XRF是測量鍍層厚度的有效技術(shù)。該方法具有非破壞性、快速測量和操作簡便的特點，能夠提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果，適用于超薄鍍層的微小特征測量。作為精密儀器，XRF分析儀需要定期檢查和驗證以確保測量準(zhǔn)確性。否則，隨著時間的推移，XRF分析儀可能會出現(xiàn)測量偏差，導(dǎo)致結(jié)果準(zhǔn)確性下降。這種偏差通常是逐漸形成的，用戶可能難以察覺。若使用存在偏差的分析儀進行產(chǎn)品測量，可能導(dǎo)致交付產(chǎn)品的厚度不符合要求，進而影響產(chǎn)品質(zhì)量。

 

為確保XRF分析儀的測量可靠性，建議將儀器認(rèn)證和校準(zhǔn)納入定期維護計劃。

 

 

分析儀常規(guī)檢查與校準(zhǔn)驗證

多數(shù)分析儀具備硬件檢查和調(diào)整功能。建議按照制造商規(guī)定的時間間隔進行儀器檢查，監(jiān)控影響探測器性能的關(guān)鍵參數(shù)，包括X射線強度、探測器分辨率和增益。檢查完成后，分析儀會自動進行參數(shù)優(yōu)化。若檢測到顯著偏差，系統(tǒng)將提示用戶聯(lián)系制造商進行維護。需要注意的是，過于頻繁的儀器檢查可能導(dǎo)致不必要的參數(shù)調(diào)整，反而影響測量穩(wěn)定性。

完成常規(guī)檢查后，建議使用已知參數(shù)的樣品驗證校準(zhǔn)狀態(tài)。驗證時應(yīng)選用與待測樣品具有相同成分或厚度范圍的參考樣品。雖然可以使用生產(chǎn)樣品進行驗證，但為保證最佳效果，推薦使用經(jīng)過認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

關(guān)于認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)樣品

認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)樣品由專業(yè)實驗室制備，具有可溯源性，并隨附包含材料厚度、成分信息及測量不確定度的校準(zhǔn)證書。這類樣品可為測量提供可靠的參考基準(zhǔn)。

分析儀與標(biāo)準(zhǔn)樣品維護

建議定期將XRF分析儀和標(biāo)準(zhǔn)樣品送至認(rèn)證實驗室進行重新認(rèn)證，確保測量結(jié)果的可靠性。標(biāo)準(zhǔn)樣品可能因長期使用或材料特性變化而影響其參考價值，特別是某些合金材料。同樣，分析儀也需要由制造商進行定期認(rèn)證，確認(rèn)各組件工作正常。維護過程中，工程師會根據(jù)檢測情況建議必要的部件更換。建議選擇獲得ISO17025認(rèn)證，且經(jīng)A2LA等權(quán)威機構(gòu)認(rèn)可的實驗室進行相關(guān)服務(wù)。

選擇認(rèn)證實驗室的重要性

ISO 17025是國際通用的實驗室能力認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，對實驗室的管理體系和技術(shù)能力提出明確要求。A2LA（美國實驗室認(rèn)可協(xié)會）等認(rèn)證機構(gòu)會對申請機構(gòu)進行全面評估，符合標(biāo)準(zhǔn)的實驗室才能獲得認(rèn)證資質(zhì)。認(rèn)證實驗室還需定期接受第三方評審，確保持續(xù)符合認(rèn)證要求。

日立分析儀器的校準(zhǔn)實驗室已獲得A2LA認(rèn)證和ILAC的ISO17025認(rèn)證，可為新舊分析設(shè)備提供定期認(rèn)證、校準(zhǔn)和維修服務(wù)。我們的工程師團隊具備專業(yè)的技術(shù)能力和豐富的應(yīng)用經(jīng)驗，能夠為用戶提供測量技術(shù)支持。

FT230 XRF鍍層分析儀

FT230 XRF鍍層分析儀作為專業(yè)測量設(shè)備，可幫助用戶實現(xiàn)高效、穩(wěn)定的鍍層厚度測量。該系列鍍層測厚儀優(yōu)化了測量流程，顯著提升了檢測效率。其自動化功能特別適合需要大批量檢測的生產(chǎn)環(huán)境，有助于提高工作效率。

通過規(guī)范的設(shè)備維護和使用專業(yè)的測量工具，用戶可以獲得可靠的測量數(shù)據(jù)，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供有力支持。