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上海明策電子科技有限公司

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  • 2025

    04-17

    D&S太陽光譜反射儀 SSR-ER:符合ASTM C1549-04、E891-87 等標(biāo)準(zhǔn)

    在太陽能材料、節(jié)能建筑、光學(xué)涂層和航空航天等高精尖領(lǐng)域,對材料在不同太陽輻照條件下的反射特性有著嚴(yán)格的測量需求。D&S太陽光譜反射儀SSR-ER:符合ASTMC1549-04、E891-87等標(biāo)準(zhǔn),正是為滿足這一需求而打造的一款高精度、多功能光譜測量設(shè)備。設(shè)備概述SSR-ERv6采用可選擇的太陽光譜測量模式,精確模擬多種全球與直射太陽輻照度模型,適用于各種漫反射與鏡面材料,包括厚度達(dá)6.4毫米的二次反射面。其測量分辨率達(dá)0.001單位,重復(fù)性優(yōu)于0.003單位,為太陽反射率與吸收率測量樹立了新標(biāo)
  • 2025

    04-16

    熱像儀測試系統(tǒng)的正確使用步驟分享

    熱像儀測試系統(tǒng)是用于評估紅外熱像儀性能的關(guān)鍵儀器,涵蓋光學(xué)、電子及熱學(xué)多領(lǐng)域技術(shù)。該系統(tǒng)通過標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)、黑體輻射源及高精度圖像采集卡,對熱像儀的溫差分辨力(MRTD)、噪聲等效溫差(NETD)、調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)等核心參數(shù)進(jìn)行量化分析。為了確保熱像儀能夠提供準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù),熱像儀測試系統(tǒng)遵循正確的操作步驟至關(guān)重要。以下是詳細(xì)的使用步驟:1、準(zhǔn)備工作在開始使用前,先要檢查儀器的狀態(tài)和配件是否齊全。確認(rèn)電池電量充足或電源連接正常,并且鏡頭清潔無塵。根據(jù)具體應(yīng)用場景選擇合適的鏡頭(如果支持更換鏡頭)
  • 2025

    04-16

    M390超高溫黑體爐在爆炸溫度場測量實(shí)驗(yàn)中的作用

    在高溫實(shí)驗(yàn)和測試中,準(zhǔn)確的溫度控制和測量是至關(guān)重要的,尤其是在爆炸溫度場等瞬態(tài)高溫環(huán)境的測量中。傳統(tǒng)的溫度測量方法面臨很多挑戰(zhàn),例如響應(yīng)速度慢或在嚴(yán)苛條件下難以提供準(zhǔn)確的測量。為了解決這些問題,M390超高溫黑體爐在實(shí)驗(yàn)中發(fā)揮了關(guān)鍵作用。我司提供的mikronM390超高溫黑體爐在爆炸溫度場測量中的重要作用,尤其是在溫度標(biāo)定、精確測量和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證等方面的應(yīng)用。1.溫度標(biāo)定的基礎(chǔ)作用在任何高溫測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,溫度標(biāo)定是確保測量準(zhǔn)確性的重要步驟。M390超高溫黑體爐為實(shí)驗(yàn)提供了已知、穩(wěn)定的高溫輻射源
  • 2025

    04-15

    MS多傳感器/激光測試系統(tǒng):可進(jìn)行MTF、MRTD高精度測試

    MS多傳感器/激光測試系統(tǒng)作為上海明策電子科技有限公司提供的一款模塊化測試平臺,專為多光譜成像與激光系統(tǒng)設(shè)計(jì),可測試包括熱成像儀、可見光/近紅外(VIS-NIR)相機(jī)、短波紅外(SWIR)相機(jī)、激光測距儀、指示器等設(shè)備。核心優(yōu)勢:1.多傳感器兼容性:支持云臺型、俯仰型、箱式及便攜式光電系統(tǒng)。2.高精度測試:可測量MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))、MRTD(最小可分辨溫差)、激光發(fā)散角等20余項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)。3.靈活配置:通過30余個可更換模塊,適配不同測試需求,覆蓋120mm至1000mm孔徑的光學(xué)系統(tǒng)。測試
  • 2025

