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巖礦分析系統(tǒng)是用于巖礦樣品分析的儀器設(shè)備2023/10/19: 巖礦分析系統(tǒng)是用于巖礦樣品分析的儀器設(shè)備，通過(guò)對(duì)樣本進(jìn)行化學(xué)、物理、礦物學(xué)等綜合分析，獲取關(guān)于巖礦組分、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)以及地質(zhì)特征等方面的信息。其原理主要包括前處理、分析檢測(cè)和數(shù)據(jù)處理三個(gè)方面。前處理：首先需要對(duì)待測(cè)的巖礦樣品進(jìn)行前處理，主要包括樣品的制備、研磨和樣品制備，保證樣品充分均勻、無(wú)雜質(zhì)。分析檢測(cè)：一般采用多種分析技術(shù)，包括化學(xué)分析、物理分析和礦物學(xué)分析等。其中化學(xué)分析主要通過(guò)化學(xué)反應(yīng)、光譜測(cè)量等方法，檢測(cè)巖礦樣品中的元素含量和組成比例。常見的化學(xué)分析方法有原子吸收光譜法、原子熒光光譜法、

熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)組成介紹2023/09/28: 熒光光譜儀是一種檢測(cè)物質(zhì)的定性、定量分析儀器。其原理是根據(jù)熒光效應(yīng)：激光照射原子，原子中電子吸收能量躍遷到第一激發(fā)單線態(tài)或第二激發(fā)單線態(tài)，但這些激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的，當(dāng)電子由第一激發(fā)單線態(tài)恢復(fù)到基態(tài)時(shí)，能量會(huì)以光的形式釋放，產(chǎn)生熒光，一般持續(xù)發(fā)光時(shí)間短于10^-8秒(同時(shí)產(chǎn)生的磷光持續(xù)時(shí)間大于10^-8秒)。通過(guò)熒光光譜儀的檢測(cè)，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。熒光光譜儀(熒光分光光度計(jì))是測(cè)量熒光的儀器，

進(jìn)口XRD射線衍射儀該如何選擇？2023/09/25: 進(jìn)口XRD射線衍射儀將待測(cè)物質(zhì)粉末狀或薄膜狀涂在樣品支架上。然后，通過(guò)調(diào)節(jié)X射線源的位置和角度，使X射線光束射向樣品。衍射點(diǎn)會(huì)散射到不同角度的位置，檢測(cè)器會(huì)記錄下這些衍射點(diǎn)的位置和強(qiáng)度，并傳輸給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)會(huì)利用衍射點(diǎn)的位置和強(qiáng)度數(shù)據(jù)，根據(jù)熵法、峰形分析等算法來(lái)求解樣品的晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)，如晶胞參數(shù)、原子坐標(biāo)等。通過(guò)它，可以確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，并進(jìn)一步研究物質(zhì)的性質(zhì)和行為。由于其高分辨率和準(zhǔn)確性，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、固體物理、化學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，為科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)提供了重要支持。進(jìn)口XR

進(jìn)口XRD射線衍射儀是用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的儀器2023/09/19: 進(jìn)口XRD射線衍射儀是用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的先進(jìn)儀器。該儀器利用X射線與物質(zhì)相互作用的原理，通過(guò)測(cè)量物質(zhì)對(duì)X射線的衍射模式來(lái)確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線是一種電磁波，具有很短的波長(zhǎng)和很高的能量。當(dāng)X射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)，會(huì)與物質(zhì)內(nèi)部的原子、離子或分子相互作用。其中一種相互作用是散射，當(dāng)X射線遇到物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)時(shí)會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射是X射線經(jīng)過(guò)晶體后，被晶體內(nèi)的平面結(jié)構(gòu)重新散射出來(lái)，形成一系列不同的衍射點(diǎn)。每個(gè)衍射點(diǎn)對(duì)應(yīng)于晶體內(nèi)部的一些平面，這些平面的間距和相對(duì)位置決定了物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。進(jìn)口XRD射線衍射

