二手icp-ms產品特性：
● 快速提高常規(guī)金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包含預定義設置的可簡便加載和運行的預設方法，預定義設置涉及從等離子體條件到分析物積分時間及內標。對于新方法，方法向導將根據樣品類型和應用建立方法。了解關于飲用水、環(huán)境廢棄物和制藥產品解決方案中元素雜質的更多信息。
● 減少樣品前處理 — 7800 ICP-MS 標配*的耐高鹽進樣 (HMI) 技術，無需稀釋即可分析總溶解固體 (TDS) 含量高達 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節(jié)省了時間。
● 大限度減小信號抑制 — HMI 能減少信號抑制，因此可以準確測定高基體樣品而無需標樣的基體匹配。
● 有效去除干擾，確保數(shù)據準確性 — 氦氣 (He) 碰撞模式可在同一套質譜條件下去除所有多原子離子干擾，簡化了方法開發(fā)與日常操作。He 模式無需基體特異性或分析物特異性反應池條件。
● 在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態(tài)范圍正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可在一次運行中實現(xiàn)常量元素（數(shù)百或數(shù)千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的上限濃度可減少由超量程結果造成的樣品再運行。
● 提高通量和分析效率 — 可選的集成式進樣系統(tǒng) (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進樣器可在不影響數(shù)據質量的前提下降低每個樣品的分析成本。
Agilent 7800 電感耦合等離子體質譜儀信息，如您想了解更多關于Agilent 7800 電感耦合等離子體質譜儀報價、型號、參數(shù)等信息。
二手icp-ms技術參數(shù)：
1. 靈敏度：
低質量數(shù) Li(7): 50 Mcps/ppm；
中質量數(shù) Y(89): 60 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
(高質量數(shù) Tl(205): 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；
根據用戶特殊需求，如激光、核工業(yè)、半導體材料等應用，可提供超高靈敏度功能
2. 檢測限：
低質量數(shù) Be(9): 0.5 ppt；
中質量數(shù) In(115): 0.1 ppt
高質量數(shù) Bi(209): 0.1 ppt
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
6. 質譜范圍：2 - 260 amu；
7 豐度靈敏度
低質量端: 5 x 10-7
高質量端: 1 x 10-7
主要特點：
尺寸小的ICP-MS
靈敏度碰撞池-第三代ORS3
氣碰撞池：只用He氣就可以消除所有干擾。
耐高鹽的ICP-MS: HMI技術（TDS>3%）
ICP離子源技術：的數(shù)字控制式諧頻ICP發(fā)生器
有機溶劑進樣不熄火！
分析：ISIS-DS技術
容易維護和清洗
色譜聯(lián)機功能：真正的一體化
功能的軟件：MassHunter系統(tǒng)，實現(xiàn)實時QA/QC
偏移標示，自動化控制等
低質量數(shù) Li(7): 50 Mcps/ppm；
中質量數(shù) Y(89): 60 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
(高質量數(shù) Tl(205): 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；
根據用戶特殊需求，如激光、核工業(yè)、半導體材料等應用，可提供超高靈敏度功能
2. 檢測限：
低質量數(shù) Be(9): 0.5 ppt；
中質量數(shù) In(115): 0.1 ppt
高質量數(shù) Bi(209): 0.1 ppt
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
6. 質譜范圍：2 - 260 amu；
7 豐度靈敏度
低質量端: 5 x 10-7
高質量端: 1 x 10-7
主要特點：
尺寸小的ICP-MS
靈敏度碰撞池-第三代ORS3
氣碰撞池：只用He氣就可以消除所有干擾。
耐高鹽的ICP-MS: HMI技術（TDS>3%）
ICP離子源技術：的數(shù)字控制式諧頻ICP發(fā)生器
有機溶劑進樣不熄火！
分析：ISIS-DS技術
容易維護和清洗
色譜聯(lián)機功能：真正的一體化
功能的軟件：MassHunter系統(tǒng)，實現(xiàn)實時QA/QC
偏移標示，自動化控制等
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