    04-14

    IMPAC高精度高溫紅外測溫儀:量程覆蓋-40-3500℃

    很多用戶都說高溫紅外測溫儀很難選,因?yàn)闇y溫怎么都不準(zhǔn)確。但是小編我想說那是你沒有選到合適的。來看看小編給你介紹的幾種型號吧!第一種型號:IMPACIS140IMPACIS140,IMPACIS140-PB高溫紅外測溫儀有3種不同的調(diào)焦鏡頭可供選擇,可實(shí)現(xiàn)極小的光斑。測溫范圍:550-3300°C。響應(yīng)時間短,小于1毫秒,另有500微秒可選,光斑尺寸極小,最小為0.35毫米。IMPACIS140是數(shù)字式、高精度測溫儀,用于非接觸式測量金屬、陶瓷、石墨等物體的溫度。IMPACIS140儀器有3種不同
  • 2025

    04-11

    電弧等離子體炬溫度測量解決方案:IMPAC MB35L紅外測溫儀

    電弧等離子體炬的溫度控制對于石墨的提純效果至關(guān)重要。電弧等離子體炬能夠產(chǎn)生超高的溫度,通過精準(zhǔn)的溫度監(jiān)測,可以確保石墨原料的有效處理,去除其中的雜質(zhì)。為此,本文采用了IMPACMB35L紅外測溫儀對電弧等離子體炬的溫度進(jìn)行了精確監(jiān)測。溫度監(jiān)測與控制在實(shí)驗(yàn)中,電弧等離子體炬的工作電流為400A,氣體流量設(shè)定為25L/min。此時,等離子體炬的弧長最長,電弧表面的溫度逐漸升高。通過IMPACMB35L紅外測溫儀自帶的激光對焦功能,研究人員能夠精確監(jiān)測電弧等離子體炬不同部位的溫度分布。從電極出口到外焰
  • 2025

    04-11

    IMPAC IGA 320/23高精度紅外測溫儀,量程覆蓋75-1800°C

    在工業(yè)生產(chǎn)與品質(zhì)控制過程中,非接觸式溫度測量工具因其精度高、響應(yīng)速度快等特點(diǎn)受到廣泛應(yīng)用。本文將深入介紹由上海明策電子科技有限公司提供的IMPACIGA320/23短波紅外測溫儀,探討其設(shè)計(jì)特點(diǎn)、技術(shù)參數(shù)及典型應(yīng)用。一、產(chǎn)品設(shè)計(jì)特點(diǎn)IGA320/23測溫儀采用了短波紅外技術(shù),波長范圍集中在2至2.6微米,主波長為2.3微米。該波長特別適用于金屬、石墨及陶瓷等材料的表面溫度測量,能夠減少環(huán)境輻射干擾,提高測量精度。儀器外殼由堅(jiān)固的不銹鋼制造,符合IP65防護(hù)等級標(biāo)準(zhǔn),確保其在惡劣工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)定
  • 2025

    04-10

    半球發(fā)射率測試儀D&S AD1/RD1:JG/T235-2014《建筑反射隔熱涂料》

    半球發(fā)射率測試儀AE1/RD1是美國D&S公司生產(chǎn)的一款專業(yè)級設(shè)備,主要用于測量材料在3-30微米紅外波段的半球發(fā)射率,符合GB/T25261-2010、JC/T1040-2007、JG/T235-2008以及JG/T235-2014《建筑反射隔熱涂料》、ASTMC1371-2015等多項(xiàng)國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。JG/T235-2014標(biāo)準(zhǔn)適用于工業(yè)與民用建筑屋面和外墻用的隔熱涂料。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)定義,建筑反射隔熱涂料是以合成樹脂為基料,加入功能性顏料、填料及助劑制備而成的一種特殊涂料,涂覆在建筑外表面,具備高太
  • 2025

    04-09

    高溫光譜發(fā)射率測量中,3000℃超高溫黑體爐有何作用?

