FT9500X射線熒光鍍層厚度測量?系統(tǒng)為X射線聚焦光學(xué)系統(tǒng)（聚焦導(dǎo)管）與X射線源相結(jié)合，并且可以照射出實際照射直徑為0.1mmφ以下高強(qiáng)度的X射線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強(qiáng)度不足而無法得到理想精度的導(dǎo)線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測量。同時搭載高計數(shù)率、高分辨率的半導(dǎo)體檢測器，在測量鍍層厚度的同時，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規(guī)所管制的有害物質(zhì)進(jìn)行分析測量。
FT9500X射線熒光鍍層厚度測量?系統(tǒng)特長
1.X射線發(fā)生系統(tǒng)采用了聚光導(dǎo)管由于采用了X射線聚光導(dǎo)管方式，可得到以往十倍以上的X射線強(qiáng)度，從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質(zhì)測量的精度。
2.無需液氮的半導(dǎo)體檢測器在進(jìn)行薄膜測量與有害物質(zhì)的濃度測量時，高分辨率的檢測器是*的。SFT9500的檢測器不但可以達(dá)到高分辨率，而且可以實現(xiàn)高計數(shù)率。同時，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。
3.能譜匹配軟件（選配件）可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分有效。
4.塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析）（選配件）可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。
5.繪圖軟件（選配件）將元素面分析的結(jié)果進(jìn)行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。
6.電鍍液容器（選配件）
7.各種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（選配件）
［主要產(chǎn)品規(guī)格］
可測量元素原子序數(shù)13(Al)～83(Bi)
X射線聚光聚光方式X射線源
管電壓50kV
管電流1mA
檢測器Vortex®檢測器(無需液氮)
分析范圍Φ0.1mm、Φ5mm
樣品觀察彩色CCD攝像頭（附變焦功能）
濾波器3種模式自動切換
樣品平臺175(W)×240(D)mm
移動量X：220mmY：150mmZ：150mm
載重量10kg
重量123kg(不含電腦)
X-rayStation臺式電腦19"LCD(OS;Microsoft-WindowsXP®)
膜厚測量軟件薄膜FP法（多五層，各層十種元素）
檢量線法（單層、雙層、合金膜厚成分）
定量分析功能塊體FP法
統(tǒng)計處理功能Microsoft-EXCEL
報告制作Microsoft-WORD
安裝環(huán)境溫度：10℃～35℃(±)5℃
濕度：35%～80%
使用電源接地三頭插座AC100、15A