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2022
05-27

AI助力新能源分析: 鋰離子電池材料顯微智能分析方案
隨著我國新能源汽車產(chǎn)業(yè)的規(guī)模越來越大，對動力鋰電池的需求，也逐步增加。電動汽車的主要能量源是動力電池，其發(fā)展和應用在很大程度上受動力電池性能影響。鋰離子電池發(fā)展至今，憑借其高電壓、高能量密度、良好的循環(huán)性能和綠色環(huán)保等優(yōu)勢成為在新能源應用中廣泛的化學儲能器件之一。圖1：鋰離子電池的組成示意圖鋰離子電池是指以鋰離子嵌入化合物為正極材料電池的總稱，它主要依靠鋰離子在正極和負極之間移動來工作。在充放電過程中，Li+在兩個電極之間往返嵌入和脫嵌：充電時，Li+從正極脫嵌，經(jīng)過電解質(zhì)嵌入負極，負極處于富鋰
2022
05-27

微觀下的散粉世界，致愛美的你
散粉是各位小仙女們必不可少的美妝單品之一。散粉又稱為定妝粉、蜜粉，在底妝后使用，可以有效吸收面部多余油脂，減少油光，有定妝，使妝感更華麗的作用。粉質(zhì)細膩程度是檢驗散粉好壞的重要標準之一，廣告文案中常用：細如云煙，輕如薄紗，柔焦效果如同開啟了磨皮濾鏡，等字眼來表現(xiàn)粉質(zhì)之細膩。那么，粒徑的數(shù)值越小，散粉的效果就會越好嗎？這幾款散粉的粒徑又是多少呢？提到測粒徑，大家可以想到的是：激光粒度儀。激光粒度儀通過顆粒的衍射或散射光的空間分布，來分析顆粒的大小。它可以快速的測量樣品的粒徑大小，直接得到樣本的平均
2022
05-27

等離子清洗機是干什么用的？它的功能和作用
等離子清洗機作用等離子清洗機作用主要體現(xiàn)在以下幾個方面：等離子表面活化/清洗;等離子蝕刻/活化;等離子去膠;等離子涂鍍（親水，疏水）;增強邦定性;等離子灰化和表面改性等大規(guī)模生產(chǎn)場合，通過其處理，能夠改善材料表面的浸潤能力，使多種材料能夠進行涂覆、鍍等操作，增強黏合力，鍵合力，同時去除有機污染物、油污或油脂。等離子清洗機之所以能產(chǎn)生上述作用效果，全靠神奇的等離子體在其中起到至關重要的作用。等離子體和工件表面的化學反應和常規(guī)化學反應有很大不同，由于高速電子的轟擊，很多在常溫下很穩(wěn)定的氣體或蒸汽都可
2022
02-18

透射掃描電子顯微鏡的工作原理和應用介紹
透射掃描電子顯微鏡是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏，膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。透射掃描電子顯微鏡的工作原理是：透射電鏡和光學顯微鏡的各透鏡及光路圖基本一致，都是光源經(jīng)過聚光鏡會聚之后照到樣品，光束透過樣品后進入物鏡，由物鏡會聚成像，之后物鏡所成的一次放大像在光鏡中再由物鏡二次放大后進入觀察者的眼睛，而在電鏡
2022
02-14

sem掃描電鏡在材料領域的具體應用介紹
sem掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。sem掃描電鏡SEM的原理：能顯示各種圖像的信息是由于聚焦的電子束與樣品的相互作用而產(chǎn)生的各種信號。相互作用區(qū)的線性體積：隨原子序數(shù)的增加而減?。浑S電子束能量的增加而增加；電子束與樣品的角度關系是傾斜角增加
2022
02-11

成就客戶 | MaipSCAN&中國石油長城鉆探，驗收工作穩(wěn)步進行
2021年6月中旬，全新一代巖石屬性分析系統(tǒng)MaipSCAN順利落地中國石油長城鉆探工程有限公司，在錄井基地地質(zhì)檢測中心巖礦掃描室成功安裝調(diào)試。設備安裝現(xiàn)場現(xiàn)階段，設備驗收工作穩(wěn)步進行中，長城公司滿懷信心、翹首以待！驗收工作分為重復性、穩(wěn)定性、平行性實驗對比。重復性實驗，取3塊具有代表性的巖心樣品，每個樣品重復測量10次；穩(wěn)定性實驗，取3塊具有代表性的巖心樣品，在不同時間段分別測量5次。部分測試結果如下：重復性試驗：Sample1，深度3683.50米，重復測量10次穩(wěn)定性試驗：Sample1，
2022
01-07

