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2021
01-132021
01-13北京品智創(chuàng)思三坐標測量機的應(yīng)用領(lǐng)域
三坐標測量機在機械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)使用。三坐標測量機是測量和獲得尺寸數(shù)據(jù)的有效的方法之一,因為它可以代替多種表面測量工具及昂貴的組合量規(guī),并把復雜的測量任務(wù)所需時間從小時減到分鐘,這是其它儀器而達不到的效果。主要用于機械、汽車、航空、、家具、工具原型、機器等中小型配件、模具等行業(yè)中的箱體、機架、齒輪、凸輪、蝸輪、蝸桿、葉片、曲線、曲面等的測量,還可用于電子、五金、塑膠等行業(yè)中,可以對工件的尺寸、形狀和形位公差進行精密檢測,從而完成零件檢測、外形測量、過程控制等任務(wù)。模具行業(yè)三坐標測量機在2021
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01-13光學膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導體制造的應(yīng)用
FilmetricsF20薄膜測厚儀經(jīng)濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統(tǒng),測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點測量、顯微鏡斑點測量、自動測繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測等功能型號的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics膜厚測試儀產(chǎn)品輕點鼠標就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設(shè)計意味著您能在幾分鐘內(nèi)完成個薄膜厚度測量!產(chǎn)品介紹:1有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm);2大樣品薄膜厚度的測量范圍2021
01-13臺階輪廓測試儀kia-tencor在半導體的應(yīng)用
儀器簡介:應(yīng)用:◆薄膜厚度測量;◆樣品表面形貌測量;◆薄膜應(yīng)力測量;◆樣品表面粗糙度/波紋度測量;◆樣品表面三維形貌測量等。技術(shù)參數(shù):KLA-Tenco探針式臺階儀,可測量納米級至2毫米臺階高度,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力,集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟性于一體,是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復性以及分辨率,主要特點:◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭,經(jīng)久耐用。探針更換簡便、快速,軟件具有保護測針以免發(fā)生損壞功能;◆探2021
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