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今天讓我們一起來了解一下紅外顯微鏡的工作原理及測量方式，話不多說下面就讓我們進(jìn)入正題吧。
一、工作原理
樣品放置在紅外顯微鏡的載物臺上，光譜儀產(chǎn)生光束射向并聚焦到待測樣品，可以進(jìn)行上下高度的光路聚焦。通過調(diào)節(jié)載物臺X軸和Y軸以及調(diào)節(jié)光柵，可以確定測試的樣品以及樣品中不同的微區(qū)。
紅外顯微鏡檢測器測量出顆粒的光譜反射光束，從而對樣品進(jìn)行點、線、面的分子水平的掃描，可以快速、自動獲得大量的紅外光譜圖，并把測量點的坐標(biāo)與對應(yīng)的紅外光譜同時存入計算機。
經(jīng)過一定的數(shù)據(jù)處理便得到不同化學(xué)官能團及化合物在微區(qū)分布的三維立體圖或平面圖，并以彩色圖像的形式顯示在屏幕上。不同顏色代表該區(qū)域某一基團的吸光度不同。
通過成分圖像分析，可以獲得樣品的空間分辨紅外譜圖和某一微小區(qū)域內(nèi)成分圖像，從而可以分析樣品在各掃描微區(qū)的組分及結(jié)構(gòu)特征，因此可以表征樣品的結(jié)構(gòu)、官能團的空間分布及其變化等。
二、測量方式
紅外顯微鏡按其光路系統(tǒng)的差異，一般分為非同軸光路紅外顯微鏡和同軸光路紅外顯微鏡兩大類。非同軸光路紅外顯微鏡是較早推出使用的一類紅外顯微鏡，具有透射式和反射式兩種操作功能。同軸光路紅外顯微鏡是另一類紅外顯微鏡，也具有透射式和反射式兩種操作模式。也可以采用衰減全反射模式，它采用的是硅晶體。
根據(jù)紅外顯微鏡所測樣品的形態(tài)、性質(zhì)和測試要求，可以選擇透射、反射、衰減全反射三種測試模式。透射模式是測定樣品的主要方法，可提供好的信噪比，適應(yīng)于測試透光性較好的樣品，如厚度小于20μm的薄膜、固體切片;
反射模式是效率較高的一種測試方法，適應(yīng)于測定背景比較光亮、光反射較強的樣品，如微小顆粒樣片;衰減全反射模式，在某些情況下是不可少的一種測量方法，適應(yīng)于測定需進(jìn)行表面成分或表面污染物分析的樣品。
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