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為什么LED驅(qū)動器可靠性那么低？----技術(shù)剖析2014/03/14: LED雖然發(fā)光效率較高，但流過LED的能量仍只有小部分能量可以見光的形式輻射出去，其余大部分能量以熱的形式消耗在LED中，因此LED光源自身發(fā)熱比較嚴(yán)重。行業(yè)LED驅(qū)動器可靠性低下的原因主要有以下幾點(diǎn)：*、長期滿負(fù)荷工作。在不調(diào)光的情況下LED驅(qū)動器就是接近滿負(fù)荷工作，而在開關(guān)電源的絕大部分應(yīng)用領(lǐng)域，如計(jì)算機(jī)電源（適配器）、通信電源、家用電器等，長期工作的平均功率通常只有額定功率功率幾分之一，所有負(fù)載都開啟的滿功率狀態(tài)只在特定的少數(shù)時間內(nèi)會出現(xiàn)。第二、靠近熱源。LED雖然發(fā)光效率較高，但流過LE

環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的關(guān)系及其應(yīng)用2014/01/13: 在當(dāng)今競爭激烈的市場環(huán)境和化的背景下,產(chǎn)品要迅速并且成功地占領(lǐng)國內(nèi)外市場,就必須提高產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性。目前,我國很多產(chǎn)品設(shè)計(jì)從單純追求技術(shù)指標(biāo)轉(zhuǎn)向提高產(chǎn)品的綜合效能[1]。在產(chǎn)品引進(jìn)過程中,由于來源不同,在同一場所會出現(xiàn)不同的環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)體系相互交叉的情況;隨著可靠性工作的逐步深入,該指標(biāo)已納入研制合同。環(huán)境工程和可靠性工程相互交叉,使產(chǎn)品在研制和生產(chǎn)中,試驗(yàn)項(xiàng)目和工作量成倍地增加,這給研制和生產(chǎn)部門帶來了許多重復(fù)性工作,周期和成本難以保證,這就要求對相同的試驗(yàn)項(xiàng)目進(jìn)行合并和簡化。也就要

車載電子設(shè)備可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目2014/01/09: 一、綜述汽車的控制系統(tǒng)是以電子設(shè)備為基礎(chǔ)，因此電子控制設(shè)備的可靠性對整車的可靠性起主導(dǎo)作用。一般來說，使用環(huán)境會影響到電子設(shè)備和單元的耐久性以及操作性能。因此，汽車電子元器件的環(huán)境可靠性問題成為汽車可靠性的核心問題之一。目前汽車電子產(chǎn)品主要分以下三類：（a）、電子元器件。包括GPS、音箱、汽車DVD、倒車?yán)走_(dá)、控制器、運(yùn)算放大器、切換式電源供應(yīng)器、各類微處理器、計(jì)算機(jī)等。（b）、繼電器及電機(jī)馬達(dá)。包括各類繼電器、雨刮器電機(jī)、電動天線、空調(diào)電機(jī)、暖風(fēng)電機(jī)、電動坐椅、前后視鏡電機(jī)、中央控制門鎖、交流

第三章電子組件焊接工藝分析及案例研究2013/12/16: 第三章電子組件焊接工藝分析及案例研究1.焊接工藝原理2.電子組件典型焊接過程分析3.焊接工藝難點(diǎn)討論4.典型焊接失效案例討論形成良好焊點(diǎn)的關(guān)鍵是:在焊接界面良好潤濕,并形成合適的金屬間化合物。3.1焊接工藝原理無鉛／錫鉛焊料被加熱到熔點(diǎn)以上，焊接金屬表面在助焊劑的活化作用下，對金屬表面的氧化層和污染物起到清洗作用，同時使金屬表面獲得足夠的激活能。熔融的焊料在經(jīng)過助焊劑凈化的金屬表面上進(jìn)行浸潤、發(fā)生擴(kuò)散、冶金結(jié)合，在焊料和被焊接金屬表面之間生成金屬間結(jié)合層，冷卻后使焊料凝固，形成焊點(diǎn)。焊接的本質(zhì)是

