當(dāng)前位置:阿美特克科學(xué)儀器部-普林斯頓及輸力強(qiáng)電化學(xué)>>技術(shù)文章展示
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當(dāng)前位置:阿美特克科學(xué)儀器部-普林斯頓及輸力強(qiáng)電化學(xué)>>技術(shù)文章展示
2016
03-04美國(guó)普林斯頓推出PARSTAT 4000+電化學(xué)系統(tǒng)
具有近60年品牌歷史和專(zhuān)業(yè)制造經(jīng)驗(yàn)的研究級(jí)電化學(xué)儀器的生產(chǎn)商美國(guó)普林斯頓應(yīng)用研究,推出的PARSTAT4000+是一款的電化學(xué)系統(tǒng),以其zui杰出的技術(shù)性能,更寬泛的應(yīng)用設(shè)計(jì),阻抗擴(kuò)展至10MHz,電流標(biāo)配4A,標(biāo)配浮地等功能。應(yīng)用于以下研究領(lǐng)域,研究電化學(xué),腐蝕和涂層,電池/級(jí)電容器,燃料電池/太陽(yáng)能電池,傳感器,生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用和納米科技。PARSTAT4000+電化學(xué)系統(tǒng)性能:1、±48V高槽壓,滿(mǎn)足高阻抗樣品體系的測(cè)量,保證儀器的zui大應(yīng)用范圍。2、±4A標(biāo)配大電流(可選配20A電流放大器2016
03-01微區(qū)掃描系統(tǒng)為局部表面科學(xué)研究提供了新途徑
材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測(cè)試,測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來(lái),人們一直在探索局部電化學(xué)過(guò)程的研究。*代掃描參比電極技術(shù)(SRET)能探測(cè)局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動(dòng)電極技術(shù)(SVET)采用振動(dòng)電極測(cè)量局部(電流,電位〕隨遠(yuǎn)離被測(cè)電極表面位置的變化。SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上,又提2016
02-25多通道電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)組成及特點(diǎn)
1470E多通道電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是主要針對(duì)電池、燃料電池和級(jí)電容器等儲(chǔ)能裝置設(shè)計(jì)制造的直流(DC)和阻抗(AC)特性研究的綜合測(cè)試系統(tǒng);同時(shí)基于該系統(tǒng)的高速、寬測(cè)量范圍及高分辨率,也廣泛應(yīng)用于傳感器、涂層、腐蝕及常規(guī)電化學(xué)測(cè)試與分析。此系統(tǒng)包括一個(gè)或多個(gè)1470E多通道恒電位/恒電流儀和多通道145x系列頻率響應(yīng)分析儀(FRAs),可以由計(jì)算機(jī)軟件控制對(duì)多個(gè)測(cè)試體系進(jìn)行同時(shí)DC和AC阻抗測(cè)試分析。每臺(tái)1470E提供8個(gè)*獨(dú)立的恒電位/恒電流儀,可以同時(shí)對(duì)8個(gè)不同體系進(jìn)行測(cè)試,每個(gè)通道*獨(dú)立,對(duì)每個(gè)2016
02-192016
01-28Modulab XM PhotoEchem是一套整體集成式光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
ModulabXMPhotoEchem光電測(cè)試系統(tǒng)是一套可表征太陽(yáng)能電池,如染料敏化電池和鈣鈦礦型電池的整體集成式光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。而且該體系可用于可見(jiàn)光譜-光電化學(xué)領(lǐng)域的研究,例如,氧化鐵催化光解水等。SolartronAnalytical作為過(guò)二十年的行業(yè),認(rèn)識(shí)到許多儀器使用者對(duì)儀器技術(shù)本身并不很熟悉,因此推出此產(chǎn)品的核心理念是對(duì)海量數(shù)據(jù)的分析實(shí)現(xiàn)“一鍵式”操作,研發(fā)并提供綜合成套的技術(shù)解決方案。而對(duì)于有經(jīng)驗(yàn)的使用者,ModuLab提供了功能強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)步驟設(shè)置軟件,用戶(hù)可自行建立和發(fā)展的新的實(shí)驗(yàn)2016
01-26ModuLab XM是模塊化的電化學(xué)量測(cè)系統(tǒng)
ModuLabXM是模塊化的電化學(xué)量測(cè)系統(tǒng),其核心是一高速、高性能的恒電位/恒電流儀,能地進(jìn)行控制和測(cè)量。有一系列模塊供選購(gòu),以使電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)符合特殊應(yīng)用所需,包括:燃料電池開(kāi)發(fā)、電化學(xué)分析、納米技術(shù)及腐蝕/涂層研究。各個(gè)選購(gòu)模塊進(jìn)行各自獨(dú)立的校正,因此增加模塊到ModuLab系統(tǒng)就像“即插即用”般地簡(jiǎn)單!儀器的前面板可輕易取下,然后插入新的模塊,而當(dāng)儀器再次開(kāi)機(jī)時(shí),新的模塊即可由軟件快速偵測(cè)出來(lái)。ModulabXM電化學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)不僅可以像“即插即用”般地以許多方式設(shè)定配置,而且可以由在一2016
