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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>其它測厚儀 > SGC-10薄膜測厚儀

SGC-10薄膜測厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 天津港東科技股份有限公司
  • 品牌 港東科技
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2018/4/25 7:33:31
  • 訪問次數(shù) 1374

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天津港東科技股份有限公司(以下簡稱“公司”)成立于1999年,是一家專業(yè)從事物理實驗儀器和現(xiàn)代分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的*(0712004A0996)。天津港東科技股份有限公司下屬有兩家控股子公司,一家分公司。自成立以來,秉承“以品質(zhì)為保證,以自主創(chuàng)新為先導(dǎo),為客戶創(chuàng)造價值”的核心理念,穩(wěn)健經(jīng)營,積極進(jìn)取,逐步邁向業(yè)界的現(xiàn)代化上市公司行列。 港東公司擁有完善的科研創(chuàng)新體系和一大批具有專業(yè)知識和高水平研發(fā)能力的教授、博士、博士后等組成的科研團(tuán)隊,在高等院校物理實驗儀器與現(xiàn)代分析儀器領(lǐng)域的科研創(chuàng)新上取得了矚目成績,擁有眾多知識產(chǎn)權(quán)和,獲得多次多項科技獎以及科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新資金專項撥款。公司擁有激光拉曼光譜儀、橢圓偏振測厚儀、傅里葉變換紅外光譜儀、單光子計數(shù)器等多項自主研發(fā)產(chǎn)品,其中邁克爾遜和法布里-珀羅兩用干涉儀、自動橢圓偏振測厚儀、熱膨脹實驗裝置等獲得國家。傅里葉變換紅外光譜儀、紅外分光光度計、紫外可見分光光度計、熒光分光光度計等均獲國家計量認(rèn)證(計量器具許可證:津制00000544號)。 憑借經(jīng)驗豐富的管理團(tuán)隊、強(qiáng)大的研發(fā)能力以及*的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),港東公司已經(jīng)為國內(nèi)外數(shù)百家高等院校和廣大企業(yè)客戶提供了系統(tǒng)的實驗設(shè)備和現(xiàn)代分析儀器。激光拉曼光譜儀、多功能光柵光譜儀、單光子計數(shù)器等十四項科技產(chǎn)品在“師范教育發(fā)展項目”中中標(biāo),產(chǎn)品在北京大學(xué)、清華大學(xué)、北京師范大學(xué)、浙江大學(xué)、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、中國科技大學(xué)、南京大學(xué)、南開大學(xué)、天津大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)等全國各高等院校及化學(xué)、生化、材料、醫(yī)藥、石油等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用并深受好評,現(xiàn)已遠(yuǎn)銷美國、澳大利亞、印度等國家和地區(qū)。 港東公司擁有完善的管理體系,獲得了ISO9001質(zhì)量管理體系認(rèn)證、CE認(rèn)證,并在公司內(nèi)部實行ERP項目管理制度,從產(chǎn)品開發(fā)、原材料采購、生產(chǎn)流程、質(zhì)量控制、售后服務(wù)等各個環(huán)節(jié)切實提高產(chǎn)品質(zhì)量,滿足國內(nèi)外客戶的不同需要。 港東公司將繼續(xù)致力于我國物理實驗儀器和化學(xué)分析儀器產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,以勤勉、務(wù)實的工作態(tài)度、精干、高效的工作作風(fēng)和*的優(yōu)質(zhì)服務(wù),努力創(chuàng)建成為現(xiàn)代化的企業(yè)。

拉曼光譜儀,紅外分光光度計,熒光分光光度計,紅外光譜儀,光學(xué)平臺,多功能光柵光譜儀

強(qiáng)大的軟件功能:

界面友好,操作簡便,用戶點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,可同時測量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫中包含了大量常規(guī)的材的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫。

 

產(chǎn)品功能適用性:

該儀器適用于多種介質(zhì),半導(dǎo)體,薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。

 

典型的薄膜材料為:

SiO2、CaF2、MgF2、光刻膠、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亞胺、高分子膜。

 

典型的基底材料為:

SiGeGaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍(lán)寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。

儀器具有開放性設(shè)計,儀器的光纖探頭可很方便地取出,通過儀器附帶的光纖適配器(如圖所示)連接到帶C-mount的顯微鏡(顯微鏡需另配),就可以使本測量儀適用于微區(qū)(>10μm,與顯微鏡放大率有關(guān))薄膜厚度的測量。

技術(shù)指標(biāo):

 

名稱

參數(shù)

厚度范圍

20nm-50um(只測膜厚),

100nm-10um(同時測量膜厚和光學(xué)常數(shù)n,k)

根據(jù)薄膜材料的種類,其范圍有所不同。

準(zhǔn)確性

<1nm或<0.5%

重復(fù)性

0.1nm

波長范圍

380nm-1000nm

可測層數(shù)

1-4

樣品尺寸

樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm

測量速度

5s-60s

光斑直徑

1.2mm-10mm可調(diào)

樣品臺

290mm*160mm

光源

長壽命溴鎢燈(2000h)

光纖

純石英寬光譜光纖

探測器

進(jìn)口光纖光譜儀

電源

AC100V-240V,50HZ-60HZ

重量

18kg

尺寸

300mm*300mm*350mm


 



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