砂塵試驗(yàn)箱適用于什么行業(yè)2013/12/05: 砂塵試驗(yàn)箱適用于什么行業(yè)？隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗(yàn)的重要性也對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。電器、電機(jī)、儀器、儀表、各種燈具等

第二章電子組件失效分析方法概述2013/12/04: 第二章電子組件失效分析方法概述2.2失效分析方法①外觀檢查②X射線分析③金相切片④聲學(xué)掃描⑤紅外熱像分析⑥掃描電鏡及能譜分析⑦顯微紅外分析⑧熱分析⑨其它分析方法2.1失效分析概述①失效定義②失效分析要求③失效分析基本流程④失效分析原則失效－產(chǎn)品喪失規(guī)定的功能。產(chǎn)品：可修復(fù)不可修復(fù)喪失：可能是一個動作或一個逐步的過程。規(guī)定功能：國家法規(guī)、質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)文件、合同要求等。失效的例子：①焊點(diǎn)腐蝕/焊點(diǎn)開裂等②PCB焊盤明顯變色③PCB某絕緣的兩點(diǎn)之間存在漏電流并影響功能①整機(jī)無預(yù)定的功能，如手機(jī)不能開

LED燈具可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范2013/12/02: 1，高溫高壓及其沖擊測試：針對對象：LED燈具（含LEDDriver的成品燈具）參照標(biāo)準(zhǔn)：行業(yè)經(jīng)驗(yàn)測試方法：1，將5款LED燈具放置在一個室溫為60℃的房間；2，通過調(diào)壓器將LED燈具的輸入電壓調(diào)為zui大額定輸入電壓的1.1倍；3，接通電源，點(diǎn)燈24H，并觀察燈具是否有損壞、材料受熱變形等異?，F(xiàn)象；4，點(diǎn)燈測試后，通過繼電器控制燈具在此環(huán)境下進(jìn)行沖擊測試，測試設(shè)置為：點(diǎn)燈20s、熄燈20s，循環(huán)100次。測試要求：A，燈具在經(jīng)過高溫高壓測試后，不能發(fā)生表面脫漆、變色、開裂、材料變形等異?，F(xiàn)象；

機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范2013/11/22: 機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范1范圍本規(guī)范規(guī)定了***的機(jī)械環(huán)境測試方法及標(biāo)準(zhǔn)。本規(guī)范適用于***的運(yùn)輸、沖擊、跌落試驗(yàn)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)。然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T14710—2009醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法GB/T4857.1包裝運(yùn)輸包裝件試驗(yàn)時各部位的表示方法GB/T4857

鹽霧試驗(yàn)箱從理論到應(yīng)用2013/11/18: 一、鹽霧的腐蝕大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分，腐蝕是材料及其性能在環(huán)境作用下發(fā)生的質(zhì)變。鹽霧腐蝕就是日常zui常見的大氣腐蝕，鹽霧腐蝕對金屬材料來說是個致命傷。二、鹽霧試驗(yàn)及與實(shí)際的鹽霧試驗(yàn)是利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行的人工模擬鹽霧環(huán)境來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性的環(huán)境試驗(yàn)。鹽霧試驗(yàn)分為兩大類，一類是天然環(huán)境暴露試驗(yàn)，另一類是人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)。人工模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)是利用一種試驗(yàn)設(shè)備—鹽霧試驗(yàn)箱，它的工作原理是：在其容積空間內(nèi)用人工的方法，造成鹽霧環(huán)境來對產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能進(jìn)

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)2013/11/12: 電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)*章可靠性試驗(yàn)概述1電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的目的可靠性試驗(yàn)是對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。具體目的有：（1）發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、元器件、零部件、原材料和工藝等方面的各種缺陷；（2）為改善產(chǎn)品的完好性、提高任務(wù)成功性、減少維修人力費(fèi)用和保障費(fèi)用提供信息；（3）確認(rèn)是否符合可靠性定量要求。為實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)情況可進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)或現(xiàn)場試驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)是通過一定方式的模擬試驗(yàn)，試驗(yàn)剖面要盡量符合使用的環(huán)境

