SM120 立式反射率測試儀

在太陽能電池制造領(lǐng)域，獲得太陽能硅片的反射率對生產(chǎn)的控制及研究有著極其重要的意義，但由于絨面的特殊表面，使得測量其反射率變得十分困難。

我們根據(jù)ISO7724和DIN5033標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合多年光譜儀器研發(fā)經(jīng)驗(yàn)全新推出全自動八度角積分式反射儀SM120正是針對這一問題的解決方案，SM120立式反射率測試儀應(yīng)用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié)，為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控，降低損耗提供了有效的檢測方案。

1.產(chǎn)品特點(diǎn)：

·全自動電腦控制，自動校準(zhǔn)，快速準(zhǔn)確測量;

·支持全自動二維掃描(Mapping);

·自動計算多點(diǎn)平均反射率;

·超長壽命光源;

·結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，操作簡單，維護(hù)方便;

·保障設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行而無需經(jīng)常校準(zhǔn)。

2.應(yīng)用領(lǐng)域：

·半導(dǎo)體鍍膜    ·光學(xué)鍍膜     ·液晶顯示    

·微電子系統(tǒng)    ·生物醫(yī)學(xué)

3. 選型與規(guī)格參數(shù)：

光學(xué)膜厚儀通過測量薄膜的光學(xué)性質(zhì)來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線穿過薄膜時，會發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。

光學(xué)膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強(qiáng)度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學(xué)鍍膜、涂層、光學(xué)薄膜等。通過光學(xué)膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、材料等領(lǐng)域。