美國APT開爾文探針及探針夾具（現(xiàn)貨）

APT開爾文探針適用于四線法測(cè)試，以減小線阻和接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響，提供小電阻的測(cè)試準(zhǔn)確性。另外，一些高頻測(cè)試，比如150M左右，也可以采用這個(gè)。

美國原裝APT探針，主要具備如下特點(diǎn)：

Current leakage:<10 fA.  （漏電精度高）

Frequency: > 150 MHz   （測(cè)試頻率高）

Capacitance (Guarded):<10 fF  

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

此探針需要配合探針座和探開爾文夾具使用。其中，每個(gè)夾具都自帶一根探針。

我司常年有現(xiàn)貨，貨期有保障。下面是一些APT探針的實(shí)物照片供參考。

美國APT開爾文探針及探針夾具（現(xiàn)貨）

優(yōu)測(cè)國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導(dǎo)體和自動(dòng)化設(shè)備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術(shù)企業(yè)。我們集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)于一體，不僅擁有*的生產(chǎn)設(shè)備、加工工藝及品質(zhì)檢測(cè)體系，也擁有涉及材料、物理、化學(xué)、微電子、機(jī)械等專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)?，F(xiàn)在主營的產(chǎn)品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動(dòng)探針臺(tái)、高壓大功率探針臺(tái)、真空高低溫探針臺(tái)，半自動(dòng)探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)等，可以完成I-V/C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、光電器件等測(cè)試。專業(yè)的設(shè)計(jì)人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測(cè)試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺(tái)功能上進(jìn)行延伸拓展來滿足不同客戶的測(cè)試需求。