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徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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nanatweezer surface 顯微鏡升級改造為細胞納米顆粒表面測試分析系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京容圣科技有限公司
  • 品牌
  • 型號 nanatweezer surface
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2015/8/3 16:21:43
  • 訪問次數(shù) 860

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是一家為生物、醫(yī)藥、食品、化學(xué)、環(huán)境、石化、電子等領(lǐng)域提供實驗儀器、技術(shù)服務(wù)的專業(yè)公司。所謂,公欲善其事,必先利其器,因此公司自成立之日起就致力于將國內(nèi)外的實驗設(shè)備、實驗方案介紹給我們廣大的科研工作者,為成為我國生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的名優(yōu)品牌我們一直在不懈的努力。公司擁有一批掌握現(xiàn)代高科技的經(jīng)銷人員,還有一支訓(xùn)練有素的專業(yè)服務(wù)隊伍,*以來積累了豐富的行業(yè)經(jīng)驗和專業(yè)背景知識,憑借專業(yè)化的團隊和真誠的服務(wù)理念。在產(chǎn)品方面力爭做到:人無我有,人有我優(yōu),以此求得公司的*、穩(wěn)定和持續(xù)的發(fā)展。不斷追求服務(wù)客戶、合作企業(yè),為員工提供良好的學(xué)習(xí)發(fā)展空間,終實現(xiàn)自己壯大和行業(yè)科技進步的雙贏目標(biāo)。

單細胞分析拉曼光譜儀,單細胞分選系統(tǒng),nanotweezer光鑷轉(zhuǎn)換裝置

細胞顆粒表面分析儀測試系統(tǒng) 
利用近場散射光分析納米顆粒表面包覆性能 

背景介紹 
納米顆粒的表面性能是決定其整體功能的?個重要因素,并對膠體及化學(xué)穩(wěn)定性、生物分布、生物學(xué)功能和生物毒性等方面有重要影響。盡管各種納米顆粒在近現(xiàn)代已經(jīng)得到了廣泛的研究和應(yīng)用,但如何在溶液中有效地測量顆粒表面作用力仍是?個挑戰(zhàn),?現(xiàn)有的商用設(shè)備或儀器并不能直觀?有效地達到此項分析目的。 
納米光鑷系統(tǒng)(NanoTweezer)基于以波導(dǎo)為基礎(chǔ)的光學(xué)測量體系,通過監(jiān)測納米粒子與特定波導(dǎo)表面的相互作用來表征納米顆粒表面包覆涂層的機械性能。此方法與吸附?色譜法( Adsorption Chromatography)通過吸附柱中吸附力的大小對物質(zhì)進行化學(xué)分離有一定的相似性。不同的是,我們利用波導(dǎo)表面作用力的大小來對單個納米顆粒進行測量。在此體系中,納米顆粒以流體的形式被輸送?至波導(dǎo)附近,并被波導(dǎo)表面滲透出來的近場光所捕獲,從?增加了顆粒與波導(dǎo)表面的作用時間,足夠?qū)蝹€顆粒進行上千次以上的測量。 
此項基于波導(dǎo)的光學(xué)捕捉和可視化系統(tǒng)可理解為: 
1)納米顆粒被光學(xué)梯度力“鎖”在波導(dǎo)表面。 
2)由于散射力的作用,納米顆粒沿著波導(dǎo)表面移動。 
3)由于納米顆粒存在于消逝場中,其表面的散射光使其在暗場背景中成為?個亮斑。 
4)顯微鏡的?速攝像功能記錄每個納米顆粒的亮度和位置。 
5)在納米顆粒與波導(dǎo)相互作用的過程中,其位置和亮度被多次測量,得到上千組數(shù)據(jù)。


