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6當(dāng)前位置：上海騏銳信息科技有限公司>>技術(shù)文章展示
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當(dāng)前位置：上海騏銳信息科技有限公司>>技術(shù)文章展示
2023
10-312023
10-17QWED FPOR開放式諧振器可以實(shí)現(xiàn)高度定制化的極化模式
在現(xiàn)代通信和電子行業(yè)中，射頻（RF）技術(shù)的發(fā)展扮演著至關(guān)重要的角色。為了滿足不斷增長的需求，研究人員一直在努力尋找更高效、更可靠的射頻解決方案。其中一個(gè)備受關(guān)注的技術(shù)是QWEDFPOR開放式諧振器，它以其特別的設(shè)計(jì)和優(yōu)異的性能帶領(lǐng)著射頻技術(shù)的創(chuàng)新之路。QWEDFPOR是一種開放式諧振器，其基于分形幾何學(xué)的原理進(jìn)行設(shè)計(jì)。分形是一種自相似的結(jié)構(gòu)，具有多個(gè)尺度上的重復(fù)性，這使得QWEDFPOR能夠?qū)崿F(xiàn)廣泛的頻率覆蓋，并且在不同頻段上表現(xiàn)出類似的性能。該諧振器的設(shè)計(jì)靈感來自于大自然中的分形結(jié)構(gòu)，如蕨類植2023
10-09PCB電路板介電常數(shù)測試：關(guān)鍵步驟與應(yīng)用
在現(xiàn)代電子設(shè)備的制造過程中，印刷電路板（PrintedCircuitBoard，PCB）的設(shè)計(jì)和制作起著至關(guān)重要的作用。為了確保PCB的性能和可靠性，其中一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)是介電常數(shù)。介電常數(shù)是材料對(duì)電磁場的響應(yīng)能力，它決定了電路板上信號(hào)傳輸?shù)乃俣群头€(wěn)定性。因此，進(jìn)行PCB電路板介電常數(shù)測試至關(guān)重要。PCB電路板介電常數(shù)測試旨在確定PCB材料的有效介電常數(shù)，以便在設(shè)計(jì)和制造過程中做出準(zhǔn)確的補(bǔ)償和優(yōu)化。下面是主要的測試步驟：1.選擇適當(dāng)?shù)臏y試方法：常見的PCB介電常數(shù)測試方法包括回波法、變壓器法和諧振法2023
09-052023
08-072023
07-26原子層沉積系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)有哪些？
原子層沉積(AtomicLayerDeposition，ALD)，也稱為原子層外延(AtomicLayerEpitaxy，ALE)，或原子層化學(xué)氣相沉積(AtomicLayerChemicalVaporDeposition，ALCVD)。原子層沉積是在一個(gè)加熱反應(yīng)的襯底上連續(xù)引入至少兩種氣相前驅(qū)體源，化學(xué)吸附至表面飽和時(shí)自動(dòng)終止，適當(dāng)?shù)倪^程溫度阻礙了分子在表面的物理吸附。一個(gè)基本的原子層沉積循環(huán)包括四個(gè)步驟：脈沖A，清洗A，脈沖B和清洗B。沉積循環(huán)不斷重復(fù)直至獲得所需的薄膜厚度，是制作納米結(jié)構(gòu)從2023
06-262023
05-19快速退火爐的應(yīng)用領(lǐng)域及設(shè)備說明
應(yīng)用領(lǐng)域：1.快速熱處理(RTP)，快速退火(RTA)，快速熱氧化(RTO)，快速熱氮化(RTN)；2.離子注入/接觸退火；3.金屬合金；4.熱氧化處理；5.化合物合金(砷化鎵、氮化物等)；6.多晶硅退火；7.太陽能電池片退火；8.高溫退火；9.高溫?cái)U(kuò)散。設(shè)備說明：快速退火爐主要由真空腔室、加熱室、進(jìn)氣系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、氣冷系統(tǒng)、水冷系統(tǒng)等幾部分組成。真空腔室：真空腔室是快速退火爐的工作空間，晶圓在這里進(jìn)行快速熱處理。加熱室：加熱室以多個(gè)紅外燈管為加熱元件，以耐高溫合金為框架、高純石2023
05-12正確使用16453A介電材料測試夾具才能真正的發(fā)揮出他的作用
作為一種常用的測試工具，16453A介電材料測試夾具在電氣性能測量中扮演著重要的角色。通過正確地使用這種測試夾具，可以有效地提高測試準(zhǔn)確度和效率。本文將介紹幾個(gè)常見的使用小技巧，以便更好地利用它。首先，正確選擇測試夾具的電極間距和電極形狀非常關(guān)鍵。不同類型的樣品可能需要不同的電極間距和形狀來提供準(zhǔn)確的測試結(jié)果。在選擇電極間距時(shí)，應(yīng)根據(jù)被測物質(zhì)的厚度和尺寸來確定。如果電極間距太小，則可能導(dǎo)致電流過載或局部放電，從而影響測試結(jié)果。另一方面，如果電極間距太大，則可能導(dǎo)致信號(hào)損失和測試不準(zhǔn)確。此外，應(yīng)選2023
05-062023
04-17挑戰(zhàn)極限，探索高溫霍爾效應(yīng)測試儀的電學(xué)奧秘
