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日立分析儀器(上海)有限公司

17
  • 2022

    01-11

    使用 DSC 系列進行巧克力質(zhì)量控制

    你喜歡什么樣的巧克力?絲滑還是香脆?只溶于口中,不化在手里?每個人都有自己青睞的巧克力類型,但不論什么口感和風格的巧克力,作為消費者,都希望廠商能將巧克力的水準維持在他們*的那個水平。每批巧克力的穩(wěn)定出品都取決于質(zhì)量控制。對于食品制造商而言,這并非那么簡單,因為巧克力的特性會受到存儲溫度的影響。這就是為什么差示掃描量熱法非常適合用于測試巧克力特性的原因。差示掃描量熱法是通過分析溫度變化對巧克力的影響應(yīng)來了解巧克力特性的一種簡單而巧妙的方法。根據(jù)可可脂含量得出的結(jié)果可為您提供重要的產(chǎn)品信息,例如耐
  • 2022

    01-11

    如何使用手持式XRF繪制工藝設(shè)備成分圖

    在食品、藥品和玩具中發(fā)現(xiàn)異物是比較常見的現(xiàn)象,但卻會讓制造商感到頭疼。其中一個主要問題是進行污染物溯源,或鑒別虛假報告。這時,使用像X-MET8000(一種手持式X射線熒光元素分析儀)這樣的儀器來繪制工藝設(shè)備成分圖,將會為您節(jié)省時間和金錢,同時還有可能為您贏得聲譽。從本質(zhì)上來說,繪制工藝設(shè)備成分圖意味著對于在生產(chǎn)線上與您的產(chǎn)品有接觸的每件設(shè)備,您都可以創(chuàng)建并保存其確切成分的記錄。如果成分足夠準確和詳細,那么就可以對報告中的污染物進行溯源——或者確認它并非來自制造過程。有了這些信息,當有索賠稱有產(chǎn)
  • 2022

    01-11

    這個部件,關(guān)乎消費電子產(chǎn)品的安全

    隨著技術(shù)變得更加先進,產(chǎn)品越來越小型化,越來越多的消費類設(shè)備依賴高效鋰離子電池。但是,如果制造不當,該技術(shù)可能會很危險。在新聞中有很多鋰離子電池失效的例子;一個著名的例子是三星GalaxyNote7智能手機。早在2016年,據(jù)報有66部手機出現(xiàn)電池故障。調(diào)查中發(fā)現(xiàn)了生產(chǎn)故障,并在9月召回了100萬部收集。但是,此后又收到23次有關(guān)電池故障的報告,三星不得不在10月再次召回。最終,為了避免發(fā)生進一步的故障,所有電話都在12月停用,以確保未召回電話的安全。1、鋰離子電池為何會失效鋰離子電池發(fā)生故障的
  • 2022

    01-11

    您是否遵守新的ENIG規(guī)范IPC-4552B?

    化學鍍鎳/浸金(ENIG)鍍層是當今印刷電路板制造中使用較普遍的表面處理之一。國際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會(IPC)于2002年發(fā)布了第一份ENIG規(guī)范,隨后于2017年8月發(fā)布了ENIG規(guī)范修訂版A,該規(guī)范旨在幫助制造商提高ENIG表面處理的可再生性和可靠性。修訂版B于2021年7月推出,主要關(guān)注腐蝕對XRF使用的有限影響。如果能夠控制好鍍層厚度,那么ENIG便是一種較好的表面處理工藝,能實現(xiàn)可靠的焊接點和鋁線接合,并且具有相對較長的生命周期。浸金的薄外層非常穩(wěn)定,可在部件的壽命期限內(nèi)防止底層的鎳氧化
  • 2022

    01-11

    如何減少您的鍍層厚度XRF測量錯誤

    XRF分析是一種成熟、值得信賴的可靠技術(shù),可用于測量從珠寶到工程設(shè)備等各種部件的鍍層厚度。作為質(zhì)量控制流程的一個關(guān)鍵部分,您很可能會依靠XRF的測試結(jié)果來控制流程,并在發(fā)貨前測試成品部件的質(zhì)量。然而,雖然XRF是一種可靠的技術(shù),但它也很容易得到錯誤結(jié)果,尤其是對于鍍層厚度測量。在這篇文章中,我們將討論您的XRF測量出錯的原因,以及您可以采取的預防措施。XRF錯誤的源頭一般來說,測量出錯有兩種原因:要么您的儀器有問題,要么您的測量方法有問題。我們先來看看儀器方面的問題。如何確保您的XRF工作正常。
  • 2021

    12-04

    鎂危機是汽車行業(yè)面臨的新的半導體危機嗎?

