目錄:濟(jì)南三泉中石實驗儀器有限公司>>紙張紙包裝檢測儀器>>紙張紙板測厚儀>> CHY-HS臺式數(shù)顯測厚儀
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,生物產(chǎn)業(yè),包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥 |
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測厚儀CHY-HS適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測量，分辨率達(dá)0.1μm，廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。
作為專業(yè)從事包裝檢測儀器的行業(yè)制造商-濟(jì)南三泉中石實驗儀器有限公司，緊跟國家標(biāo)準(zhǔn)的要求，也參與部分國家藥包材標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。利用自身在包裝檢測領(lǐng)域多年的技術(shù)積累和行業(yè)應(yīng)用經(jīng)驗，為標(biāo)準(zhǔn)的制定工作提供數(shù)據(jù)和理論的支持，為國家標(biāo)準(zhǔn)體系的建立添磚加瓦。
測試原理
測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
應(yīng)用范圍
產(chǎn)品名稱 | 適用范圍 |
薄膜 | 用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測量。 |
鋁箔 | 對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度測量。 |
太陽能硅片 | 接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值。 |
紙張 | 通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試。 |
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