圖1. 納米顆粒會在表面斥力和光學(xué)捕捉力形成的平衡?度附近做布朗運動,即處于勢阱的底部。 
勢阱 
被捕捉在納米光鑷(NanoTweezer)波導(dǎo)表面的納米顆??杀恍稳轂樘幱?個勢阱當(dāng)中。該勢阱由表 
面排斥力和光的捕捉力構(gòu)成。納米顆粒喜歡處于勢阱底部(波導(dǎo)表面上方?個特定的?度),并在此位置周圍做布朗運動,如圖1 所示。如果光的捕獲力不足,該粒子就會逃離勢阱。此勢阱可通過分析納米顆粒的位置(?度)隨時間的變化計算得出,其形狀揭示了光學(xué)梯度力和表面作用力兩者的特性。 
在此系統(tǒng)中,我們利用已知的波導(dǎo)表面消逝場的衰減指數(shù)來完成勢阱分析。當(dāng)納米顆粒在平衡位置周 
圍振動,顯微鏡可利用其?速攝像功能對顆粒的位置和亮度進行記錄。亮點表示粒子距離波導(dǎo)表面更近(被捕捉在消逝場更深的位置),而暗點則表示粒子處于距離波導(dǎo)更遠的位置。在2-4 秒的時間內(nèi),系統(tǒng)可進行數(shù)千次的測量,從而計算出平滑的勢阱曲線。隨后,在勢阱曲線中減去已知的光學(xué)梯度力的曲線,從而得到納米顆粒與波導(dǎo)表面作用力的曲線。每次測量會對幾百個顆粒進行表面分析,選取其中10 個納米粒子的分析結(jié)果作圖,所得到的作用力曲線如圖2 所示。 

圖2. 通過分析單個粒子在勢阱中不同位置的亮度得到其表面性能曲線
規(guī)格參數(shù) 

主要功能及優(yōu)勢

  1. 把界面作用力作為?個整體進行分析
  2. 對單個納米粒子進行測量
  3. 在納米粒子自身環(huán)境下(溶液中)對其進行檢測
  4. 可定制波導(dǎo)/納米顆粒表面性能
  5. 高測量靈敏度(Piconewton Range)

測量模型 
對波導(dǎo)表面捕獲的單個納米顆粒散射光強度進行測量和分析可以得到粒子與波導(dǎo)表面的作用力信息,此信息與粒子本身的大小或光學(xué)性能無關(guān)。消逝場動態(tài)光散射理論是本套系統(tǒng)的基礎(chǔ),該理論也被應(yīng)

用于全內(nèi)反射顯微鏡中用來研究粒子-表面相互作用。
在此模型中,被捕獲粒子由于熱力學(xué)作用會在平衡?度附近振動,?此平衡位置是由該粒子與波導(dǎo)表面相互作用的吸引力與排斥力共同決定的。顯微鏡的?速攝像機(>500
fps)可以記錄下納米粒子在每個位置的散射光強度,并把得到的數(shù)據(jù)做成直方圖(如圖3a 所示)。根據(jù)已知的波導(dǎo)表面消逝場指數(shù)衰減強度函數(shù),納米粒子離波導(dǎo)表面的距離可用如下公式計算得出:

其中h 代表粒子距離波導(dǎo)表面的瞬時距離,ho 代表平衡?度(出現(xiàn)頻率zui?的?度),I 代表粒子瞬時散射光強度,Io 代表平衡?度對應(yīng)的粒子散射光強度,d 代表波導(dǎo)表面消逝場的衰減波長(由波導(dǎo)和周圍介質(zhì)的材料參數(shù)計算得出)。根據(jù)玻爾茲曼統(tǒng)計,某狀態(tài)下的勢能與其觀測到的占有率呈反相關(guān)。于是我們可以設(shè)定出現(xiàn)頻率zui高的?度對應(yīng)勢能的zui低值,并可利用如下公式由直方圖計算得出勢能曲線(如圖3b 所示):

