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2023
08-142023
08-112023
08-02場發(fā)射掃描電子顯微鏡可用于觀察哪些材料或結(jié)構(gòu)?
場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種強大的工具,可用于觀察各種材料和結(jié)構(gòu)。它利用高能電子束與樣品相互作用的原理來生成顯微圖像。以下是場發(fā)射掃描電子顯微鏡可用于觀察的一些常見材料或結(jié)構(gòu):1、金屬:可用于觀察金屬的晶體結(jié)構(gòu)、表面形貌和成分分布。它可以揭示金屬中的缺陷、晶界和相界,以及金屬合金中的相分離和相變現(xiàn)象。2、半導體:對于研究半導體材料的微觀結(jié)構(gòu)非常有用。它可以檢測和表征半導體器件中的納米尺度特征,如晶體生長缺陷、摻雜劑分布和金屬線路的形態(tài)。3、陶瓷和玻璃:可用于觀察陶瓷和玻璃材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面特征。2023
07-122023
07-122023
07-122023
07-04FEI Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡技術(shù)上有哪些特點?
聚焦離子束掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)(以下簡稱雙束電子顯微鏡)是指同時具備聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的系統(tǒng)。就是把FIB系統(tǒng)和傳統(tǒng)掃描電子顯微系統(tǒng)按一定的角度同時裝在一個裝置上,把試樣調(diào)節(jié)到共心高度位置。這就使得試驗時可通過轉(zhuǎn)動試樣臺使試樣表面與電子束或者離子束垂直,從而最終達到對電子束進行實時觀測和對離子束進行切割或者微加工等效果。FEISciosDualBeam雙束電子顯微鏡是一款超高分辨率DualBeam™分析系統(tǒng),能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能2023
07-032023
06-132023
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