單頻激光器主要應(yīng)用于哪些領(lǐng)域？2023/08/27: 單頻激光器，即單縱模激光器，它的特點(diǎn)是輸出的激光模式既滿足單橫模又滿足單縱模，其諧振腔內(nèi)部只有單一縱模進(jìn)行震蕩，并且輸出光強(qiáng)呈現(xiàn)高斯分布。除了激光本身良好的單色性和方向性外，單頻激光器擁有普通激光器難以達(dá)到的相干長(zhǎng)度長(zhǎng)、譜線寬度窄的特點(diǎn)。在激光雷達(dá)、激光測(cè)距、激光遙感、激光醫(yī)療、光譜學(xué)、光頻標(biāo)準(zhǔn)和非線性光學(xué)頻率變換等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。單頻激光器要求激光既是單縱模又是單橫模。由于單頻激光器具有光束質(zhì)量好、相干長(zhǎng)度長(zhǎng)、譜線寬度窄、單色性好等優(yōu)點(diǎn)，因此在激光雷達(dá)、激光測(cè)距、激光遙感、激光醫(yī)療、光譜

高溫環(huán)境XRD是種常用的非破壞性分析技術(shù)2023/08/25: 高溫環(huán)境XRD衍射儀是種常用的非破壞性分析技術(shù)，可以用來(lái)研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。然而，在高溫環(huán)境下進(jìn)行XRD研究卻是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。高溫環(huán)境下，樣品受到了高溫的熱膨脹和晶體結(jié)構(gòu)的改變等影響，研究人員需要克服這些困難，以獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。在進(jìn)行之前，需要準(zhǔn)備好高溫下穩(wěn)定的樣品。高溫樣品制備一般采用多種方法，如粉末冶金、電弧濺射、激光熔煉等。這些方法可以使樣品在高溫下保持結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性，從而得到可靠的XRD數(shù)據(jù)。高溫環(huán)境XRD衍射儀在多個(gè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如，在材料科學(xué)中，研究人員可以通過(guò)高溫XRD來(lái)研究材

SEM掃描電鏡的操作使用步驟2023/08/18: SEM掃描電鏡的核心部件包括電子槍、聚焦系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)等。電子槍產(chǎn)生的高能電子束經(jīng)過(guò)聚焦系統(tǒng)聚焦后，由于電子與樣品的相互作用，會(huì)發(fā)生各種信號(hào)的反射和散射。掃描系統(tǒng)通過(guò)控制電子束的掃描位置，將收集到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束掃描像素點(diǎn)的亮度值。檢測(cè)系統(tǒng)則將這些信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束的亮度，形成圖像。分辨率高，可以觀察到更細(xì)微的細(xì)節(jié)和表面形貌。其次，具有更廣泛的觀察范圍，可以用于不同尺寸和形狀的樣品。再次，具有非常強(qiáng)的深度成像能力，可以觀察到樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組織。此外，還可以應(yīng)用于非導(dǎo)電材料的觀察，通過(guò)

X射線粉末衍射儀XRD的操作規(guī)程說(shuō)明2023/07/31: X射線粉末衍射儀XRD，通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長(zhǎng)、周相與入射光相同。基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。適用領(lǐng)域：1.材料晶體大小的測(cè)定期模擬計(jì)算。2.半導(dǎo)體基底上薄膜生長(zhǎng)的納米材料分析。3.納米材料中的物相定性分析。4.納米氧化鋅陶瓷的參雜制

高光譜成像技術(shù)具有哪些優(yōu)勢(shì)功能？2023/06/02: 高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù)，它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結(jié)合，探測(cè)目標(biāo)的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等?？梢詰?yīng)用在食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。與其他光譜成像—樣，高光譜成像收集和處理來(lái)自電磁波譜的信息。目標(biāo)是獲得場(chǎng)景圖像中每個(gè)像素的光譜，可用于尋找物體，識(shí)別材料或檢測(cè)過(guò)程。其光譜成像有兩種，其一是推掃式掃描，它能夠隨著時(shí)間的推移讀取圖像，其二是快照高

煤巖分析系統(tǒng)具有哪些優(yōu)點(diǎn)？2023/05/30: 煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析以及煤炭的反射率及焦炭組分分析。其優(yōu)點(diǎn)有哪些？(1)測(cè)定速度快：每分鐘測(cè)定1000點(diǎn)；(2)測(cè)定點(diǎn)數(shù)多：至少測(cè)定1萬(wàn)點(diǎn)；(3)測(cè)定省時(shí)省力；(4)不受人為因素干擾，測(cè)定結(jié)果客觀公正；(5)測(cè)定符合統(tǒng)計(jì)規(guī)律，測(cè)定結(jié)果重現(xiàn)性與再現(xiàn)性都優(yōu)于有關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；(6)可滿足焦化企業(yè)應(yīng)用中快速、代表性好等要求；(7)可發(fā)現(xiàn)人工或半自動(dòng)測(cè)定由于測(cè)點(diǎn)少，不能測(cè)定到少量混入成分的問(wèn)題；Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射