    2021年初,包括汽車行業(yè)在內(nèi)的許多行業(yè)開始將產(chǎn)量提升到疫情爆發(fā)之前的水平。然而,全球范圍內(nèi)半導體芯片依然短缺,供不應(yīng)求。許多大的汽車制造商重新開始生產(chǎn)的腳步不得不再一次停止,等待芯片制造繼疫情停產(chǎn)之后重新生產(chǎn),迎頭趕上,滿足這些新的需求。然而,如果汽車行業(yè)現(xiàn)在仍沒有足夠的能力應(yīng)對芯片危機,一個新的供應(yīng)問題將對汽車制造業(yè)造成更加沉重的打擊。這一次,問題出在全球鋁的供應(yīng)上,因為制造輕質(zhì)金屬的關(guān)鍵成分——鎂正處于短缺狀態(tài)。在鋁板和鋁坯的生產(chǎn)中,鎂是不可替代的原材料。據(jù)預測,到2021年11月底,歐洲
  • 2021

    12-04

    如何提高大型樣品上微小測量點的XRF測量效率

    XRF分析是驗證電子器件的鍍層厚度和成分的重要技術(shù)。XRF準確、精確、快速且無損,可確保多層鍍層在部件的預期保質(zhì)期內(nèi)性能保持良好。如果您遵守IPC指南,那么XRF將是許多規(guī)范的重要技術(shù)。然而,雖然XRF的分析時間只有數(shù)秒鐘,但設(shè)置時間可能要長得多。而在電子元件領(lǐng)域尤其如此,當您必須在大型底材或PCB上定位微小測試點時,就會出現(xiàn)此類情況。許多零件需要顯微鏡才能很好地觀察到,這意味著在按下分析按鈕之前,需進行大量繁瑣的縮放聚焦和樣品移動工作,然后進行反復檢查。好在許多XRF儀器都具有使樣品設(shè)置更快的
  • 2021

    11-19

    該如何提高并保持直讀光譜分析儀的準確性呢?

    直讀光譜分析儀在爐前成分控制上有著很好的應(yīng)用,在實際的應(yīng)用中,其檢測方便、快速、準確的特點,為提高鋼水質(zhì)量、節(jié)能降耗方面發(fā)揮了重要的作用。如何提高或者說保持直讀光譜儀分析準確性,一直以來都是我們需要討論的重點,事前做好分析儀的準備工作對于檢測準確性的提高是重要的。1、儀器的正常通電光譜儀一旦長時間停電后再啟動,儀器內(nèi)部的光學原件其性能至少需48銷售才能穩(wěn)定,在這期間進行分析常常會影響分析結(jié)果的準確性,因此,對于光譜儀來說,應(yīng)保持24小時通電。每天開始分析工作前,檢查光譜儀通電情況,光源指示燈、電
  • 2021

    11-16

    XRF技術(shù)是如何檢測鍍層的厚度和成分的?

    XRF分析是一項成熟的技術(shù),用于在整個行業(yè)范圍內(nèi)驗證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質(zhì),加上快速測量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺式儀器等優(yōu)點,能實現(xiàn)現(xiàn)場分析并立即得到結(jié)果。XRF指X射線熒光,是一種識別樣品中元素類型和數(shù)量的技術(shù)。對于鍍層分析,儀器將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測量值。在進行測量時,X射線管產(chǎn)生的高能量x射線通過光圈聚集,并照射在樣品非常小的區(qū)域(該區(qū)域的大小為光斑尺寸)。這些X射線與光斑內(nèi)元素的原子相互作用。當進行X射線分析時,入射的X射線會將其中一個內(nèi)層電子逐出軌道。上一級軌道上的電子將立刻遷入,填補
  • 2021

