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2025
01-08簡(jiǎn)述高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理
高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種用于觀察材料表面微觀結(jié)構(gòu)的先進(jìn)電子顯微鏡，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體行業(yè)等領(lǐng)域。它采用場(chǎng)發(fā)射電子源，具有比傳統(tǒng)掃描電鏡（SEM）更高的分辨率和更強(qiáng)的成像能力。其工作原理主要包括電子源、電子束的掃描、樣品與電子束的相互作用、圖像的獲取等過程。高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理如下：1、電子槍和場(chǎng)發(fā)射源其核心部件之一是電子槍，通常采用場(chǎng)發(fā)射電子源。場(chǎng)發(fā)射電子源與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源（如鎢絲陰極）相比，具有更高的亮度和更窄的電子束發(fā)射角度。場(chǎng)發(fā)射電子源的工作原理基于場(chǎng)發(fā)射2024
12-25FIB雙束掃描電鏡的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)是什么？
FIB雙束掃描電鏡是一種結(jié)合了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)的高精度微納加工和分析設(shè)備，在試驗(yàn)時(shí)可通過轉(zhuǎn)動(dòng)試樣臺(tái)使試樣表面與電子束或者離子束垂直，從而達(dá)到對(duì)電子束進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè)和對(duì)離子束進(jìn)行切割或者微加工等效果。應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：1、高精度加工：FIB技術(shù)可以在不破壞樣品整體結(jié)構(gòu)的情況下，制備出高質(zhì)量的截面樣品，適用于多層互連結(jié)構(gòu)和微小缺陷的分析。2、實(shí)時(shí)成像監(jiān)控：SEM可以對(duì)樣品表面進(jìn)行實(shí)時(shí)成像，幫助分析師快速準(zhǔn)確地找到異常區(qū)域，定位問題區(qū)域。3、操作靈活性高：FIB雙束掃描電鏡不僅可以2024
12-20電鏡應(yīng)用|掃描電鏡下的食品微觀結(jié)構(gòu)
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域的高分辨率成像儀器，因其優(yōu)異的表征性能和高分辨率的成像能力，廣泛應(yīng)用于食品微觀結(jié)構(gòu)的表征中。民以食為天，食品是日常生活中不可少的一部分，而食品的微觀結(jié)構(gòu)與品質(zhì)密切相關(guān)，因此利用掃描電子顯微鏡對(duì)食品進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)表征具有重要的意義。首先，掃描電子顯微鏡能夠揭示食品中微觀結(jié)構(gòu)的形貌和組織特征。以鹽為例，傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡分辨率和景深都有限，只能觀察到鹽的晶體外觀，而無法揭示其微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。通過掃描電子顯微鏡，可以清晰地觀察到鹽晶體的表面形貌、晶體大小和形2024
12-20電鏡應(yīng)用|掃描電鏡在電纜失效分析中的應(yīng)用
電連接器在電氣系統(tǒng)中主要應(yīng)用在電信號(hào)的傳輸。復(fù)雜的電信號(hào)系統(tǒng)由成千上萬個(gè)連接器組成。每個(gè)連接器的好壞優(yōu)劣直接影響整個(gè)系統(tǒng)的功能實(shí)現(xiàn)，所以連接器失效造成的影響很大，當(dāng)一根電纜出現(xiàn)失效后需要從連接器到線纜逐一排除問題，發(fā)現(xiàn)根源，進(jìn)而規(guī)避失效電纜的出現(xiàn)。案例一掃描電鏡作為材料顯微分析的重要工具，廣泛應(yīng)用于電纜的失效分析。如下圖Ａ電纜，導(dǎo)線在連接器焊點(diǎn)處發(fā)生斷裂。顯微鏡下對(duì)斷口進(jìn)行觀察，斷口表面存在金屬光澤，斷口附近未見機(jī)械損傷及腐蝕痕跡，斷口宏觀形貌如下圖所示。圖1：電纜斷口宏觀形貌為了進(jìn)一步分析失效2024
12-20電鏡應(yīng)用|硬質(zhì)合金粉末微觀形貌及元素分析
