者屬于直接轉(zhuǎn)換平板探測器,后者屬于間接轉(zhuǎn)換平板探測器。非晶硒平板探測器主要由非晶硒層TFT構(gòu)成。入射的X射線使硒層2016
07-222016
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