    隨著現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)技術(shù)的不斷發(fā)展,高溫輻射測量成為了材料科學(xué)、光譜學(xué)以及熱物理學(xué)等領(lǐng)域的重要工具。在這一過程中,黑體輻射源的應(yīng)用至關(guān)重要。MIKRONM390,作為一款高精度的黑體輻射源,憑借其廣泛的波長響應(yīng)、高溫適應(yīng)性和精準(zhǔn)的溫度控制,已經(jīng)成為許多科研項(xiàng)目和工業(yè)應(yīng)用中的設(shè)備。本文將深入探討MIKRONM390在高溫輻射測量中的創(chuàng)新應(yīng)用,展示其在不同領(lǐng)域中的強(qiáng)大功能。1.高溫材料的輻射率測量在材料科學(xué)中,準(zhǔn)確測量高溫材料的輻射率是研究其熱性能的重要環(huán)節(jié)。MIKRONM390作為黑體輻射源,可
  • 2025

    04-08

    Impac IPE 140 紅外測溫儀:高精度紅外高溫計(jì)

    在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,精確的溫度測量對于保證產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率和保障安全至關(guān)重要。尤其在高溫環(huán)境下,選擇一款可靠的高溫計(jì)至關(guān)重要。ImpacIPE140紅外測溫儀是一款數(shù)字化的高溫測量設(shè)備,它憑借其出色的性能和多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù),成為軌道交通、金屬加工、陶瓷、石墨等行業(yè)的理想選擇。高精度數(shù)字高溫測量ImpacIPE140紅外測溫儀采用全數(shù)字化設(shè)計(jì),提供高的測量精度,適用于各種復(fù)雜的工業(yè)環(huán)境。其精密的可聚焦光學(xué)元件,使得該設(shè)備能夠在極小的光斑尺寸下實(shí)現(xiàn)高精度的溫度測量。通過內(nèi)置的數(shù)字顯示屏,操作人員能夠
  • 2025

    04-07

    航空航天領(lǐng)域電子束增材制造 (EBAM) 溫度場測量與監(jiān)測

    引言隨著增材制造技術(shù)(AdditiveManufacturing,AM)在航空航天等高科技領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,精確的溫度控制成為了確保零件質(zhì)量和生產(chǎn)效率的關(guān)鍵因素。在NASA馬歇爾太空飛行中心(MSFC)進(jìn)行的電子束增材制造(EBAM)過程中,精確的溫度測量是至關(guān)重要的,因?yàn)檫@直接影響到構(gòu)建材料的物理性質(zhì)和最終產(chǎn)品的性能。為了實(shí)現(xiàn)高精度的溫度監(jiān)控,采用了LumaSenseMCS640近紅外熱像儀,結(jié)合先進(jìn)的鏡頭配置,通過S12EBAM系統(tǒng)進(jìn)行溫度數(shù)據(jù)的實(shí)時采集。設(shè)備與系統(tǒng)配置EBAM系統(tǒng)是一款用于金
  • 2025

    04-03

    高溫狀態(tài)下材料法向發(fā)射率測量裝置的研發(fā)與應(yīng)用

    摘要隨著高超聲速飛行器、航天發(fā)動機(jī)等技術(shù)的發(fā)展,材料在高溫環(huán)境下的紅外輻射特性成為熱防護(hù)設(shè)計(jì)與性能評估的關(guān)鍵參數(shù)。本文介紹了一種新型高溫材料法向光譜發(fā)射率測量裝置,其溫度范圍覆蓋1273K~3100K(1000℃~2827℃),突破了傳統(tǒng)設(shè)備在中低溫段的限制,為超高溫材料的研發(fā)與應(yīng)用提供了重要技術(shù)支撐。一、高溫發(fā)射率測量的技術(shù)挑戰(zhàn)與需求材料發(fā)射率是表征其表面紅外輻射能力的核心參數(shù),直接影響飛行器蒙皮的紅外隱身性能、發(fā)動機(jī)熱端部件的散熱效率等?,F(xiàn)有測量裝置(如西安應(yīng)用光學(xué)研究所的1000℃系統(tǒng))多
  • 2025