其中V(h) 代表距離波導(dǎo)表面高度為h 處的勢能,kB 代表玻爾茲曼常數(shù),T 代表溫度,N[I(h)] 代表高度為h 處光強直方圖所對應(yīng)的頻率。消逝場中粒子的光能部分為 Eoptical=A*exp(-λh),其中A 為常數(shù),h 代表粒子距離波導(dǎo)表面的距離,λ 代表衰減速率。在勢能曲線中減去光能曲線就能得到粒子表面作用能曲線,如圖3c 所示。該表面能-高度曲線的形狀取決于納米粒子與波導(dǎo)表面存在的表面作用力的類別及其強度。更重要的是,由于我們在勢能曲線中減去了光能的部分,所以剩下的表面能曲線與納米粒子的大小及折射率引起的光學(xué)效應(yīng)無關(guān)?;谝陨侠碚?,我們可以對波導(dǎo)表面進行修飾,從?對特定的納米粒子-波導(dǎo)表面相互作用力進行分析。

NanoTweezer Publications

NanoTweezer technology has enabled researchers to make numerous advancements in nanoparticle systems, with resulting publications appearing in a wide range of journals including Nature, Nano Letters, Lab-on-a-Chip and others. ?Provided below is a partial list.


Nanoparticle Surface Measurement

  • ?Schein, P., Kang, P., O’Dell, D., Erickson, D., “Nanophotonic Force Microscopy: Characterizing Particle-Surface Interactions Using Near-field Photonics” Nano Letters 15(2), 1414-1420 (2015).

Schein, P., Ashcroft, C.K., O’Dell, D., Adam, I.S., DiPaolo, B., Sabharwal, M., Shi, Ce., Hart, R., Earhart, C., Erickson, D., "Near-field Light Scattering Techniques for Measuring Nanoparticle-Surface Interaction Forces" Under Review (2015)

Nanoparticle Raman Measurement

  • Kong, L., Lee, C., Earhart, C.M., Cordovez, B., Chan, J.W. “A nanotweezer system for evanescent wave excited surface enhanced Raman spectroscopy (SERS) of single nanoparticles” Optics Express 23(5), 6793-6802 (2015).


Nanoparticle Receptor-Ligand Binding

  • Kang, P., Schein, P., Serey, X., O’Dell, D., Erickson, D., “Nanophotonic detection of freely interacting molecules on a single influenza virus” Under Review (2015)


  • O’Dell, D., Serey, X., Kang, P., Erickson, D., “Localized Opto-Mechanical Control of Protein Adsorption onto Carbon Nanotubes” Scientific Reports 4, 6706 (2014).


  • Serey, X., Mandal, S., Chen, Y.-F., Erickson, D., “DNA Delivery and Transport in Thermal gradients near optofluidic resonators” Physical Review Letters 108, 048102 (2012).??

?

Nanomanipulation and Directed Assembly

  • O’Dell, D., Serey, X., Erickson, D., “Self-assembled photonic-plasmonic nanotweezers for directed self-assembly of hybrid nanostructures” Applied Physics Letters, 104, 043112 (2014).


  • Coffey, V. "The Tiniest Traps: Optical Manipulation Gets Smaller" Optics and Photonics News, 24(4), 24-31 (2013)


  • Kang, P., Serey, X., Chen, Y.-F., Erickson, D., “Angular Orientation of Nanorods using Nanophotonic Tweezers” Nano Letters 12, 6400-6407 (2012).?


  • Chen Y.-F., Serey, X., Sarkar, R., Chen, P., Erickson, D., “Controlled photonic manipulation of proteins and other nanomaterials”?Nano Letters 12 (3), 1633-1637 (2012).


  • Erickson, D., Serey, X., Chen, Y.-F., Mandal, S., “Review: Nanomanipulation using Near Field Photonics” Lab-on-a-Chip, 11, 995-1009 (2011)


  • Mandal, S., Serey, X., Erickson, D., “Nanomanipulation using Silicon Photonic Crystal Resonators” Nano Letters 10, 99-104 (2010).


  • Yang, A.H.J., Moore, S.D., Schmidt, B.S, Klug, M., Lipson, M., Erickson, D., “Optical Manipulation of Nanoparticles and Biomolecules in Sub-Wavelength Slot Waveguides”?Nature?457, 71-75 (2009).






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