DFTQA-實(shí)驗(yàn)室干膜厚度質(zhì)量保證系統(tǒng)
2024-10-10
![]() |
- 產(chǎn) 地:
- 美國(guó)
- 所在地區(qū):
- 上海上海市
SpecMetrix® DFTQA 實(shí)驗(yàn)室干膜厚度質(zhì)量保證系統(tǒng)
SpecMetrix® DFTQA 系統(tǒng)為底漆和面漆干膜厚度涂層提供非接觸式、非破壞性和實(shí)時(shí)厚度測(cè)量。
由SpecMetrix提供,工業(yè)物理旗下專(zhuān)業(yè)的涂層測(cè)試品牌,致力于創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量。
SpecMetrix® DFTQA系統(tǒng)為干膜厚度提供了一個(gè)全新的非接觸、非破壞性和實(shí)時(shí)絕對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)。無(wú)論是底漆、面漆、透明或著色樣品,我們的DFTQA系統(tǒng)都能讓您獲得詳細(xì)的涂層測(cè)量數(shù)據(jù)和分析。
簡(jiǎn)化質(zhì)量控制流程
SpecMetrix® DFTQA系統(tǒng)專(zhuān)為簡(jiǎn)化干膜厚度的質(zhì)量控制流程而設(shè)計(jì),它是我們?cè)诰聿耐繉訉?shí)驗(yàn)室測(cè)量中推薦的工具之一,具有亞微米級(jí)精度。它利用我們的*技術(shù)來(lái)改進(jìn)涂層工藝和質(zhì)量控制,同時(shí)減少質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室或研發(fā)中心的成本。
DFTQA系統(tǒng)加速了離線(xiàn)樣品測(cè)試,受到多個(gè)行業(yè)和應(yīng)用中質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室的信賴(lài)。
多功能測(cè)量能力
SpecMetrix® DFTQA系統(tǒng)是用于干膜厚度分析的極其多功能的系統(tǒng):
· 分析干涂層
· 清晰、有色或著色涂層
· 可測(cè)量底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層(包括聚酯、環(huán)氧樹(shù)脂、紋理、金屬化和PVDF)
· 適用于任何金屬基材上的涂層,包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鍍鋁鋅鋼板,甚至任何油漆顏色上的涂層
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層,或離散層,精度達(dá)到亞微米級(jí)
· 雙重功能 – 單個(gè)系統(tǒng)配置包括兩個(gè)光學(xué)組件
高精度和可重復(fù)性
使用SpecMetrix® DFTQA,您可以對(duì)質(zhì)量控制和質(zhì)量保證數(shù)據(jù)更加有信心。其測(cè)量精度不受操作員技能或人為誤差的影響,使用戶(hù)能夠獲得更高的重復(fù)性和再現(xiàn)性。
完整的涂層洞察
憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù),用戶(hù)可以通過(guò)非接觸和非破壞性手段獲得詳細(xì)的干膜厚度測(cè)量數(shù)據(jù)。
該技術(shù)極其精確,能為用戶(hù)提供其涂層的真實(shí)圖像。DFTQA系統(tǒng)允許用戶(hù)獲取整個(gè)樣品區(qū)域的準(zhǔn)確涂層厚度和干膜厚度測(cè)量,而不是僅限于代表性較差的孤立測(cè)量點(diǎn)。
此外,單個(gè)系統(tǒng)配置可以包括雙重光學(xué)組件,使用戶(hù)能夠更快地測(cè)量底漆和面漆。我們的光學(xué)技術(shù)高度*,并在涂層行業(yè)中廣泛應(yīng)用。
強(qiáng)大的SensorMetric軟件
作為測(cè)量分析的核心部分,我們用戶(hù)友好的軟件包將所有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®中,或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口,以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。
此外,我們的軟件還包括一個(gè)配方助手,幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有的配方和配方方案。
功能和優(yōu)點(diǎn)
· 非接觸且非破壞性 – 測(cè)量過(guò)程中不會(huì)損壞涂層或基材,保持樣品的完整性。
· 絕對(duì)厚度測(cè)量 – 提供樣品區(qū)域內(nèi)精確的涂覆層厚度和干膜厚度(DFT)測(cè)量。無(wú)需針對(duì)不同顏色或基材進(jìn)行重新校準(zhǔn)。
· 基材獨(dú)立 – 可測(cè)量金屬基材上的涂層,包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鍍鋁鋅鋼板,甚至任何油漆顏色上的涂層。
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量已應(yīng)用的底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層。
· 優(yōu)秀的Gage R&R - 測(cè)量精度不受操作員技能或人為誤差的影響,確保系統(tǒng)的可重復(fù)性和再現(xiàn)性
· 環(huán)保 – 非破壞性測(cè)試方法有助于減少?gòu)U料、返工勞動(dòng)力和能源成本。
· 雙重功能 – 單個(gè)系統(tǒng)配置包括雙重光學(xué)組件,使底漆和面漆測(cè)量速度更快。
規(guī)格
應(yīng)用: 光學(xué)測(cè)試, 油墨與涂料, 涂層檢測(cè), 涂層測(cè)試
材料: 油墨和涂料
測(cè)量范圍: 0.7至350微米*(透明/清漆涂層),0.7至75微米*(著色/不透明涂層)* 取決于所選的光學(xué)組件
精度: 涂層厚度的±1%(標(biāo)稱(chēng)值)
測(cè)量速度: 每秒最多100次
溫度范圍: 0°至50°C
輸出指標(biāo): 微米、密耳、g/m2
操作系統(tǒng): Windows®平臺(tái)
制造: 美國(guó)制造
認(rèn)證: CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證
工業(yè)物理
- 泓川科技國(guó)產(chǎn)納米級(jí)高精度白光干涉測(cè)厚
- SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀
- SuperViewW白光干涉測(cè)量膜厚儀器
- SuperViewW白光干涉表面3D輪廓儀
- SuperViewW白光干涉3D顯微測(cè)量?jī)x
- 納米級(jí)白光干涉三維形貌分析測(cè)量?jī)x
- SuperViewW納米級(jí)白光干涉三維測(cè)量?jī)x
- 高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)
- 增強(qiáng)型實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)
- ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測(cè)量系統(tǒng)
- FWS 涂層厚度與膜重測(cè)試站
- SuperViewW三維形貌顯微白光干涉儀