    11-05

    使用XRF光譜儀確保安心穿上節(jié)日盛裝

    想到服裝時,您很可能會聯(lián)想到萬圣節(jié)。然而,服裝在劇院、節(jié)日、游行、體育賽事、聚會及電影中也提供了許多實際用途。今天,您甚至可以為您的寵物購買一套服裝。作為消費品制造商,服裝制造商必須確保他們所銷售的服裝符合《消費品安全改進法案》(CPSIA)以及RoHS(《有害物質(zhì)限制指令》);日立分析儀器提供的X-MET等手持式X射線熒光(XRF)分析儀可幫助制造商確保服裝方面的安全。消費者安全至關(guān)重要20世紀80年代,萬圣節(jié)安全問題促使消費者心態(tài)發(fā)生了轉(zhuǎn)變。萬圣節(jié)慶祝活動開始從鄰里間挨家挨戶的“不給糖就搗蛋
  • 2021

    11-05

    指南 | 使用XRF光譜儀測量涂鍍層

    XRF鍍層分析的發(fā)展歷程早在1978年,我們便推出了第一款使用X射線管的臺式XRF鍍層測厚儀,這意味著可以在緊湊型儀器中使用無損方法進行高度精確的鍍層厚度測量。到20世紀90年代,電子設(shè)備的進步使我們的固態(tài)設(shè)備實現(xiàn)了探測器技術(shù)的飛躍,并最終促使我們的Vortex探測器在2005年得到發(fā)展。這些固態(tài)探測器具有出色的分辨率,對于測量小型設(shè)備上的極薄鍍層至關(guān)重要。憑借觸手可及的一系列探測器技術(shù),我們可以專注于開發(fā)專門針對鍍層行業(yè)的下一代儀器。2011年,我們推出了一款強大的XRF光譜儀FT110A,其
  • 2021

    11-02

    兩種不同的X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點分析

    X射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。XRF工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線照射樣品,樣品中原子的內(nèi)層電子被激發(fā),當外層電子躍遷時產(chǎn)生特征X射線,通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。按分光方式分類,XRF可分為波長色散型X射線熒光光譜儀(以下簡稱WD-XRF)和能量色散型X射線熒光光譜儀(以下簡稱ED-XRF)。波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線
  • 2021

    10-25

    FM EXPERT 火花直讀光譜儀可用于分析低含量氮

    從廢舊金屬中的痕量元素分析到來料檢測、熔化過程控制和成品檢測,嚴格的質(zhì)量控制在整個金屬行業(yè)中都至關(guān)重要。氮分析的重要性:1、鋼材高含氮量可能導致2、機械性能不一致3、脆化焊接鋼的熱影響區(qū)4、低溫成形性較差5、應(yīng)變老化6、在鑄造過程中形成銷孔FMEXPERT是一款全新直讀光譜儀,集分析性能和緊湊型設(shè)計為一體。其較寬的波長范圍使其適用于在金屬質(zhì)量保證和生產(chǎn)工藝控制過程中分析所有相關(guān)元素。同時,F(xiàn)MEXPERT配備緊湊型CCD光學系統(tǒng),還可分析低含量氮。FMEXPERT結(jié)合了我們的智能光學系統(tǒng)和改良的
  • 2021

    10-21

    動態(tài)熱機械分析儀主要用于哪些測試?

    DMA是Dynamicthermomechanicalanalysis的縮寫,即動態(tài)熱機械分析。動態(tài)熱機械分析(DMA)測量黏彈性材料的力學性能與時間、溫度或頻率的關(guān)系。樣品受周期性(正弦)變化的機械應(yīng)力的作用和控制,發(fā)生形變。用于進行這種測量的儀器稱為動態(tài)熱機械分析儀。主要應(yīng)用于玻璃化轉(zhuǎn)變和熔化測試,二級轉(zhuǎn)變的測試,頻率效應(yīng),轉(zhuǎn)變過程的最佳化,彈性體非線性特性的表征,疲勞試驗,材料老化的表征,浸漬實驗,長期蠕變預估等最佳的材料表征方案。1、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)DMA測試玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)
  • 2021

    10-19

    哪些因素會導致測量誤差以及如何減少誤差?

    當我們用光譜儀進行測量時,我們希望相信所獲得的結(jié)果。無論我們測量成分或厚度,無論我們采用XRF、OES或LIBS進行分析,我們都希望所獲得的結(jié)果盡可能準確。信任我們的測量結(jié)果的第一步是理解我們對準確性的定義。準確性定義在光譜學中,準確性是衡量我們的測量值與期望值有多接近的尺度。(我們希望期望值是真實值,但由于我們無法知道真實值,因此我們使用期望值這個術(shù)語。)準確性取決于兩個因素:精密度。測量值重復性。如果使用運行相同程序的相同設(shè)備在同一點多次測量同一樣品,結(jié)果的可重復性如何?正確度。如果進行幾次
  • 2021

    10-19

    激光誘導擊穿光譜 (LIBS) 儀器是如何工作的?