高溫霍爾效應(yīng)測試儀是一種先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，用于研究材料的電學(xué)特性。這種測試儀可以測量材料的霍爾電阻率、霍爾電流和霍爾電場強(qiáng)度等參數(shù)，以及在高溫環(huán)境下的電學(xué)性能?；诨魻栃?yīng)，即當(dāng)一個(gè)電流通過垂直于材料表面的磁場時(shí)，材料中會(huì)出現(xiàn)橫向電場。這個(gè)橫向電場與電流方向垂直且與磁場方向成比例。通過測量這個(gè)橫向電場和電流的比值，可以得到材料的霍爾電阻率。高溫霍爾效應(yīng)測試儀的主要特點(diǎn)是可以在高溫環(huán)境下進(jìn)行測試。這種設(shè)備通常具有加熱控制功能，可以將樣品加熱到高溫狀態(tài)。在高溫條件下測試材料的電學(xué)性能可以更好地模擬現(xiàn)實(shí)2023
04-132023
04-10對(duì)于表面電阻率電導(dǎo)率測試的方法與應(yīng)用
在工業(yè)生產(chǎn)、科研實(shí)驗(yàn)或質(zhì)量檢驗(yàn)中，表面電阻率和電導(dǎo)率是兩個(gè)重要的物理量。表面電阻率常用于評(píng)估材料表面的導(dǎo)電性能，例如用于制造電子元器件和半導(dǎo)體器件；而電導(dǎo)率則可以反映材料的導(dǎo)電能力，通常用于分析接地系統(tǒng)、電纜線路、金屬其他導(dǎo)電材料等的性能。為了準(zhǔn)確測量材料表面的電阻率和電導(dǎo)率，在具體的表面電阻率電導(dǎo)率測試過程中需要選擇合適的儀器和方法，并根據(jù)不同的實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)整和改進(jìn)。下面將介紹一些常見的表面電阻率和電導(dǎo)率測試方法：1.四點(diǎn)探針法四點(diǎn)探針法是常用的表面電阻率測試方法之一。該方法通過在材料表面放2023
03-222023
03-16太赫茲介電材料測試系統(tǒng)具有廣泛的應(yīng)用前景和研究價(jià)值
太赫茲介電材料測試系統(tǒng)是一種能夠測定材料在超高頻電磁波下的電特性和介電性質(zhì)的測試系統(tǒng)。它可以用于研究和開發(fā)新型高頻電子元器件和高頻材料，對(duì)材料的電波特性和線性性能進(jìn)行測試，是理論模型研究和實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)的重要手段之一。利用太赫茲頻段的電磁波，通過材料的透射、反射、散射等現(xiàn)象，獲取材料的電特性參數(shù)。其測試范圍包括復(fù)介電常數(shù)、介電弛豫時(shí)間、電阻率、磁導(dǎo)率等參數(shù)，非常適合于材料物性研究和開發(fā)。太赫茲介電材料測試系統(tǒng)的核心是太赫茲光譜儀，它能夠在太赫茲頻段（0.1-10THz）內(nèi)收集數(shù)據(jù)，并通過計(jì)算復(fù)介電常數(shù)2023
03-07如何驗(yàn)證開放式諧振器性能的好壞？又該怎么運(yùn)用好它
要驗(yàn)證開放式諧振器的性能好壞，可以使用儀器進(jìn)行測量和分析。以下是一些可以用來評(píng)估開放式諧振器性能的重要指標(biāo)：1.頻率穩(wěn)定度：如果開放式諧振器的頻率變化較小，則其性能較為穩(wěn)定。2.帶寬：開放式諧振器能夠使用的頻率范圍，可以通過調(diào)整其長度和/或直徑來變化。3.Q因數(shù)：這個(gè)數(shù)字是衡量開放式諧振器的損耗的，Q因數(shù)越高，能量傳輸?shù)男室簿驮礁摺?.線性度：這個(gè)因素也稱為插入損耗。如果線性度很高，那么諧振器的性能會(huì)更好，能夠傳輸更多的能量。一般來說，要運(yùn)用好開放式諧振器，需要首先確保其性能與應(yīng)用要求相符。一2023
02-202023
02-16全自動(dòng)變溫霍爾效應(yīng)測試儀在實(shí)驗(yàn)中起到了什么作用？
全自動(dòng)變溫霍爾效應(yīng)測試儀是表征半導(dǎo)體材料的基本工具。結(jié)合相關(guān)材料電阻率測量，霍爾效應(yīng)分析測量方法確定一個(gè)重要的半導(dǎo)體復(fù)合材料質(zhì)量特性，例如電荷載流子極性、電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率?；魻栃?yīng)進(jìn)行電壓通過測量的挑戰(zhàn)主要在于它們的量非常小，例如微伏，甚至可以更低。如果半導(dǎo)體材料具有高電阻率和/或低載流子遷移率，在這些低電壓下，電平誤差項(xiàng)可能具有重要的數(shù)量級(jí)，影響測量的霍爾電壓。對(duì)于霍爾效應(yīng)進(jìn)行測量，誤差項(xiàng)來自中國多個(gè)數(shù)據(jù)來源，包括與樣品組織結(jié)構(gòu)和樣品幾何形狀設(shè)計(jì)相關(guān)的誤差、金屬連接中的固有誤差2023
02-152023
01-31掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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