X射線粉末衍射儀有哪些用途？2023/04/25: X射線粉末衍射儀主要用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)等，廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗(yàn)室。主要用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)等，廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗(yàn)室。主要用途：1、可對(duì)各種多晶樣品進(jìn)行物相定性與定量分析及結(jié)構(gòu)分析。2、分峰和譜圖擬合及晶胞參數(shù)、晶粒尺寸、結(jié)晶度測(cè)定等。3、本儀器除進(jìn)行常規(guī)粉末物質(zhì)檢測(cè)外，該儀器在化學(xué)、物理材料、生物及礦物學(xué)領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用。4、儀器配置附件可進(jìn)行原位反應(yīng)物相分析、粒徑分析、纖維取向分析。Planet便攜

原子力顯微鏡的用途和工作環(huán)境說(shuō)明2023/03/20: 原子力顯微鏡AFM是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測(cè)樣品原子之間的作用力，從而達(dá)到檢測(cè)的目的，具有原子級(jí)的分辨率。主要用途：材料表面形貌的觀察和分析；對(duì)生物細(xì)胞的表面形態(tài)觀察；生物大分子的結(jié)構(gòu)及其他性質(zhì)的觀測(cè)研究；生物分子間力譜曲線的觀測(cè)。原子力顯微鏡受工作環(huán)境限制較少，它可以在超高真空、氣相、液相和電化學(xué)的環(huán)境下操作。（1）真空環(huán)境：最早的掃描隧道顯微鏡（STA）研究是在超高真空下進(jìn)行操作的。后來(lái)，隨著AFM的出現(xiàn)，人們開始使用

激光器的結(jié)構(gòu)組成2023/03/10: 激光器是受激輻射被放大的光的簡(jiǎn)稱，現(xiàn)在主要用來(lái)表示基于激光器原理產(chǎn)生光的器件。有些特定的情況下，也指激光振蕩器，或者指包含激光放大器的器件。激光器技術(shù)是光子學(xué)領(lǐng)域的核心技術(shù)，一般由三個(gè)部分組成：1.工作物質(zhì)這是激光器的核心，只有能實(shí)現(xiàn)能級(jí)躍遷的物質(zhì)才能作為激光器的工作物質(zhì)。目前，激光工作物質(zhì)已有數(shù)千種，激光波長(zhǎng)已由x光遠(yuǎn)至紅外光。例如氦氖激光器中，通過(guò)氦原子的協(xié)助，使氖原子的兩個(gè)能級(jí)實(shí)現(xiàn)粒子數(shù)反轉(zhuǎn)；2.激勵(lì)能源（光泵）它的作用是給工作物質(zhì)以能量，即將原子由低能級(jí)激發(fā)到高能級(jí)的外界能量。通過(guò)強(qiáng)光照

臺(tái)式掃描電子顯微鏡具有可靠實(shí)用的特點(diǎn)2023/02/09: 臺(tái)式掃描電子顯微鏡主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集處理系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、圖像處理顯示和記錄系統(tǒng)、樣品室樣品臺(tái)、電源系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)等組成。利用電子和物質(zhì)的相互作用，圖像為立體形象，次級(jí)電子由探測(cè)體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級(jí)電子信號(hào)，其中包括彈性背反射電子和非彈性背反射電子。具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理，利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生

ISS PC1熒光光譜儀具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？2023/02/03: 熒光光譜儀又稱熒光分光光度計(jì)，是一種定性、定量分析的儀器。通過(guò)熒光光譜儀的檢測(cè)，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。ISSPC1熒光光譜儀是一款高靈敏度，高集成，計(jì)算機(jī)控制的光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀，廣泛應(yīng)用于物理化學(xué)，生物化學(xué)，生理學(xué)，神經(jīng)化學(xué)，分子生物，環(huán)境分析和免疫測(cè)定等科研領(lǐng)域。主要特征:1、高靈敏度緊湊化設(shè)計(jì)，優(yōu)化光路，以便樣品采樣室內(nèi)能接受到ZEI大的激發(fā)光照。緊湊集成設(shè)計(jì)使得儀器能在極低量子產(chǎn)率下，