    激光誘導擊穿光譜(LIBS)是一種快速、便攜的原位原子光譜技術(shù),用于測量固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)樣品中的主要和痕量元素的濃度,或記錄材料的化學特征(指紋圖譜)。每個LIBS光譜不僅包含有關(guān)所有天然元素濃度的信息,還包含一些同位素比率和材料的原子結(jié)構(gòu)的信息。激光器多種類型的激光器都可以被用到LIBS系統(tǒng)中。Nd:YAG激光器在其基本波長1064nm或諧波波長之一(通常為266nm或213nm)是常用的激光器。脈沖寬度通常為6~15ns,重復率從單次發(fā)射到20Hz。單脈沖LIBS使用單個激光脈沖來燒蝕和激發(fā)
  • 2021

    10-18

    指南 | LIBS vs OES

    我們認為在現(xiàn)場做出正確的決定不單要考慮準確性,還要考慮精度。猜測或估計是不夠的,特別是在高可靠性應(yīng)用中。這就是為什么您需要一個分析儀,它不會讓你費勁去識別材料牌號??煽康奶己糠治鲂枰獪y量一系列元素,不僅僅是碳,還有磷、硫和硼,直到今天,只有火花直讀光譜儀才能可靠地完成這項工作。我們的最終指南由專家團隊制定,將幫助您最終選擇正確的方案,同時您將了解:材料分析選擇方案監(jiān)管環(huán)境遵循實際層面的法規(guī)對于真正重要的元素,OES和LIBS能實現(xiàn)的分析性能是什么?如何選擇正確的分析儀點擊此處下載
  • 2021

    10-18

    工程師日記: 解決OES激發(fā)光源燈閃爍的問題

    2021年9月,臺州客戶報修問題:激發(fā)光源燈閃爍儀器類型:直讀光譜儀問題現(xiàn)象描述:開機通電后光源燈閃爍,無法激發(fā)。客戶在非原廠技術(shù)人員的推薦下購買了一塊二手光源板?,F(xiàn)場服務(wù)方案:日立工程師抵達現(xiàn)場后,開機發(fā)現(xiàn)不僅光源燈在閃爍,同時聽到繼電器不停開關(guān)聲,而且散熱風扇斷斷續(xù)續(xù)地工作。按電路圖逐一去負載方法排查問題,最終發(fā)現(xiàn)故障點為散熱風扇。更換了風扇后,儀器正常工作。最后應(yīng)客戶的要求,測試了一下客戶購買的二手配件,發(fā)現(xiàn)該配件為故障件。工程師小貼士:儀器在出現(xiàn)故障時候,請將你所得到的全部信息盡可能多地
  • 2021

    10-13

    X射線熒光分析方法竟然有這么廣泛的應(yīng)用,學到了!

    X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質(zhì)成分分析和化學態(tài)研究。X射線熒光分析的工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線照射樣品,樣品中原子的內(nèi)層電子被激發(fā),當外層電子躍遷時產(chǎn)生特征X射線,通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。應(yīng)用領(lǐng)域有:1、鋼鐵行業(yè)生鐵、爐渣、礦石、燒結(jié)礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石
  • 2021

    09-28

    差示掃描量熱儀有哪些不同的測量方法?

    差示掃描量熱儀(DSC)是在程序控制溫和一定氣氛下,測量輸給物質(zhì)和參比物的功率差與溫度關(guān)系的儀器。差示掃描量熱儀應(yīng)用范圍非常廣,特別是材料的研發(fā)、性能檢測與質(zhì)量控制,如高分子材料的固化反應(yīng)溫度和熱效應(yīng)、物質(zhì)相變溫度及其熱效應(yīng)測定、高聚物材料的結(jié)晶、熔融溫度及其熱效應(yīng)測定、高聚物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。根據(jù)所用測量方法的不同,DSC主要分為兩種:1、功率補償式DSC:是指在程序控制溫和一定氣氛下,測量輸給物質(zhì)和參比物熱流速率或加熱功率差的儀器。功率補償型的DSC是內(nèi)加熱式,裝樣品和參比物的感應(yīng)器是各
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