    04-02

    Mikron M335黑體輻射源:為科研提供高溫輻射解決方案

    在科研和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用中,高精度的溫度控制和快速加熱能力對于實(shí)驗(yàn)的成功至關(guān)重要。MikronM335黑體爐是Lumasense公司推出的一款高溫黑體爐,溫度范圍300-1500℃,專為提供可靠高溫校準(zhǔn)解決方案而設(shè)計(jì)。該設(shè)備在溫度控制、加熱速度和緊湊設(shè)計(jì)方面具有顯著優(yōu)勢,是眾多科研機(jī)構(gòu)和實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。在中國,上海明策電子是MikronM335黑體爐的總代理,致力于為國內(nèi)科研和實(shí)驗(yàn)室提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品支持和技術(shù)服務(wù)。快速加熱:MikronM335黑體爐具備較短的加熱時間,能夠在30分鐘內(nèi)將溫度從環(huán)境溫度
  • 2025

    03-31

    在測量高溫動態(tài)加熱材料的發(fā)射率時,黑體爐有什么作用?

    上一期介紹了高溫動態(tài)加熱條件下材料輻射率的測量,方案中,涉及到上海明策電子科技提供的MIKRONM390黑體爐,那么它在方案中起到了哪些至關(guān)重要的作用呢?其主要作用如下:1.提供穩(wěn)定的輻射源黑體爐是一種用于產(chǎn)生已知溫度下穩(wěn)定輻射的設(shè)備。在測量材料輻射率時,黑體爐提供了一個理想的參考輻射源。通過與黑體爐進(jìn)行輻射比對,可以計(jì)算出樣品的輻射率。黑體爐的輻射源具有理想的黑體輻射特性,即它能夠在特定溫度下發(fā)出吸收并輻射的熱能,輻射率為1.0(在其特定的波長范圍內(nèi))。這種特性使得黑體爐成為輻射率測量中的標(biāo)準(zhǔn)
  • 2025

    03-28

    Mikron M390超高溫黑體爐——300-3000℃溫段長期穩(wěn)定性±0.5℃

    Mikron®M390超高溫黑體爐是上海明策電子科技提供的一款專為精確溫度校準(zhǔn)設(shè)計(jì)的黑體設(shè)備,能夠模擬高溫環(huán)境,并保證在300℃至3000℃的溫度范圍內(nèi)提供穩(wěn)定的溫度控制。該設(shè)備適用于紅外溫度計(jì)、熱成像系統(tǒng)、光學(xué)熱輻射計(jì)及其他高能量光子發(fā)生器的溫度校準(zhǔn)。技術(shù)亮點(diǎn)廣泛的溫度范圍:Mikron®M390的溫度范圍從600℃到3000℃,可以滿足多種行業(yè)對高溫校準(zhǔn)的需求。無論是高溫測試還是精密測量,該設(shè)備都能提供可靠的溫度控制。穩(wěn)定的溫度控制:該設(shè)備在600℃至3000℃的溫度范圍內(nèi)具有±0.5℃的穩(wěn)
  • 2025

    03-27

    如何選擇適合您生產(chǎn)線的工業(yè)固定式高速攝像機(jī)

    選擇適合您生產(chǎn)線的工業(yè)固定式高速攝像機(jī)時,需要綜合考慮多個因素,以確保所選攝像機(jī)能夠滿足特定的應(yīng)用需求。以下是一些關(guān)鍵的考慮因素和選擇建議:一、幀率幀率是衡量高速攝像機(jī)性能的重要指標(biāo),它決定了攝像機(jī)每秒能夠捕捉的畫面數(shù)量。對于需要捕捉快速運(yùn)動物體的生產(chǎn)線,高幀率至關(guān)重要。例如,在高速灌裝生產(chǎn)線監(jiān)測液位或汽車零部件高速沖壓成型檢測中,需要攝像機(jī)具備高幀率捕捉能力,以避免運(yùn)動模糊造成誤判。因此,在選擇時,應(yīng)根據(jù)生產(chǎn)線的實(shí)際需求來確定所需的幀率。二、分辨率分辨率直接影響到圖像的清晰度,是評估攝像機(jī)性能
  • 2025

