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2023
09-14便攜式X射線熒光光譜儀XRF在汽車工業(yè)中的應(yīng)用
從F(氟)到U(鈾)的便攜式元素分析儀分析快速,結(jié)果準(zhǔn)確使得Bruker便攜式X射線熒光光譜儀成為汽車行業(yè)材料分析、成品和生產(chǎn)過程零部件質(zhì)量管控的理想選擇。Bruker便攜式XRF可以在固體、液體和粉末的任何位置進(jìn)行測量。在兼具市售常規(guī)便攜式XRF分析能力的同時,它能夠快速準(zhǔn)確分析樣品中的輕元素,如鎂、鋁和硅等,Tracer5g甚至可以實(shí)現(xiàn)Na(鈉)和F(氟)的定性定量分析。汽車工業(yè)中便攜式XRF典型應(yīng)用包括合金識別和質(zhì)量控制、廢舊金屬回收、鍍層分析、RoHS檢測等,這使得Bruker便攜式XR2023
08-252023
06-022023
02-17微區(qū)XRF在嫦娥五號月壤單顆粒中的鈦鐵礦定量分析和鑒定中的應(yīng)用
此前,嫦娥五號返回攜帶的月壤樣品引起了廣大科研人員的廣泛關(guān)注。中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所李金華研究員團(tuán)隊對嫦娥五號(CE-5)月壤樣品中微米級顆粒中的鈦鐵礦開展了深入細(xì)致的原位微區(qū)分析,提出了一種無損快速鑒定和定量分析的全新表征方案(圖1)。相關(guān)成果發(fā)表在國際光譜學(xué)專業(yè)期刊《AtomicSpectroscopy》“MicroanalyticalTechniquesforExtraterrestrialSamples(PartII)”專輯(AtomicSpectroscopy,2022,43,2023
02-07白光干涉儀(三維光學(xué)輪廓儀)原理及應(yīng)用介紹
原理照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光,分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光相互干涉,在CCD相機(jī)感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的亮度取決于兩束光的光程差,根據(jù)白光干涉條紋明暗度以及干涉條紋出現(xiàn)的位置計算出被測樣品的相對高度,從而得到樣品表面的三維尺寸信息。如下圖所示。白光干涉儀的優(yōu)點(diǎn)非接觸式測量,不損傷樣品;測試效率高,幾秒鐘成像,自動分析結(jié)果;高度方向分辨率高,在不同物鏡下均可達(dá)0.1nm,實(shí)現(xiàn)亞納米級的測量;優(yōu)異的重復(fù)性;分析功能強(qiáng)大,簡便易用;優(yōu)異的擴(kuò)展性。2022
12-142022
11-15德國Bruker微區(qū)X射線熒光光譜儀應(yīng)用分享
1.設(shè)備應(yīng)用簡介BrukerM4Tornado微區(qū)X射線熒光光譜儀是樣品成分分析、成分分布規(guī)律研究的新利器。成分的分布規(guī)律研究可以給學(xué)者從宏觀、微觀、微宏觀結(jié)合等多個角度提供新的研究思路。目前該設(shè)備已經(jīng)在植物環(huán)境、科技考古、地球科學(xué)、材料科學(xué)、生物工程、刑事等領(lǐng)域有著諸多的應(yīng)用案例。該設(shè)備在國內(nèi)外有專業(yè)的應(yīng)用開發(fā)人員,專注于新應(yīng)用領(lǐng)域的開發(fā)。2.主要功能:BrukerM4Tornado可以對大塊、不均勻、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性元素分析(C6-Am95)。采用多導(dǎo)2022
11-092022
09-282022
09-082022
08-27Bruker CRONO應(yīng)用于平面及穹頂壁畫研究的新方式
什么是CRONO?BRUKERCRONO是一款可移動式、非接觸、大面積掃描型X射線熒光光譜儀,它沒有封閉腔、不受被測物體的位置、外形、尺寸等限制,可以根據(jù)文物的具體形狀和位置自由定位。采用設(shè)備探頭移動,文物不動的形式掃描,工作距離為10mm,因此可實(shí)現(xiàn)非接觸式測量并且無損。單次掃描范圍可達(dá)600mmx450mm。電動支架可以設(shè)置任何角度的測量,并且易于拆卸運(yùn)輸。CRONO還可以安裝在輕型三腳架上,轉(zhuǎn)換為便攜式單點(diǎn)XRF光譜儀。因此,CRONO是現(xiàn)場測量的良好選擇。"顏料的成分是什么?這種顏料是畫2022