半導(dǎo)體器件的貯存壽命2013/11/05: １引言高可靠半導(dǎo)體器件在降額條件（Ｔｊ＝１００℃）下的現(xiàn)場使用失效率可以小于１０－８／ｈ，即小于１０Ｆｉｔ，按照偶然失效期的指數(shù)分布推算，其平均壽命ＭＴＴＦ大于１０８ｈ，即大于１００００年。據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，電子元器件的貯存失效率比工作失效率還要小一個數(shù)量級，即小于１Ｆｉｔ。國內(nèi)航天用電子元器件有嚴(yán)格的超期復(fù)驗(yàn)規(guī)定，航天各院都有自己的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)，其內(nèi)容大同小異［１］。半導(dǎo)體器件在Ι類貯存條件下的有效貯存期zui早規(guī)定為３年，后放寬到４年，zui近某重點(diǎn)工程對進(jìn)口器件又放寬到５年，比較隨意。同時規(guī)定，每批

鹽霧試驗(yàn)箱從理論到實(shí)際應(yīng)用2013/10/28: 一、鹽霧的腐蝕大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分，腐蝕是材料及其性能在環(huán)境作用下發(fā)生的質(zhì)變。鹽霧腐蝕就是日常zui常見的大氣腐蝕，鹽霧腐蝕對金屬材料來說是個致命傷。二、鹽霧試驗(yàn)及與實(shí)際的鹽霧試驗(yàn)是利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行的人工模擬鹽霧環(huán)境來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性的環(huán)境試驗(yàn)。鹽霧試驗(yàn)分為兩大類，一類是天然環(huán)境暴露試驗(yàn)，另一類是人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)。人工模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)是利用一種試驗(yàn)設(shè)備—鹽霧試驗(yàn)箱，它的工作原理是：在其容積空間內(nèi)用人工的方法，造成鹽霧環(huán)境來對產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能進(jìn)

電子元器件使用過程中的可靠性試驗(yàn)2013/10/23: 電子元器件使用過程中的可靠性試驗(yàn)ReliabilityExperimentaboutAppliedProcessofElectronicComponent李樹生1，王東2（1.中國電子科技集團(tuán)公司第41研究所,青島266555;2.將軍煙草集團(tuán)有限公司濟(jì)南卷煙廠技術(shù)設(shè)備處,濟(jì)南250100）摘要:本文介紹了影響電子元器件可靠性的因素和可靠性試驗(yàn)的原理，主要闡述在電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，為確保產(chǎn)品的可靠性，如何對電子元器件進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。關(guān)鍵詞:電子元器件；可靠性試驗(yàn)；使用過程中圖分類號:TN306文

IEC61646（薄膜太陽光電模塊測試標(biāo)準(zhǔn)）2013/10/08: IEC61646（薄膜太陽光電模塊測試標(biāo)準(zhǔn)）IEC61646薄膜太陽能電池試驗(yàn)項(xiàng)目：說明：透過診斷量測、電性量測、照射測試、環(huán)境測試、機(jī)械測試五種類型測試及檢查模式，確認(rèn)薄膜型太陽能的設(shè)計(jì)確認(rèn)及形式認(rèn)可之要求，并且確認(rèn)模塊能夠在規(guī)范所要求的一般氣候環(huán)境下長期操作。薄膜太陽能驗(yàn)證測試程序IEC61646-10.1目視檢查（Visualinspectionprocedure）目的：檢查模塊內(nèi)任何目視缺陷。IEC61646-10.2標(biāo)準(zhǔn)測試條件下之性能（PerformanceatSTC）目的：用自然光

燈具的IP防護(hù)等級|IP防護(hù)等級測試2013/09/27: 燈具的IP防護(hù)等級測試IP1-：防止大于50mm的固體物體侵入；防止人體（如手掌）因意外而接觸到燈具內(nèi)部之零件。防止較大尺寸（直徑大于50mm）的外物侵入；IP2-：防止大于12mm的固體物體侵入；防止人的手指接觸到燈具內(nèi)部之零件。防止中等尺寸（直徑大于12mm，長度大于80mm）的外物侵入；IP3-防止大于2.5mm的固體物體侵入；防止直徑或厚度大于2.5mm之工具、電線或類似的細(xì)小的外物侵入而接觸到燈具的內(nèi)部零件；IP4-防止大于1.0mm的固體物體侵入；防止直徑或厚度大于1.0mm之工具、