掃描電子顯微鏡在硬質(zhì)合金材料中的分析和應(yīng)用十分廣泛，主要應(yīng)用于硬質(zhì)合金材料粉末的形貌觀察，均勻性和結(jié)晶度觀察，合金組織觀察，斷口分析，微區(qū)成分分析以及涂層厚度測(cè)量等。還可以用于深入研究硬質(zhì)合金材料的微觀結(jié)構(gòu)與工藝條件及性能的關(guān)系，對(duì)材料整個(gè)生產(chǎn)鏈的機(jī)理研究，工藝研發(fā)和質(zhì)量控制等均可提供指導(dǎo)性的作用。硬質(zhì)合金的原材料硬質(zhì)合金是以一種或幾種難熔碳化物（碳化鎢、碳化鈦等）的粉末，加入作為粘結(jié)劑的金屬粉末（鈷、鎳等），經(jīng)過粉末冶金法制得的合金。而硬質(zhì)合金的性能直接取決于其顯微結(jié)構(gòu)，而合金的顯微結(jié)構(gòu)在制造2024
12-202024
12-102024
12-04環(huán)境真空掃描電鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)境真空掃描電鏡是一種結(jié)合了掃描電鏡(SEM)和環(huán)境掃描電鏡技術(shù)的儀器，具有較傳統(tǒng)掃描電鏡更高的靈活性和應(yīng)用范圍。它在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，以下是環(huán)境真空掃描電鏡一些主要的應(yīng)用領(lǐng)域：1、材料科學(xué)：在材料科學(xué)中發(fā)揮著重要作用。它可以用于觀察材料的表面形貌、紋理和結(jié)構(gòu)，并研究材料的表面化學(xué)成分和反應(yīng)行為。這對(duì)于材料開發(fā)、質(zhì)量控制和故障分析非常關(guān)鍵。2生物學(xué)：被廣泛應(yīng)用于生物學(xué)研究中。它可以幫助科學(xué)家觀察生物樣品的微觀結(jié)構(gòu)，如細(xì)胞、組織和生物體的外觀。還可以研究生物樣品的形態(tài)、表面特征和互動(dòng)過程，以2024
11-252024
11-142024
11-112024
11-082024
11-052024
10-252024
10-25電鏡應(yīng)用|Apreo 2表征鋰電池硅基負(fù)極材料
為了提高鋰電池的能量密度，市場(chǎng)急需容量高、成本低廉、可規(guī)?；a(chǎn)的新型材料。與插層類石墨負(fù)極材料相比，Si、Ge、Al、Sb等合金類負(fù)極材料具有更高的儲(chǔ)鋰容量。硅基負(fù)極材料硅基負(fù)極材料的比容量最高，可高達(dá)3500mAh/g，是石墨容量的10倍。開發(fā)硅基負(fù)極材料的另一個(gè)原因是Si是地殼中第二大儲(chǔ)量的元素（質(zhì)量比占28%），表明其具有低成本大量生產(chǎn)的潛力。但是硅基負(fù)極材料在鋰的嵌入/脫出過程中體積膨脹（Si的膨脹率甚至達(dá)到300%）而導(dǎo)致顆粒粉化，導(dǎo)致電極失效；而且由于Li嵌入/脫出的電化學(xué)電位較低2024
10-252024
10-202024
10-172024
10-14智能型鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
智能型鎢燈絲掃描電鏡是現(xiàn)代材料科學(xué)中重要的分析工具之一。它利用電子束掃描樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子和背散射電子來獲得樣品表面的高分辨率圖像。以下是智能型鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的一些具體應(yīng)用：1、納米材料表征：隨著納米科技的發(fā)展，納米材料的制備和應(yīng)用越來越廣泛。它可以提供高達(dá)納米級(jí)別的分辨率，使得研究人員能夠詳細(xì)觀察納米粒子的形態(tài)、大小和分布情況。這對(duì)于理解納米材料的性能和應(yīng)用至關(guān)重要。2、復(fù)合材料分析：在材料科學(xué)中，復(fù)合材料由兩種或兩種以上不同材料組成，以獲得更優(yōu)異的性能2024
10-11高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在生物醫(yī)學(xué)研究中的應(yīng)用
高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種先進(jìn)的顯微技術(shù)，它利用電子束與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)，通過檢測(cè)這些信號(hào)來獲得樣品表面的高分辨率圖像。在生物醫(yī)學(xué)研究中，因其高分辨率、大景深和能夠直接觀察厚樣品表面結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于細(xì)胞生物學(xué)、病理學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。以下是高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡一些具體的應(yīng)用：1、細(xì)胞形態(tài)學(xué)研究：它可以提供納米級(jí)別的分辨率，使得研究人員能夠觀察到細(xì)胞膜的超微結(jié)構(gòu)，如細(xì)胞表面的微絨毛、纖毛和其他特殊結(jié)構(gòu)。這對(duì)于理解細(xì)胞間的相互作用、細(xì)胞遷移和侵襲過程至關(guān)重要。2、組掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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