光老化測試通常集中在塑料、油漆和涂料等材料上，但電子產(chǎn)品也經(jīng)常受到陽光、熱量和潮濕的破壞。

       這次免費的網(wǎng)絡(luò)研討會中，Q-Lab的技術(shù)團隊將介紹國際電工委員會（IEC）采用的測試電子產(chǎn)品常見方法，特別是IEC60068-2-5（太陽輻射測試和光老化測試標(biāo)準(zhǔn)）。

       日期：2021年6月23日（周三）

       時間：上午10:00

       參與方式：掃描下方二維碼即可注冊網(wǎng)絡(luò)研討會！注冊成功后，您將收到系統(tǒng)發(fā)出的注冊成功郵件，郵件里有參會鏈接，6月23日（周三）當(dāng)天上午9:45后，可點擊鏈接進(jìn)入會場。期待您的參與！

研討會安排：

       •電子測試標(biāo)準(zhǔn)的背景

       •測試條件和參數(shù)

       •樣品安裝指南

       •關(guān)鍵測試"定制"流程，用于滿足電子行業(yè)規(guī)范

       備注：即使您不能參加參加，只要注冊了我們的研討會，后續(xù)會有課件和錄音可以下載。

       羅中科技是美國Q-Lab的資深授權(quán)代理商，如您需要詳細(xì)了解研討會詳情和其他任何問題，您可以直接聯(lián)系你的銷售顧問或和我們聯(lián)系。