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資料簡介
涂層測厚儀MPO說明書DUALSCOPE®MP0 中文操作手冊
說明：儀器沒有專門的開關(guān)。
打開儀器
- 當儀器放在工件上時自動開啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上，顯示屏?xí)@示“Er6”，然后顯示四個水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開機方法是按 [OK]鍵。
請注意!
不要通過手指壓迫傳感器來開啟儀器！這樣可能會導(dǎo)致錯誤的測量結(jié)果。
關(guān)閉儀器/ 自動關(guān)閉
一分鐘不使用，儀器會自動關(guān)閉。 （關(guān)閉 = 儀器沒有任何顯示）。
1. 儀器開啟后，把儀器放在要測量工件上，等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動開啟儀器。
2. 把儀器提離工件。
測量聲響后顯示讀數(shù)。說明：若太早提起儀器（未有聲響前），錯誤信息 “Er6”會出現(xiàn)。重復(fù)步驟1。
3. 當儀器已在開啟狀態(tài)時， 讀數(shù)會馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。
用 MP0 測量
儀器zui多可以儲存999個測量數(shù)據(jù)。
1. 用[5]鍵或[6]鍵可翻看測量數(shù)據(jù)。
2. 翻過*個或者zui后一個測量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示“- - - -“并維持1秒鐘左右。
任何時候您都可以繼續(xù)測量。
1. 按 [5] 或 [6]鍵。
2. 按 [CAL]鍵。
“del” 即刪除將顯示 2 秒鐘。
3. 在“del”顯示的時候按[OK]鍵。
儀器內(nèi)所有測量數(shù)據(jù)將被刪除。
當 “del”不顯示的時候按 [OK]鍵將無任何反應(yīng)。
歸一化用來對測量儀器進行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件一致。
說明：歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
歸一化儀器（前提: 儀器處于開啟狀態(tài)）
1. 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base"（即 “未鍍過的底材”）.
2. 在底材上測量五次左右
每次測量后，會顯示當前的讀數(shù)。
3. 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17”，忽略它。
完成歸一化程序。
校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件一致）和一片標準片（儀器隨機的75µm左右標準片）。 說明：校準將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。
校準儀器（前提：儀器必須打開）
1. 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base"（即 “未鍍過的底材”）
2. 在底材上測量五次左右.
每次測量后，會顯示當前的讀數(shù)。
3. 按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 （即校準標準片 # 1）.
4. 把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
每次測量后，屏幕上會顯示當前讀數(shù)。
5. 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個數(shù)值至標準片的標稱值， 如“75µm”。 標準片的標稱值注明在標準片上。
6. 按 [OK]鍵。
完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).
有時，如果經(jīng)過校準后，儀器測量仍然不準確，則可以刪除校準參數(shù)。如果先前的校準程序沒有正確進行的話，就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。
刪除儀器的校準參數(shù)（前提：儀器必須打開）
1. 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" （即 “底材”） .
2. 在底材上測量5次左右.
3. 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" （即校準標準片 # 1） .
4. 在底材上測量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數(shù).
5. 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1”.
6. 按[OK]鍵?；謴?fù)到初始的特征曲線。
恢復(fù)完成。儀器現(xiàn)在可以測量了。
1. 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157”。
2. 用[5]鍵設(shè)定到“159”。
3. 按[OK]。屏幕顯示 FREE。
4. 用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號 （只可選 # 5 到 #10）
5. 重復(fù)按[OK]選擇菜單內(nèi)容， 利用 [5]或 [6] 進行設(shè)定。
6. zui后按[OK]離開服務(wù)程序。
服務(wù)菜單#5
| 內(nèi)容 | 解釋 |
| 連續(xù)測量模式 | 連續(xù)測量模式下： 注意： 測量結(jié)束后，請務(wù)必關(guān)閉連續(xù)測量模式！否則電池將耗盡 （連續(xù)測量模式下自動關(guān)機功能失效?。?/div> |
（服務(wù)菜單# 1 到 4 這款型號沒有）
| 內(nèi)容 | 解釋 |
