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光功率計和傳感器
X-Cite® XR2100光功率測量系統(tǒng)
X-Cite®光功率測量系統(tǒng)的*設(shè)計專門用于測量熒光顯微設(shè)備的光功率，具有的精準性和易用性。它以瓦特為單位顯示數(shù)據(jù)，不僅可用于實驗，還可以用于設(shè)備的安裝和故障排除。該系統(tǒng)包括X-Cite® XR2100傳感器，外形小巧別致，專門設(shè)計用于顯微鏡載物臺。它具有多種功能，可以對X-Cite® XR2100照明器或其他任何落射熒光光源的輸出功率進行測量。
為了實現(xiàn)zui終的可重復性，X-Cite® XR2100會利用光導管輸入端口或物體平面上的X-Cite® XP750光功率計獲得的功率數(shù)據(jù)，來校準X-Cite® exacte照明器。
功能和優(yōu)勢
功能 | 優(yōu)勢 |
X-Cite® XR2100 | |
小巧的顯微鏡載玻片尺寸 | 適合標準的顯微鏡壓片夾，更方便的直接從物鏡測光，無需移除或重新配置設(shè)備 |
兼容燈泡，激光和 LED 光源 | 不僅技術(shù)，還能適配多種顯微鏡，更經(jīng)濟 |
探測面積高達 – 10mm | 同時適用低倍和高倍物鏡 |
無聚焦要求 | 快速精確測量 |
寬廣的波長和功率測量范圍 | 適合多樣化的用途和顯微鏡配置 |
根據(jù)NIST/NRC標準進行校對 | 測量結(jié)果準確，深受用戶信任 |
* NIST指美國國家標準技術(shù)研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美國）全國科學研究委員會（National Research Council）***建議每12個月對 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校準一次。Lumen Dynamics集團獲得更多信息。 | |
X-Cite® XR2100 | |
背光液晶顯示器 | 即使在顯微鏡成像室暗淡的光照條件下，數(shù)據(jù)也可清晰顯示 |
使用通過物體平面功率傳感器或光導管的雙輸入端口測量功率 | 有選擇性地監(jiān)測整個顯微鏡或單個元件的光源性能 |
根據(jù)NIST＊標準進行校準 | 測量結(jié)果準確，深受用戶信任 |
一鍵完成數(shù)據(jù)收集、存儲和輸出 | 精確無紙化記錄，更好整理數(shù)據(jù) |
PC 界面 | 通過PC界面，方便管理設(shè)置和數(shù)據(jù)；適用于自動化和OEM使用 |
兼容X-Cite® exacte 校準功能 | 通過光導管或物體平面功率傳感器輕松校準X-Cite® exacte，用瓦為單位顯示和設(shè)定功率 |
* NIST指美國國家標準技術(shù)研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美國）全國科學研究委員會（National Research Council）***建議每12個月對 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校準一次。Lumen Dynamics集團獲得更多信息。 | |
XR2100規(guī)格
規(guī)格 | |
包括 | 手持式功率計、3mm光導管適配器、軟件CD、電纜、用戶手冊 |
功率范圍 | 50mW-10W |
測量分辨率 | 0.1mW-0.01W |
誤差*** | ±5% |
響應(yīng)時間 | 1s |
校準 | 符合NIST 標準* |
波長范圍 | 340nm-675nm |
燈管類型/光源兼容性 | X-Cite® exacte, X-Cite® 120 系列(使用3mm光導輸入口) |
物鏡兼容性 | 不適用 |
顯示 | 3位數(shù)字液晶顯示，背光照明 |
波長選擇 | 不適用 |
數(shù)據(jù)容量 | 手持設(shè)備可儲存100+讀數(shù)記錄，或者進入PC界面直接記錄；以 Excel數(shù)據(jù)表兼容的格式進行輸出 |
PC控制 | 查看/改變設(shè)置，下載/輸出存儲數(shù)據(jù) |
指令協(xié)議 | RS232經(jīng)USB虛擬COM端口 |
電源 | 2×3.6V鋰電池 |
重量 | 1lb (450g) |
尺寸（無蓋） | 7.5″ x 4.5″ x 2″ (19cm x 11.5cm x 5cm) |
世界認證 | CE標識 |
質(zhì)保 | 1年 |
X-Cite®光功率測量系統(tǒng)包含的技術(shù)受下列保護： US#6,437,861; US#7,335,901 | |
* NIST指美國國家標準技術(shù)研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美國）全國科學研究委員會（National Research Council）***建議每12個月對 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校準一次。Lumen Dynamics集團獲得更多信息。 | |
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