資料簡介
電工電子產品高低溫環(huán)境試驗的檢測:
高低溫試驗箱是對電子產品做測試,依據(jù)電子產品本身國家標準要求或用戶自定要求,電子產品在低溫、高溫、條件下,其物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷電子產品的性能,是否仍然能夠符合預定要求,以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
滿足標準:
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
♦電工電子產品基本環(huán)試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
♦電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
♦電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da:交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
♦GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
♦GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
♦GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》
♦GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》
♦GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
♦GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
♦GB/T5170.5-96《濕熱試驗設備》
♦GB10592-93《高、低溫試驗箱技術條件》
♦GB10586-93《濕熱試驗箱技術條件》
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