可以實時檢測形貌與元素信息的“鎢燈絲掃描電鏡”
鎢燈絲掃描電鏡成像平臺即時可用。彩色圖像讓成分分布更直觀，實時定量能譜分析讓科研更高效，低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的CBS探頭(同軸環(huán)狀背散射探頭)使不導電樣品也可以在不鍍金條件下呈現(xiàn)*的成像性能。低真空則可以在不鍍膜的情況下對不導電樣品進行更真實的能譜元素分析。專為快速分析而設計，智能型掃描電鏡，讓新手用戶也可以輕松操縱。鎢燈絲掃描電鏡將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學術和工業(yè)用戶快速獲得全面、可靠的數(shù)據(jù)，準確執(zhí)行故障分析和缺陷檢測。通用型
2022
01-07

場發(fā)射掃描電鏡的性能特點介紹，真的很全！
場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統(tǒng)，實現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內(nèi)高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現(xiàn)成像及分析性能。在原有性能基礎之上，進一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。場發(fā)射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術，不再需要用戶手動進行調(diào)整操作，而且，F(xiàn)LASH自動執(zhí)行精細調(diào)節(jié)工作，只需移動鼠標幾次，就可
2021
12-06

專為快速分析而設計的“賽默飛電子顯微鏡”
賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統(tǒng)能譜會利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進行數(shù)據(jù)處理，因而數(shù)據(jù)獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數(shù)據(jù)所用的是同一掃描發(fā)生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應脈沖整形技術，確保各種條件下均能獲得可靠數(shù)據(jù)。元素分布圖通過定量算法形成，因此，所顯示的成分數(shù)據(jù)可靠，且結果中不會出現(xiàn)重疊峰誤判等。專有的陰影檢測算法幫助確保信
2021
12-03

掃描電鏡顯微鏡在不同行業(yè)中的應用
由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對各種化學物質(zhì)進行非常詳細的分析。它打破了傳統(tǒng)臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性，利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技術，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測器作為基礎成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。在檢查半導體和微電子器件時，需要靈活選擇和使用操作參數(shù)(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環(huán)境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會導致器件失效。掃描電鏡顯微
2021
12-03

場發(fā)射電鏡真的那么好用嗎？
場發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，是以場發(fā)射電子發(fā)射體發(fā)射電子，并以電子束為光源，在真空狀態(tài)下通過電磁透鏡控制電子束匯集成很小的束斑照射并透過樣品。由于電子的德布羅意波長非常短，可以獲得樣品原子級微觀形貌。其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進行形貌觀察，同時利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進行定性定量分析。具有電子束斑小、高分辨率、穩(wěn)定性好等特點。場發(fā)射電鏡有以下幾種用途：1.納米材料基本特性分析：對有機、無機、納米材料進行微觀形態(tài)研究，獲得其表面形貌。利
2021
12-03

透射掃描電子顯微鏡的核心優(yōu)勢介紹，請收好！
透射掃描電子顯微鏡既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡，可以將樣品冷卻到液氮溫度，特別適用于觀測蛋白、生物切片等對溫度敏感的樣品。通過對樣品的冷凍，可以降低電子束對樣品的損傷，減小樣品的形變，從而得到更加真實的樣品形貌。透射掃描電子顯微鏡成像是利用會聚的電子束在樣品上掃描來完成的。在掃描模式下，場發(fā)射電子源發(fā)射出電子，通過在樣品前磁透鏡以及光闌把電子束會聚成原子尺度的束斑。電子束斑聚焦在試樣表面后，通過線圈控制逐點掃描樣品的一個區(qū)域。在每掃描一點的同時，樣品下面的探測器同步接收被散射的電
2021
12-03

