維氏硬度檢測(cè)方法的實(shí)驗(yàn)力小，壓痕小，對(duì)試樣損傷小，維氏硬度檢測(cè)不僅用于產(chǎn)品的工藝檢驗(yàn)還同時(shí)的應(yīng)用到材料科學(xué)與工程的研究中，成為金屬學(xué)、金相學(xué)常用的硬度檢測(cè)方法之一。

使用維氏硬度標(biāo)尺進(jìn)行檢測(cè)時(shí)需注意以下事項(xiàng)：

1. 用于進(jìn)行維氏硬度檢測(cè)的硬度計(jì)和壓頭應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)，例如：GB/T 4340， ISO6507, ASTM E-384, ASTM E-92. 

2. 檢測(cè)時(shí)的環(huán)境溫度應(yīng)控制在10~35℃范圍內(nèi)，特殊要求應(yīng)控制在（23±5）℃內(nèi)。

3. 被檢測(cè)的試樣表面應(yīng)平坦光滑。

4. 試樣或檢測(cè)層厚度至少應(yīng)為壓痕對(duì)角線長(zhǎng)度的1.5倍。

5. 用小負(fù)荷和顯微維氏檢測(cè)時(shí)，如試樣特小或不規(guī)則時(shí)，應(yīng)將試樣鑲嵌或用專用夾具夾持后測(cè)試。

6. 在對(duì)試樣進(jìn)行維氏硬度檢測(cè)時(shí)檢測(cè)力的選擇要根據(jù)試樣硬度、厚薄、大小等情況進(jìn)行合理選擇。

7. 檢測(cè)時(shí)從加力開始至全部檢測(cè)力施加完畢的時(shí)間應(yīng)在2~10秒之間， 顯微維氏不大于10秒，維氏在2-8秒。檢測(cè)時(shí)力保持的時(shí)間為10~15s，對(duì)于特別軟的材料保持時(shí)間可以延長(zhǎng)，但誤差應(yīng)在2s之內(nèi)。

8.對(duì)于小負(fù)荷維氏和顯微維氏硬度檢測(cè)，壓頭下降速度在15-70um/s, 維氏應(yīng)不大于0.2um/s。

9. 對(duì)于鋼、銅及銅合金試樣來說，在進(jìn)行維氏硬度檢測(cè)時(shí)壓痕中心至試樣邊緣距離應(yīng)不小于壓痕對(duì)角線長(zhǎng)度的2.5倍，輕金屬、鉛、錫及其合金至少應(yīng)為壓痕對(duì)角線的3倍以上。

10.兩相鄰壓痕中心之間距離，對(duì)于鋼、銅及銅合金至少應(yīng)為壓痕對(duì)角線的3倍，對(duì)于輕金屬、鉛、錫及其合金至少應(yīng)為壓痕對(duì)角線長(zhǎng)度的6倍。

11. 在平面上壓痕兩對(duì)角線長(zhǎng)度之差不應(yīng)超過對(duì)角線平均長(zhǎng)度的5%，如果超出請(qǐng)?jiān)跈z測(cè)報(bào)告中注明。

12. 在曲面度樣上檢測(cè)，其結(jié)果應(yīng)參照標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行曲面修正。