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原位加熱加電樣TKD品臺(tái)可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內(nèi)進(jìn)行原位加熱和/或電學(xué)實(shí)驗(yàn)。 特別是對于 TEM 用戶，該平臺(tái)允許用戶在 SEM 內(nèi)進(jìn)行相對快速的初步原位樣品表征，以便為進(jìn)一步的TEM 實(shí)驗(yàn)開發(fā)工作流程，從而節(jié)省寶貴的 TEM 時(shí)間，提高高效的解決方案。
技術(shù)參數(shù)：
1. *電極數(shù)：8電極(可同時(shí)加熱和加電)
2. *金屬加熱絲，非陶瓷材料，升溫降溫速度快，即是熱導(dǎo)材料，又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系。金屬加熱絲是被SiN包裹，不與樣品發(fā)生反應(yīng)。
3. *溫度范圍：高溫芯片：室溫到1100℃，超高溫芯片：室溫到 1300℃，熱電一體芯片：室溫到 900℃。
4. *溫度穩(wěn)定性：加熱到 1300℃時(shí)，只有 < 0.01℃的溫度變化
5. *加熱控制方式：四電極法閉合回路控制和反饋環(huán)境溫度
6. *最高電場：300kV/cm(室溫-900℃)
7. *最高工作電壓： 150V(室溫-900℃)
8. 最小的檢測電流：pA范圍
9. 溫度精確度：≥95%
10. 溫度均勻度：≥99.5%
原位加熱加電樣TKD品臺(tái)工作原理：在掃描電鏡中對樣品加熱在許多材料科學(xué)研究中已經(jīng)成了一項(xiàng)的手段，使用掃描電鏡原位加熱臺(tái)可以進(jìn)行動(dòng)態(tài)地觀察溫度變化過程中的材料微觀變化及失效分析。如今被廣泛應(yīng)用于金屬材料、液晶檢測、半導(dǎo)體、高分子材料、流體包裹體、生物工程等眾多領(lǐng)域。原位加熱臺(tái)能夠使我們動(dòng)態(tài)地觀察樣品在加熱過程中的相變、再結(jié)晶、晶粒生長與氧化現(xiàn)象。
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