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2025
07-092025
06-26ROHS測(cè)試儀主流檢測(cè)技術(shù)的原理與應(yīng)用
ROHS測(cè)試儀是用于檢測(cè)電子電氣產(chǎn)品中鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、多溴聯(lián)苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE）等有害物質(zhì)含量的專業(yè)設(shè)備，其工作原理基于不同檢測(cè)技術(shù)對(duì)元素或化合物的特性分析，以下從核心技術(shù)原理、檢測(cè)流程及典型應(yīng)用場(chǎng)景展開說明：主流檢測(cè)技術(shù)的原理與應(yīng)用1.X射線熒光光譜法（XRF）——元素定性定量分析原理：利用X射線管發(fā)射的高能X射線（如Mo、Rh靶材產(chǎn)生的特征X射線）照射樣品，激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層電子使其躍遷，外層電子填補(bǔ)空位時(shí)釋放出具有特定能量的熒光X射2025
06-19X射線熒光光譜儀能應(yīng)用于怎樣的領(lǐng)域呢？
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法，其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級(jí)X射線激發(fā)樣品中的原子，使原子內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時(shí)，會(huì)放射出特征X射線，即X射線熒光。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析。通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(zhǎng)（或能量）和強(qiáng)度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性定量分析的目的。X射線熒光光譜儀其主要應(yīng)用范圍：1、工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量控制金屬材料分析：用于檢測(cè)鋼鐵、鋁合金、銅合金等金屬材料中的元素成分及含量2025
06-172025
05-28全譜直讀光譜儀其應(yīng)用涵蓋了多個(gè)領(lǐng)域
全譜直讀光譜儀是一種先進(jìn)的光譜分析設(shè)備，主要用于材料成分的快速定量分析。其工作原理基于原子發(fā)射光譜學(xué)，通過電弧或火花激發(fā)源將樣品中的原子或離子激發(fā)成光譜，再利用高精度的光學(xué)系統(tǒng)將光譜色散成按波長(zhǎng)排序的連續(xù)光譜，通過光電轉(zhuǎn)換元件將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，最終由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)計(jì)算出元素的百分含量。該儀器采用現(xiàn)代CCD數(shù)碼技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了分析光譜的全譜直讀，具有分析速度快、精度高、靈敏度強(qiáng)的特點(diǎn)。其真空光室技術(shù)確保了分析的快速穩(wěn)定，自動(dòng)光路校準(zhǔn)功能不受溫度漂移影響，保證了分析的準(zhǔn)確性。此外，全譜直讀光譜儀還具備開2025
05-272025
05-232025
04-172025
04-172025
04-12火花直讀光譜儀其結(jié)構(gòu)主要包括以下幾個(gè)部分
火花直讀光譜儀是一種基于原子發(fā)射光譜原理的高精度分析儀器，通過電火花激發(fā)樣品產(chǎn)生特征光譜，直接測(cè)定金屬及合金中多元素的含量。廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、汽車制造、航空航天、兵器、金屬加工等領(lǐng)域的生產(chǎn)工藝控制，爐前化驗(yàn)，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)。儀器體積小、穩(wěn)定性好、檢測(cè)限低、分析速度快、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇?；鸹ㄖ弊x光譜儀其結(jié)構(gòu)主要包括以下幾個(gè)部分：一、激發(fā)系統(tǒng)激發(fā)源激發(fā)源是火花直讀光譜儀的關(guān)鍵部件之一，常見的激發(fā)源有電火花和電弧兩種。電火花激發(fā)源通過在電極和樣品之間施加2025
04-102025
03-202025
03-18便攜式礦石元素分析儀其維護(hù)保養(yǎng)的詳細(xì)步驟如下
便攜式礦石元素分析儀是一種工業(yè)設(shè)備，基于光譜分析技術(shù)，能夠準(zhǔn)確分析礦石中的元素種類及含量。其主要采用X射線熒光（XRF）光譜分析技術(shù)。當(dāng)X射線照射到礦石樣品時(shí)，樣品中的元素會(huì)被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線。分析儀通過測(cè)量這些熒光X射線的強(qiáng)度，結(jié)合已知的元素特征譜線，進(jìn)行定性和定量分析，從而確定礦石中元素的種類和含量。便攜式礦石元素分析儀其維護(hù)保養(yǎng)的詳細(xì)步驟：一、日常維護(hù)清潔與外觀保養(yǎng)外殼清潔：每次使用后，用干凈、柔軟的布擦拭儀器外殼，去除灰塵、污漬和指紋。如果儀器表面有頑固污漬，可使用少量溫和的清2025
02-03使用手持式礦石分析儀時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)
手持式礦石分析儀是一種便攜式的、基于光譜分析技術(shù)的設(shè)備，主要用于現(xiàn)場(chǎng)快速、準(zhǔn)確地分析礦石中元素的種類及其含量。其工作原理主要基于X射線熒光光譜分析技術(shù)（XRF）。當(dāng)X射線照射到被測(cè)樣品時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中對(duì)應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子，產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線的能量與元素的種類有關(guān)，因此可以通過測(cè)量這些特征X射線的能量來確定樣品中存在的元素種類及其含量。使用手持式礦石分析儀時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)，以確保分析的準(zhǔn)確性和儀器的安全性：一、樣品準(zhǔn)備代表性：礦石樣品應(yīng)具有代表性，避免選取表面風(fēng)化、污染嚴(yán)重或存在2025
02-01手持式礦石分析儀的特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面
手持式礦石分析儀是一種便攜式的、基于光譜分析技術(shù)的設(shè)備，主要用于現(xiàn)場(chǎng)快速、準(zhǔn)確地分析礦石中元素的種類及其含量。其工作原理主要基于X射線熒光光譜分析技術(shù)（XRF）。當(dāng)X射線照射到被測(cè)樣品時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中對(duì)應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子，產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線的能量與元素的種類有關(guān)，因此可以通過測(cè)量這些特征X射線的能量來確定樣品中存在的元素種類及其含量。手持式礦石分析儀的特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：一、便攜性手持式礦石分析儀體積小巧、重量輕，方便攜帶，使得用戶能夠隨時(shí)隨地進(jìn)行分析，不受時(shí)間和地點(diǎn)的限制2025
01-152025
01-132024
12-302024
10-26鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量產(chǎn)品表面鍍層厚度的設(shè)備
?鍍層測(cè)厚儀?廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)和商檢等領(lǐng)域。鍍層測(cè)厚儀的主要功能包括測(cè)量鍍層厚度、數(shù)據(jù)管理和不同的測(cè)量模式，以滿足不同工作現(xiàn)場(chǎng)的需求?。鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量原理和技術(shù)特點(diǎn)如下：?測(cè)量原理?：鍍層測(cè)厚儀可以采用多種測(cè)量方法，包括磁性測(cè)厚法、二次熒光法等。2024
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