07-29布魯克Dektak-XT接觸式表面輪廓儀在晶圓測試方面的應(yīng)用
自2014年起,國產(chǎn)12寸晶圓的量產(chǎn)問題得到解決,國產(chǎn)晶圓進(jìn)入到一個飛速發(fā)展的時期中。晶圓作為芯片的載體,在當(dāng)今科技時代起著至關(guān)重要的作用,小到遙控器、手機(jī),大到航天領(lǐng)域,例如衛(wèi)星等都離不開晶圓。那么晶圓的加工工藝是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)決定了成品的優(yōu)劣。今天筆者就為大家介紹BrukerDektak-XT接觸式表面輪廓儀在晶圓方面的測試應(yīng)用。BrukerDektak-XT接觸式表面輪廓儀(臺階儀)作為Dektak系列第十代產(chǎn)品,經(jīng)過50多年的更新升級及技術(shù)創(chuàng)新,目前已成為使用廣泛的接觸式表面檢測設(shè)備,有著眾2022
07-082022
06-272022
05-262022
05-20?布魯克手持光譜儀在廢舊金屬回收行業(yè)的應(yīng)用
廢舊金屬回收是指從廢舊金屬中分離出來的有用物質(zhì)經(jīng)過物理或機(jī)械加工成為再生利用的制品,是從回收、拆解、到再生利用的一條完整產(chǎn)業(yè)鏈及再生利用生態(tài)圈,實(shí)現(xiàn)了資源的有效利用。由于廢舊金屬種類繁多,具有高價值的廢舊金屬往往難以快速分辨,導(dǎo)致從事廢舊金屬回收企業(yè)在很多時候產(chǎn)生了利益損失,此時,我們可以使用手持式熒光光譜儀針對來料進(jìn)行快速分辨,從而減少企業(yè)不必要的損失,提高回收效率及利潤。攜帶方便操作簡便布魯克手持光譜儀整機(jī)質(zhì)量不超過1.5KG,采用扳機(jī)操作系統(tǒng),不僅攜帶便捷靈活,無任何操作經(jīng)驗(yàn)的人也可快速上2022
05-17微區(qū)XRF在植物環(huán)境中的應(yīng)用
無機(jī)元素含量及其動態(tài)分布特征,可揭示植物樣品生理代謝過程的可能途徑。研究植物根、莖和葉樣品表面的元素微區(qū)分布特征還可以指示生態(tài)環(huán)境系統(tǒng)中有害元素的來源及遷移途徑,為進(jìn)一步加工處理以降低其有害元素含量提供依據(jù)。微區(qū)元素分析元素微區(qū)分析目前已廣泛應(yīng)用于植物環(huán)境、礦物分析、表面材料和文物考古等諸多方面。主要方法有微區(qū)X射線熒光(Micro-XRF)、X射線熒光顯微分析(XFM)、帶電粒子誘發(fā)X射線熒光分析(PIXE)及電子探針分析(EPMA)等。其中,微區(qū)XRF技術(shù)具有樣品無需復(fù)雜前處理、適用較大微區(qū)2022
05-11電子順磁共振波譜儀(EPR)應(yīng)用丨石英表面反應(yīng)性
石英是地殼中分布較廣的礦物之一,而且在地表環(huán)境中分布相當(dāng)廣泛。石英-水界面作用對天然水體中金屬離子的遷移轉(zhuǎn)化、成礦熱液中成礦元素的遷移富集和礦物分選工藝等方面起著重要作用。許多研究表明,石英對金屬離子的吸附反應(yīng)可用表面配位模式進(jìn)行擬合。但是,這些宏觀實(shí)驗(yàn)方法不能確定被吸附離子在礦物表面具體的結(jié)合形態(tài),也就是說不能從微觀上確定礦物對金屬離子吸附的反應(yīng)機(jī)理。經(jīng)過深入研究發(fā)現(xiàn),隨著礦物表面離子吸附覆蓋率的改變,金屬粒子的結(jié)合形態(tài)將會發(fā)生相應(yīng)的變化,并且因?yàn)榈V物表面和水溶液的性質(zhì)不同而異,可能會以單核吸2022
04-122022
03-28Bruker Dektak XT臺階儀在半導(dǎo)體芯片中的應(yīng)用
臺階儀(探針式輪廓儀)通過記錄探針在物體表面的垂直位移,從而達(dá)到測量物體表面臺階高度、粗糙度等物理參數(shù)的目的。主要用于薄膜材料厚度(2D)測量和表面形貌測量(3D)。臺階儀可獲得定量的臺階高度、線粗糙度、薄膜曲率半徑,測量薄膜應(yīng)力等。BrukerDektakXT臺階儀由于其操作簡單、分辨率高及重復(fù)性良好等優(yōu)點(diǎn),被廣泛用于半導(dǎo)體、微電子、太陽能、LED、觸摸屏、醫(yī)療等領(lǐng)域。BrukerDektakXT臺階儀有以下特點(diǎn):高度方向采用的LVDT線性位移傳感器,該傳感器因其結(jié)構(gòu)為無接觸式,使其具有無摩擦以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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