LQ-50X-高靈敏電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng)
2025-05-26
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- 產(chǎn) 地:
- 暫無(wú)
- 所在地區(qū):
- 中國(guó)臺(tái)灣高雄市
光焱科技 LQ-50X 高靈敏電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 介紹
目前 LED 發(fā)展所面臨的挑戰(zhàn)包含:
(1) 新型態(tài)的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰減快的特性
(2) 發(fā)光半寬(FWHM)較傳統(tǒng) LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布,使得輝度 (cd/m2) 換算 EQE 時(shí)誤差很大
(4) 發(fā)光波長(zhǎng)超過(guò)視函數(shù)波段 (可見(jiàn)光范圍),無(wú)法以光通量與輝度評(píng)價(jià)
其中「衰減快」與「紅外發(fā)光的準(zhǔn)確評(píng)價(jià)」,是與轉(zhuǎn)換效率高低最息息相關(guān),因此光焱科技推出 LQ-50X,采用單光子偵測(cè)技術(shù)、NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件并擁有簡(jiǎn)便的設(shè)計(jì)可與手套箱直接整合。
特色
LQ-50X 高靈敏電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 的特色如下:
*采用單光子偵測(cè)技術(shù),克服傳統(tǒng)光譜儀在低亮度需要長(zhǎng)曝光時(shí)間 (1~3秒) 的特征,加快測(cè)試速度,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性與高效率。
*采用 NIR 增強(qiáng)光學(xué)設(shè)計(jì)與組件,使其涵蓋波長(zhǎng)可達(dá)到 1100 nm,更可擴(kuò)展到 1700 nm。
*設(shè)計(jì)簡(jiǎn)便,并且可與手套箱直接整合,同時(shí)對(duì)于各種樣品形式都可以做很好的適配。
LQ-50X 可快速測(cè)試每個(gè)電壓下的發(fā)光光譜,并可取得輻照度、輝度、CIE坐標(biāo)等多項(xiàng)參數(shù)值,實(shí)測(cè)無(wú)機(jī) LED 測(cè)試量測(cè)不重復(fù)性小于 0.2 %。
LQ-50X 為 NIST 溯源,與國(guó)外校正的白光與綠光 LED 比對(duì),差異值小于 0.5 %。
規(guī)格
標(biāo)準(zhǔn)配置:
*全向式收光系統(tǒng) (50 mm 積分球)
*增強(qiáng)型多信道光譜儀測(cè)試系統(tǒng)
*探針系統(tǒng)
*量測(cè)軟件
*工控機(jī)與屏幕
選配規(guī)格:
*紅外光譜擴(kuò)充模塊 (900 – 1700 nm)
*手套箱整合套件
應(yīng)用范圍
LQ-50X 高靈敏電致發(fā)光效率測(cè)試系統(tǒng) 可用于:
*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
*Organic IR LED
*QD LED / QD Laser Diode
*VESEL Laser Diode
實(shí)證
量測(cè)結(jié)果總覽
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