01-22材料電特性測(cè)試系統(tǒng)用以測(cè)試大部分材料的電學(xué)性質(zhì)
ModuLabXMMTS材料電特性測(cè)試系統(tǒng)是模塊化的,*整合的研究系統(tǒng),可用來(lái)測(cè)試從絕緣體到導(dǎo)體的大部分材料的電學(xué)性質(zhì)。此測(cè)試系統(tǒng)即提供時(shí)域技術(shù),如恒定電流,通過(guò)脈沖電壓和掃描電壓(I-V)確定材料的電學(xué)性能;又提供AC技術(shù)如阻抗、電容、C-V或者M(jìn)ott-Schottky來(lái)提供更多細(xì)節(jié)信息進(jìn)一步分析材料的導(dǎo)電機(jī)理;并且儀器提供一系列可選模塊,擴(kuò)展了測(cè)試范圍,如高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測(cè)試;高/低溫系統(tǒng)及樣品架配件更提高了其測(cè)試能力。系統(tǒng)有兩種尺寸配置,滿(mǎn)足不同預(yù)算,可以配合您的研2016
01-192016
01-12電化學(xué)石英晶體分析儀的應(yīng)用及性能特點(diǎn)
QCM922A電化學(xué)石英晶體分析儀是QCA922的全新升級(jí)產(chǎn)品,可同時(shí)通過(guò)晶振片頻率和電阻的變化來(lái)檢測(cè)微小的質(zhì)量和粘度變化,同樣可測(cè)試電導(dǎo)的頻率特征。QCM922A電化學(xué)石英晶體分析儀測(cè)試頻率高達(dá)30MHz,測(cè)試靈敏度更高,且測(cè)試速度達(dá)到10毫秒。電化學(xué)石英晶體分析儀可分析測(cè)試液體的成分、電合成、電沉積、元素的嵌入與脫出、電聚合以及微質(zhì)量測(cè)量等研究課題。電化學(xué)石英晶體分析儀應(yīng)用領(lǐng)域:1、生物聚合物相互作用的表征,如蛋白質(zhì)2、高分子的形成和分解的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)3、采用EQCM對(duì)鋰離子二次電池進(jìn)行評(píng)價(jià)4、2016
01-07輸力強(qiáng)多通道FRA頻率響應(yīng)分析儀滿(mǎn)足高精度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
輸力強(qiáng)的頻率響應(yīng)分析儀除采用先進(jìn)的單正弦波相關(guān)技術(shù)外,還采用*分辨率的26位頻率合成器。只有精細(xì)的頻率掃描分辨率才能獲得阻抗特性。同時(shí)在滿(mǎn)足高精度測(cè)量的同時(shí),1455/1451又采用了適合快速測(cè)試的多波FFT阻抗分析模式以滿(mǎn)足不同的測(cè)試要求。1455/1451系列采用模板式設(shè)計(jì),可根據(jù)需求隨時(shí)增加阻抗模塊到多通道系統(tǒng)中,每個(gè)FRA模塊都有獨(dú)立的以太網(wǎng)絡(luò)通訊接口,可以保證數(shù)據(jù)便捷、快速的傳遞。多通道FRA頻率響應(yīng)分析儀的主要特點(diǎn):?單正弦相關(guān)技術(shù):阻抗頻率,10Hz~1MHz(1455)/100K2014
09-012014
02-20怎樣將“PowerSuite”的數(shù)據(jù)文件發(fā)送給技術(shù)工程師
Q:HowdoIsendPowerSUITE®datarecordstoyoufortechnicalsupporthelp?怎樣將“PowerSuite”的數(shù)據(jù)文件發(fā)送給相關(guān)技術(shù)人員?A:可按照下面步驟完成數(shù)據(jù)發(fā)送:1.打開(kāi)“PowerSuite”軟件,在“Tools”菜單中選擇“DatabaseManagement”。2.選擇含有即將輸出的數(shù)據(jù)文件的數(shù)據(jù)庫(kù)(SourceDatabase)。3.點(diǎn)擊“CreateNewDatabase”,然后命名這個(gè)新數(shù)據(jù)庫(kù)并將其放在任何一個(gè)容易找得到的位置。2014
02-202014
02-202013
02-27當(dāng)恒電位儀的電極線(xiàn)破損,損壞,腐蝕或丟失時(shí),應(yīng)該更換哪個(gè)型號(hào)的電極線(xiàn)
當(dāng)恒電位儀的電極線(xiàn)破損,損壞,腐蝕或丟失時(shí),應(yīng)該更換哪個(gè)型號(hào)的電極線(xiàn)?Q:WhichCellCabledoIneedtoreplacemypotentiostat’sworn/damaged/corroded/missingCellCable?當(dāng)恒電位儀的電極線(xiàn)破損,損壞,腐蝕或丟失時(shí),應(yīng)該更換哪個(gè)型號(hào)的電極線(xiàn)?A:下表是目前普林斯頓公司所能提供的電極線(xiàn)的型號(hào),為便于識(shí)別,將恒電位儀型號(hào)與電極線(xiàn)的型號(hào)一一作了對(duì)應(yīng)。如果您的電極線(xiàn)的接頭氧化生銹或有顯而易見(jiàn)的損壞(如:屏蔽層丟失或折斷)或在測(cè)試內(nèi)部2013
02-272013
02-252013
02-252013
02-222013
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