    03-27

    Mikron 黑體爐_黑體輻射源_高溫黑體爐_3000℃超高溫黑體爐

    Mikron系列提供了多種適用于不同溫度范圍的黑體輻射源,確保您可以在各種應(yīng)用場景中獲得高精度的輻射測量。以下是根據(jù)不同溫度段對各款產(chǎn)品的分類和詳細(xì)介紹:1.低溫黑體輻射源(溫度范圍:環(huán)境溫度至150°C)適用于低溫和環(huán)境溫度下的輻射校準(zhǔn),特別適合熱電偶和紅外溫度計(jì)的校準(zhǔn)。MIKRONM310-HT溫度范圍:環(huán)境+5°C到450°C精度:±0.25%的讀數(shù)±1°C穩(wěn)定性:0.5°C每8小時特點(diǎn):便攜式設(shè)計(jì),適合實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場使用,溫度控制精度高,數(shù)字顯示PID控制器。MIKRONM340黑體輻射源
  • 2025

    03-26

    高溫動態(tài)加熱材料輻射率測量:傅里葉紅外FTIR光譜儀、黑體爐

    本文提出了一種新型的高溫動態(tài)加熱條件下材料輻射率的同時測量技術(shù),并重點(diǎn)介紹了測試方法和實(shí)驗(yàn)設(shè)備,特別是我們公司提供的黑體爐設(shè)備,在實(shí)驗(yàn)中的重要作用。1.測試方法概述輻射率是衡量材料熱輻射能力的重要參數(shù),是材料發(fā)射的輻射能量與理想黑體在相同溫度下發(fā)射的輻射能量之比。傳統(tǒng)的輻射率測量方法大多應(yīng)用于靜態(tài)加熱條件下,但在飛行器的動態(tài)熱負(fù)荷條件下,這種方法往往無法滿足高精度測量的要求。因此,本文提出了一種基于傅里葉變換紅外(FTIR)光譜儀的同步測量技術(shù),用于高溫動態(tài)加熱條件下同時測量材料的輻射率和表面溫
  • 2025

    03-25

    Impac IGA 6 Advanced 紅外測溫儀:高精度非接觸式高溫測溫方案

    ImpacIGA6Advanced紅外測溫儀是一款專為高溫測量設(shè)計(jì)的先進(jìn)紅外設(shè)備,廣泛應(yīng)用于金屬、陶瓷、石墨等材料的非接觸式溫度測量。這款高溫計(jì)的設(shè)計(jì)旨在滿足工業(yè)環(huán)境中對快速、準(zhǔn)確的溫度檢測需求,特別適合處理動態(tài)和快速變化的過程。主要特點(diǎn)堅(jiān)固耐用設(shè)計(jì)IGA6Advanced采用不銹鋼傳感器,具備IP65/NEMA4防護(hù)等級,能夠在惡劣的工業(yè)環(huán)境中穩(wěn)定工作。無論是高溫還是其他嚴(yán)苛條件,都能確保測量儀器的可靠性和耐用性。精準(zhǔn)的測量范圍該系列設(shè)備提供的測溫范圍可從250°C延伸至2500°C,滿足多種
  • 2025

    03-24

    紅外熱像儀MTF測試是什么?該使用什么設(shè)備測試?

    什么是MTF測試?MTF是評估光學(xué)系統(tǒng)性能的標(biāo)準(zhǔn)方法,主要用于衡量光學(xué)系統(tǒng)傳遞不同空間頻率信息的能力。MTF(modulationtransferfunction):MTF結(jié)合了分辨率和對比度兩種指標(biāo),表示了成像系統(tǒng)將分辨率轉(zhuǎn)換為對比度的能力。什么意思呢,隨著圖像分辨率的升高,對比度會下降,(如下圖,與上圖對比,1mm的距離內(nèi)線對更多,因此成像系統(tǒng)造成的模糊帶來的影響也更嚴(yán)重,對比度會比上圖更差),MTF表示了成像系統(tǒng)在分辨率升高的情況下保證對比度的能力。在熱像儀的應(yīng)用中,MTF測試用于評價熱像
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