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02-28CPS納米粒度分析儀有別于傳統(tǒng)方法的優(yōu)勢
CPS納米粒度分析儀,有別于傳統(tǒng)方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區(qū)分提供新的解決方案這種原理有以下幾點優(yōu)勢:分辨率高:同激光散射和顆粒計數(shù)法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。對于只有1%的顆粒差異分布的時候,該方法測定的結(jié)果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身,而不是分布顆粒的混合圖。靈敏度高:低至10-8g的樣品就可以滿足日常分析需要。重復性高:樣品結(jié)果在95%的典型置信度下,連續(xù)重復分析峰的重復性小于+/-1%或更好。快速、高精度數(shù)模(A/D)轉(zhuǎn)換:可用信號分辨率(即軟件操作2022
02-232022
01-132021
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