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Femto TEM B超快透射電子顯微鏡解決方案采用飛秒級(jí)激光激發(fā)陰極電子束，并同時(shí)采用飛秒激光泵浦樣品，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的超快表征。
該解決方案結(jié)合了飛秒激光的飛秒時(shí)間分辨率和透射電子顯微鏡的原子空間分辨率，可進(jìn)行超高時(shí)間和空間分辨的成像、微區(qū)衍射以及能譜分析，可廣泛應(yīng)用于超高時(shí)空分辨的物質(zhì)原子結(jié)構(gòu)演變、化學(xué)價(jià)態(tài)變化、電荷轉(zhuǎn)移、電-聲子相互作用、電-光子相互作用等動(dòng)力學(xué)研究。
該解決方案結(jié)合了飛秒激光的飛秒時(shí)間分辨率和透射電子顯微鏡的原子空間分辨率，可進(jìn)行超高時(shí)間和空間分辨的成像、微區(qū)衍射以及能譜分析，可廣泛應(yīng)用于超高時(shí)空分辨的物質(zhì)原子結(jié)構(gòu)演變、化學(xué)價(jià)態(tài)變化、電荷轉(zhuǎn)移、電-聲子相互作用、電-光子相互作用等動(dòng)力學(xué)研究。
超快TEM解決方案應(yīng)用：
• Low-damage/Low-dose電子顯微鏡
– CryoEM
– LDA研究，生物大分子
– 超敏感分子的特性研究
– 蛋白質(zhì)
– 納米工程結(jié)構(gòu)分析
• 室溫Low-damage顯微鏡
– 提高有機(jī)材料表征時(shí)的總電子劑量
– 直流束流的晶體衰落值增加2倍(紅色箭頭)
• 電子全息技術(shù)
• 電子三維重構(gòu)
• 時(shí)間分辨顯微鏡
– 泵浦探針頻閃顯微鏡(射頻泵浦，束流探頭)
– 在射頻激勵(lì)下確定MEM器件中的電場特性
1. 磁性和等離子設(shè)備的自旋電子學(xué)
2. NEMS / MEMS高頻設(shè)備
超快TEM解決方案技術(shù)參數(shù)：
•能量范圍：100 keV至300 keV
• 電子束頻閃率：200kHz~25MHz(光激發(fā))
• 電子脈沖長度：300fs(光激發(fā))
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