PFIB顯微鏡的小知識，快來學習一下！
PFIB顯微鏡是一款雙束電鏡，它可以簡單理解為單束聚焦離子束系統(tǒng)與普通SEM的耦合。單束聚焦離子束系統(tǒng)由離子源、離子光學柱、束描畫系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng)和樣品臺五個部分構成。離子源設置在離子束鏡筒的頂端，在其上加較強的電場可以抽取出帶正電荷的離子，這些離子通過靜電透鏡及偏轉裝置的聚焦和偏轉來實現(xiàn)對樣品的可控掃描。樣品加工是通過將加速的離子轟擊樣品使其表面原子發(fā)生濺射來實現(xiàn)，同時產(chǎn)生的二次電子和二次離子被相應的探測器收集并用于成像。為了避免離子束受周圍氣體分子的影響，與掃描電鏡類似，樣品腔和離子束鏡筒
2021
12-03

一文帶你認識球差電鏡！
球差電鏡，什么是球差？球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差(球差、像散、彗形像差和色差)的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到一個焦點的缺點，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。球差電鏡，球差是由什么產(chǎn)生的？TEM中包含多個磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由于磁鏡的構造不好造成
2021
12-03

聚焦離子束電鏡究竟有何不同？
隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束(FIB)技術利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合聚焦離子束電鏡等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。典型的聚焦離子束電鏡包括液態(tài)金屬離子源及離子引出極、預聚焦極、聚焦極所用的高壓電源、電對中、消像散電子透鏡、掃描線圈、二次粒子檢測器、可移動的樣品基座、真空系統(tǒng)、抗振動和
2021
12-03

什么行業(yè)可以使用環(huán)境掃描電鏡？它能在你的行業(yè)中使用嗎？
環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。環(huán)境掃描電鏡的應用范圍：1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。2、各種材料微區(qū)化學成分的定量檢測。3、粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀察和粒度
2021
12-03

看看這些內(nèi)容，這是你想了解的STEM透射電鏡嗎？
STEM透射電鏡是怎么來的？掃描電子顯微鏡已成為表征物質(zhì)微觀結構*的儀器。在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質(zhì)發(fā)生相互作用，可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，通過采集二次電子、背散射電子得到有關物質(zhì)表面微觀形貌的信息，背散射電子衍射花樣得到晶體結構信息，特征X-射線得到物質(zhì)化學成分的信息，這些得到的都是接近樣品表面的信息。在掃描電鏡中，電子束與薄樣品相互作用時，會有一部分電子透過樣品，這一部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是掃描透射像(STEM像)。STEM透射電鏡透射電子像的
2021
12-03

看看這篇文章，了解一下掃描電子顯微鏡！
掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。廣泛用于生物學、醫(yī)學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。掃描電子顯微鏡是以能量為1-30kV間的電子束，以光柵狀掃描方式照射到被分析試樣的表面上，利用入射電子和試樣表面物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的二次電子和背散射電子成像，獲得試樣表面微觀組
2021
12-03

FIB雙束掃描電鏡是什么？他又有那些用途？
隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發(fā)展，器件及電路結構越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束掃描電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。FIB雙束掃描電鏡是指同時具有聚焦離子束(FocusedIonBeam，F(xiàn)IB)和掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)功能的儀器。它可以實現(xiàn)SEM實時觀測FIB微加工過程的功能，把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優(yōu)勢集于一身。其中，
2021
12-03

環(huán)掃電鏡常見分類和應用領域
環(huán)掃電鏡是一種掃描電子顯微鏡，利用聚焦電子束掃描樣品的表面來產(chǎn)生樣品表面的圖像。最常見的掃描電鏡模式是檢測由電子束激發(fā)的原子發(fā)射的二次電子?？梢詸z測的二次電子的數(shù)量，取決于樣品測繪學形貌。環(huán)掃電鏡常見分類：1.分析掃描電鏡:掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS后發(fā)展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進行定性和無標樣定量分析。2.場發(fā)射槍掃描電鏡：場發(fā)射掃描電鏡得到了很大的發(fā)展，不僅提高了常規(guī)加速電壓時的分辨本領，還顯著改善了低壓性能。3.低壓掃描電鏡：低壓掃描電鏡LVS

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