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近紅外光譜分析儀操作要注意哪些

來源:聚光科技(杭州)股份有限公司   2015年12月14日 19:01  
   近紅外光譜在操作時需注意以下事項:
  
  近紅外光譜儀操作注意事項
  1、測定時實驗室的溫度應在15~30℃,所用的電源應配備有穩(wěn)壓裝置。
  2、為防止儀器受潮而影響使用壽命,紅外實驗室應保持干燥(相對濕度應在65%以下)。
  3、樣品的研磨要在紅外燈下進行,防止樣品吸水。
  4、壓片用的模具用后應立即把各部分擦干凈,必要時用水清洗干凈并擦干,置干燥器中保存,以免銹蝕。
  5、OMNI采樣器使用過程中必須注意以下幾點:
  (1)樣品與Ge晶體間必須緊密接觸,不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射,不進入樣品層。
  (2)對于熱、燙、冰冷、強腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進行測定,以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
  (3)尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣,因為這些樣品極易刮傷晶片,甚至使其碎裂。
  
  以上是關于近紅外光譜儀操作需要注意的。
  

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