LET-5000半導(dǎo)體測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導(dǎo)體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。
LET-5000半導(dǎo)體測試系統(tǒng)能在2200V（可擴(kuò)展為8000V）和1000A （可擴(kuò)展為6000A）的條件下實(shí)現(xiàn)精確測量、分析功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù)。
LET-5000具有快脈沖能力，并具有優(yōu)異的寬電壓和電流測量能力。
這些功能能夠?qū)ζ骷ɡ?/span> IGBT）和新型材料（例如 GaN 和 SiC）進(jìn)行測量，可以測試器件包括：MOSFET、IGBT、二極管、三極管、JET、HEMT、光耦等。  
LET-5000由多個(gè)獨(dú)立的高精度源組成，每個(gè)功率源模塊上配備兩個(gè)獨(dú)立的模數(shù)(AD)轉(zhuǎn)換器支持2µs采樣率，每個(gè)模塊上的驅(qū)動能夠獨(dú)立精確控制，對有可能影響器件特性的關(guān)鍵計(jì)時(shí)進(jìn)行精確監(jiān)測。具有高電壓和大電流特性、μΩ級導(dǎo)通電阻精確測量、漏電流測量能力等特點(diǎn)，支持高壓模式下功率器件結(jié)電容測試，如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。