| 顯示符號 | 按兩次 [OK]鍵將顯示全部符號。注：但不是所有符號MP0這款儀器都用到。 |
服務(wù)菜單#7
| 內(nèi)容 | 解釋 |
| 軟件版本 | 顯示儀器軟件版本 |
服務(wù)菜單#8
| 內(nèi)容 | 解釋 |
| 測試菜單 | 僅供維修使用! |
| 內(nèi)容 | 解釋 |
| 恢復(fù)到出廠設(shè)置 | 所有服務(wù)菜單的設(shè)置都將恢復(fù)到出廠設(shè)置。 校準信息也將被刪除。 |
服務(wù)菜單#10
| 內(nèi)容 | 解釋 |
| 主校準 | UCAL （僅供維修使用!） |
| 信息 | 解釋/ 可能原因 | 解決方法 |
| Er1 | 內(nèi)部錯誤。 | 進行歸零步驟。 如錯誤重復(fù)出現(xiàn)，聯(lián)絡(luò)Fischer維修部。 |
| Er4 | 內(nèi)存測量數(shù)據(jù)儲存滿。 | 刪除內(nèi)存測量數(shù)據(jù)。 |
| Er5 | 無法確定底材值。 | 用合適的標準片校正。 校正標準片至少要有實際工件涂鍍層的1/2厚（在涂層上校正時）。
|
| 信息 | 解釋/ 可能原因 | 解決方法 |
| Er6 | 超出測量范圍，不能顯示讀數(shù)。 原因: 涂鍍層太厚。 原因: 不正確測量。 原因: 歸零或校正方法有誤。 | 涂鍍層厚度在儀器測量范圍內(nèi)。 正確測量 （例如: 在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器）。 |
| Er7 | 歸零或校正時，非正常值被認可了。 - 不正確測量標準片。
- 要求測量底材時卻測量了標準片。 - 測量有折痕的標準片。 - 測量時，儀器沒有平放在工件或標準片上。 | 刪除內(nèi)存數(shù)據(jù)，重新測量。 重新正確歸零或校正 （例如:在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器）。
在同一工件上測量多次取其平均值歸零。 更換標準片。 正確測量，將儀器平放在工件或標準片上。 |
| Er12 | 校正時測量標準片順序錯誤。 | 按正確的順序重新校正。 |
| Er13 | 主校準時，標準片的間隔不在允許范圍內(nèi)。
使用了錯誤的標準片。
誤操作，在標準片上而不是在底材上歸零。 | 通知客戶服務(wù)部門。
使用正確的標準片。
在底材上歸零。 |
| Er14 | 儀器內(nèi)部錯誤: 無法計算主校準參數(shù)。原始主校準參數(shù)被保留。 | 重做主校正。 如果錯誤重復(fù)出現(xiàn): 客戶服務(wù)部門。 |
| Er15 | 無法儲存主校準參數(shù)。 探頭可能已損害。 | 客戶服務(wù)部門。 |
| Er17 | 讀數(shù)不夠， 因此無法結(jié)束一個組 。 | 再測幾個數(shù)據(jù)，直到*組可以結(jié)束，然后產(chǎn)生一個新的統(tǒng)計值。 |
| Er22 | 儀器內(nèi)部錯誤: 錯誤訪問內(nèi)存或EEPROM。 | 客戶服務(wù)部門。
|
| Er28 | 儀器內(nèi)部錯誤: 無法計算測量數(shù)據(jù)。 | 客戶服務(wù)部門。 |
| 儀器型號 | DUALSCOPE® MP0 |
| 訂貨號 | 604-162 |
| 可測量的涂鍍層系統(tǒng) （測量方法） | NF, Iso/Fe 磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導(dǎo)電涂層的厚度（磁感應(yīng)方法） 和 Iso/NF 非磁性金屬 基材上非導(dǎo)電涂層的厚度
|
| 測量范圍 | NF,Iso/Fe 0 - 2000 µm （0 - 78 mils） Iso/NF 0 - 2000 µm（0 - 78mils） |
| 測量誤差 以Fischer標準片為準 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 75 µm （0 - 3mils） ±1.5 µm 75 ... 1000 µm （3- 39 mils） ±2% 1000 ...2000 µm （39 - 78 mils） £3 % For applicationsIso/NF 0 ...50 µm （0 - 2 mils） ±1µm 50... 1000 µm （2 - 39 mils） ±2% 1000 ...2000 µm （39 - 78 mils） £3 % |
| 重復(fù)精度 以Fischer標準片為準 | For applications NF,Iso/Fe 0 ... 50 µm （0 - 2 mils） £0.25 µm 50 … 2000µm （2- 78mils） £0.5% For applicationsIso/NF 0 ... 100 µm （0 - 4 mils） £0.5 µm 100 … 2000 µm（4 - 78 mils） £0.5% |
| 重量 | 85 g （2.73 oz） （不含電池）; 135 g （4.34 oz）（含電池） |
| 尺寸 | W x D x H: 64 mm x 30 mm x 85 mm （2.5” x1.2” x 3.4”） |
| 電源 | 2 x battery LR6.AA 1.5 V |
| 功耗 | Max. 0.2 Watt |
| 環(huán)境溫度 | 操作溫度5° ... 40°C （41° –104°F） ; 儲存溫度: 5°...60°C （41° –140°F） |
| 相對濕度 | 30 ... 90 %（無凝水） |
| 測量數(shù)據(jù)內(nèi)存 | zui多999個測量讀數(shù) 即使沒有電池，內(nèi)存中的數(shù)據(jù)也能保存 |
| zui小測量間隔 | 2秒 |
| 項目 訂貨號 DUALSCOPEÒMP0 604-162 電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534 掛帶 MP0R 603-481 探頭保護罩MP0R 603-582 塑料校準標準片 75µm MP0R 603-479 Al-基材 MP0R 603-478 Fe-基材 MP0R 603-477 |
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