X射線衍射儀-XRD測(cè)試需求-分析服務(wù)

1.儀器設(shè)備簡(jiǎn)介

Bruker D8 Advance采用當(dāng)前的技術(shù)，能夠準(zhǔn)確地對(duì)金屬和非金屬多晶樣品進(jìn)行物相定性、定量分析。儀器應(yīng)包括長(zhǎng)壽命X射線光管、高精度測(cè)角儀、能量色散探測(cè)器以及相關(guān)外圍設(shè)備。設(shè)備總價(jià)14萬美元。

采用新一代陶瓷X光管技術(shù)，焦斑位置穩(wěn)定，衰減小，壽命長(zhǎng)，尺寸標(biāo)準(zhǔn)；采用封閉靶技術(shù)，后期維護(hù)方便；新一代林克斯XE探測(cè)器，分辨率比上一代提升一個(gè)數(shù)量級(jí)。

送樣須知:

1.粉末樣品樣品量至少50mg（密度大的樣品測(cè)試XRD請(qǐng)適量增加樣品量)，粒度<320目，用手搓起來無明顯顆粒感；

2.塊體樣品需滿足表面平整，尺寸大約3*3*1cm及以內(nèi)；

3.塊體/薄膜樣品請(qǐng)注明測(cè)試面；

4.較薄的薄膜/涂層樣品請(qǐng)慎重選擇廣角XRD；

5.微區(qū)XRD樣品需標(biāo)記待測(cè)點(diǎn)，束斑小為0.1mm，樣品高度不應(yīng)超過8mm，待測(cè)面應(yīng)平整光滑。