彈簧沖擊錘的能量判定與校準(zhǔn)2013/09/16: 彈簧沖擊錘校準(zhǔn)裝置彈簧沖擊錘校準(zhǔn)裝置是根據(jù)IEC60068-2-75和GB2423.55標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造，用于（0～2）J的彈簧沖擊錘的校準(zhǔn)。本裝置的zui高分辨能力為0.01J，完夠滿足目前市場對彈簧沖擊錘的校準(zhǔn)要求。彈簧沖擊錘校準(zhǔn)裝置是試驗(yàn)室裝置，主要用于彈簧沖擊錘的校準(zhǔn)，它是根據(jù)IEC60068-2-75-1997和GB2423.55-2006標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造，主要適用于第三方檢測機(jī)構(gòu)、國家出入境管理部門以及電器相關(guān)的科研院所使用。主要參數(shù)實(shí)際精度0.01J0.02J重復(fù)精度±0.01J

砂塵試驗(yàn)箱適用于什么行業(yè)？2013/09/12: 砂塵試驗(yàn)箱適用于什么行業(yè)？隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗(yàn)的重要性也對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。電器、電機(jī)、儀器、儀表、各種燈具等

恒溫恒濕箱用水要求2013/09/03: 恒溫恒濕箱用水要求恒溫恒濕箱是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中一款比較少見的多功能試驗(yàn)箱，其具備加溫、降溫、加濕、降濕能力。主要工作原理是把產(chǎn)品放在恒溫恒濕箱規(guī)定的溫度及濕度，看產(chǎn)品的耐高溫，耐低溫以及抗?jié)穸饶芰?。如何正確用水也是恒溫恒濕箱試驗(yàn)成功的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其一，恒溫恒濕箱電阻率越大說明水的絕緣性越好，（電阻率的倒數(shù)就是電導(dǎo)率，電導(dǎo)率越小越好）那么您用的恒溫恒濕箱一般是用脈沖（聲波）加濕，而加濕介質(zhì)是水。那為何用水加濕呢？因?yàn)橛盟訚窳Ｗ颖容^大，如果長時間對濕度有要求，那么對濕度傳感器的使用壽命會有影響，（濕度

人工加速老化試驗(yàn)條件的選擇條件2013/09/03: 人工加速老化試驗(yàn)條件的選擇這個問題實(shí)際上可以理解為應(yīng)該模擬哪些老化因素，高分子材料在使用過程中，氣候環(huán)境里許多因素都有可能對高分子材料的老化產(chǎn)生作用。如果事先知道產(chǎn)生老化的主要因素，就可以有針對性的選擇試驗(yàn)方法。我們可以從該材料的運(yùn)輸、儲存、使用環(huán)境以及其老化機(jī)理等方面考慮，確定試驗(yàn)方法。例如硬聚氯乙烯型材，使用聚氯乙烯為原料，添加穩(wěn)定劑、顏料等助劑加工而成，主要用于室外。從聚氯乙烯的老化機(jī)理考慮，聚氯乙烯受熱易分解；從使用環(huán)境考慮；空氣中的氧、紫外光、熱、水分都是引起型材老化的原因。因此，國標(biāo)

LED可靠性測試規(guī)范2013/08/15: 1.0目的建立實(shí)驗(yàn)室可靠性測試的標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范，完善產(chǎn)品測試標(biāo)準(zhǔn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量。2.0適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于模組類、柔性燈帶類以及直條燈類成品可靠性測試。3.0內(nèi)容3.1測試項(xiàng)目成品可靠性測試包含但不限于以下項(xiàng)目，在提交測試過程中根據(jù)實(shí)際情況在測試單中注明需要執(zhí)行的測試項(xiàng)目?；A(chǔ)參數(shù)測試：產(chǎn)品的基本參數(shù)；環(huán)境測試：溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高濕熱循環(huán)、高溫存儲、低溫存儲、高溫高濕儲存、抗UV測試；壽命測試：常規(guī)衰減測試、高溫高濕壽命測試、低溫衰減測試、加速衰減測試、規(guī)定焊點(diǎn)溫度下衰減測試；破壞性測試：通斷電

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