高溫環(huán)境XRD的這些知識(shí)值得我們學(xué)習(xí)2023/02/02: 高溫環(huán)境XRD管實(shí)質(zhì)上是一個(gè)真空二極管。工作原理：給陰極加上一定的電流被加熱時(shí)，便能放出熱輻射電子。在數(shù)萬(wàn)伏特高壓電場(chǎng)的作用下，這些電子被加速并轟擊陽(yáng)極(又被稱為靶)。陽(yáng)極靶面上受電子束轟擊的焦點(diǎn)呈細(xì)長(zhǎng)的矩形狀(稱線焦點(diǎn)或線焦斑)，從射線出射窗中心射出的X射線與靶面的掠射角為3°-6°。從出射方向垂直焦斑長(zhǎng)邊的兩個(gè)出射窗口觀察，焦斑呈線狀的稱為線光源；從另外兩個(gè)出射窗口觀察，焦斑如點(diǎn)狀稱為點(diǎn)光源。在衍射儀每次安裝管子時(shí)，辨別所使用X射線出射窗口是否為線焦點(diǎn)方向。此外，還要求測(cè)角儀相對(duì)于靶面平面要

高光譜圖像的特點(diǎn)介紹2023/01/17: 高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù)，它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結(jié)合，探測(cè)目標(biāo)的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等?？梢詰?yīng)用在食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。高光譜圖像的特點(diǎn)：特征空間位數(shù)高，數(shù)據(jù)相關(guān)性強(qiáng)，冗余度高，運(yùn)算時(shí)間長(zhǎng)要求的訓(xùn)練樣本多可用于分類的特征多，既包括直接光譜向量，還可以計(jì)算光譜洗手指數(shù)，導(dǎo)數(shù)光譜，紋理特征，形狀特征等派生特征圖像的二階特征再識(shí)別中的

從基本開始認(rèn)識(shí)巖礦分析系統(tǒng)2023/01/09: 巖礦分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測(cè)量方式可滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；只需一次定標(biāo)，就可測(cè)算出視野范圍內(nèi)任意位置的鏡質(zhì)體反射率，提高了測(cè)量效率。巖礦及巖石礦物是一種存在在巖石物質(zhì)內(nèi)部，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期自然因素的相互影響和相互作用形成的天然產(chǎn)物，也被稱之為自然聚合體。巖石礦物不存在與普通巖石中，通常在地殼內(nèi)，由單一或復(fù)雜的化學(xué)元素構(gòu)成。由于巖礦的構(gòu)成元素較多，這些組成元素之間又能進(jìn)行相互作用、隨意組合，因此巖礦物質(zhì)具備明顯的多樣性的特點(diǎn)。根據(jù)相關(guān)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

煤巖分析系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域2022/12/19: 煤巖分析系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析模塊我們?cè)黾恿伺袛鄦畏N煤煤巖成分組成的方法，利用該判斷方法可以得到煤巖組成含量(鏡質(zhì)組、惰質(zhì)組、穩(wěn)定組)。單種煤的鏡質(zhì)組反射率表現(xiàn)為一個(gè)正態(tài)的分布，在全組分反射率累計(jì)直方圖一定區(qū)域內(nèi)它是一條直線，所以煤巖組分百分含量可以用在全組分反射率累計(jì)直方圖中鏡質(zhì)組反射率分布范圍內(nèi)的擬合直線與前后兩條斜率不同曲線的擬合直線的交點(diǎn)來(lái)確定。先根據(jù)鏡質(zhì)組反射率的方差進(jìn)行測(cè)定該煤樣是單種煤或者混合煤。當(dāng)方差小丁0.12時(shí)，煤樣被判別為單種煤，用上述方法判斷煤巖組分，反之，則被判別為混合煤，對(duì)于

X射線衍射儀的工作原理說(shuō)明2022/11/28: X射線衍射儀是礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器,用于對(duì)結(jié)晶物質(zhì)的定性和定量分析，還可確定類質(zhì)同象混晶（固溶體）的成分，有限固溶體的固溶極限，區(qū)分晶質(zhì)和非晶質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。測(cè)定晶體的有序－無(wú)序結(jié)構(gòu)及其有序度，以及粘土礦物的混層結(jié)構(gòu)等。工作原理：粉末樣品經(jīng)一束平行的單色X射線垂直照射后，產(chǎn)生一組以入射線為軸的同軸反射圓錐面族，計(jì)數(shù)管繞樣品旋轉(zhuǎn),依次測(cè)量各反射圓錐面2θ角（即衍射角，又稱布喇格角）位置的衍射線強(qiáng)度，即可獲得表征物相的各種衍射數(shù)據(jù)，從而進(jìn)行物相鑒定和晶體結(jié)構(gòu)的研究。注意事項(xiàng)：1、開關(guān)機(jī)等待提示畫

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