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2023年7月11日-13日，亞洲激光、光學(xué)、光電行業(yè)的年度盛典——慕尼黑上海光博會(huì)在國(guó)家會(huì)展中心(上海)隆重舉辦。隨著國(guó)內(nèi)經(jīng)濟(jì)的強(qiáng)力復(fù)蘇，上海慕尼黑光博會(huì)強(qiáng)勢(shì)回歸，展覽面積再創(chuàng)新高，總面積達(dá)80000平方米，展出面積較上一屆增長(zhǎng)26%，吸引了全球1100余家光電行業(yè)企業(yè)入駐，為80000名海內(nèi)外觀眾搭建了一個(gè)高效、創(chuàng)新、優(yōu)質(zhì)的溝通平臺(tái)。

本屆展會(huì)，冠乾科技（上海）有限公司亮相6號(hào)館1F120，冠乾科技Grant Technology一直以來追求優(yōu)秀品質(zhì)的產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù)。這次展會(huì)，也吸引眾多游客駐足來了解。

展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)

水平式激光干涉儀

   水平式激光干涉儀，是一種使用動(dòng)態(tài)分析方法的斐索型激光干涉儀。該干涉儀具備良好的抗振性能，可以在有空氣擾動(dòng)，輕微振動(dòng)的環(huán)境下檢測(cè)。這使得該干涉儀在傳統(tǒng)相移技術(shù)無法進(jìn)行測(cè)試的環(huán)境中，仍能提供精密可靠的計(jì)量檢測(cè)，這種具有可模塊化組合和低成本等特點(diǎn)的無損檢檢測(cè)干涉儀是工業(yè)加工現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)需求的新方向。

平面平晶檢測(cè)干涉儀

       平面平晶檢測(cè)干涉儀采用組合式激光干涉儀作為核心部件，包括光源、主機(jī)、成像以及鏡頭和相移等四大模塊。

采用更加簡(jiǎn)便操作的俯式測(cè)量，突破了一等平面平晶限制，且其采樣點(diǎn)可達(dá)上百萬像素，能客觀反映被測(cè)平面全貌。而且應(yīng)用廣泛：比如計(jì)量領(lǐng)域平面平晶檢測(cè)，半導(dǎo)體工業(yè)晶片檢測(cè)，光學(xué)加工窗口玻璃檢測(cè)等， 具有廣闊的市場(chǎng)前景。

紅外原子力顯微鏡

       Dimension IconIR是一款集合了納米級(jí)紅外光譜（nanoIR）技術(shù)和掃描探針顯微鏡（SPM）技術(shù)的系統(tǒng)。它整合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新和研究成果，可以在單一平臺(tái)上提供納米級(jí)紅外光譜、物理和化學(xué)性能表征。該系統(tǒng)具有超高的單分子層靈敏度和化學(xué)成像分辨率，在保留Dimension Icon ® 最佳的AFM測(cè)量能力的同時(shí)，還提供了極大的樣品尺寸靈活性。

傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀

   INVENIO 是布魯克推出的研究級(jí)傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的入門級(jí)產(chǎn)品。INVENIO 產(chǎn)品的創(chuàng)新技術(shù)及其智能精巧的設(shè)計(jì)為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹立了 標(biāo)準(zhǔn)。新的光路設(shè)計(jì)將帶來優(yōu)異的信噪比、較寬的光譜范圍（覆蓋從遠(yuǎn)紅外至紫外/可見光譜區(qū)）和高的靈活性，適用于各種復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)配置。可選的集成平板電腦觸控界面讓 您擁有簡(jiǎn)單的工作流程和舒適的操作體驗(yàn)。 布魯克的MultiTect™ 檢測(cè)器技術(shù)支持多達(dá)5個(gè)全自動(dòng)室溫檢測(cè)器。結(jié)合獨(dú)立的 DigiTect™ 檢測(cè)器位與支持快速 MIR 測(cè)量的 Transit™ 通道，INVENIO 內(nèi)部可配備多達(dá) 7個(gè)自動(dòng)檢測(cè)器，讓您的日常工作變得更加舒心。

X射線衍射儀

  D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對(duì)光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問題從此成為歷史！
  高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
  先進(jìn)的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

  冠乾科技(上海)有限公司，是專為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及儀器技術(shù)的平臺(tái)。我們致力于為客戶更精準(zhǔn)地把握工藝過程,得到精確的檢測(cè)結(jié)果而服務(wù)?？s短您等待，重復(fù)實(shí)驗(yàn)，和供應(yīng)商爭(zhēng)論的時(shí)間，避免帶來的重大損失。