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資料簡介
高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；高低溫試驗(yàn)箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。
高低溫試驗(yàn)箱升溫及降溫速率測需在滿載條件下進(jìn)行,升溫及降溫速率：每5min的平均變化速率為5±1℃/min或試驗(yàn)箱zui高的平均變化速率。測試點(diǎn)定為工作空間幾何中心點(diǎn)。
高低溫試驗(yàn)箱升溫及降溫速率測試程序:
在試驗(yàn)箱溫度可調(diào)范圍內(nèi)，選取zui低標(biāo)稱溫度為zui低降溫溫度，zui高標(biāo)稱溫度為zui高升溫溫度。
開啟冷源，使試驗(yàn)箱由室溫降到zui低降溫溫度，至少穩(wěn)定3h后，升到zui高升溫溫度，至少穩(wěn)定3h后再降到zui低降溫溫度。升溫和降溫期間，每分鐘記錄1次，直到試驗(yàn)過程結(jié)束。
以上高低溫試驗(yàn)箱升溫及降溫速率測試方法摘自GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)要求較高，若只需要符合GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)，升降溫速率則為：升：1-3度/min、降：0.7-1度/min 。
高低溫試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)方法與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可分為“交變試驗(yàn)”和“恒溫試驗(yàn)”，兩種試驗(yàn)方法都是在高低溫試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上進(jìn)行升級拓展，交變試驗(yàn)箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫、時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序，高低溫試驗(yàn)箱就是在做一個(gè)固定的溫度，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測樣品的可靠性更高。
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