通過(guò)微量升溫法或者快速平衡法自動(dòng)測(cè)試液體和半固體的閃點(diǎn)值。

符合ASTM D7236, D3278, D3828;IP 523, 524, 534; ISO 3679, 3680; BS 6664 Parts 3 & 4; BS 3900 Part 13; ASTM E502等方法;

Seta 全自動(dòng)微量閉口閃點(diǎn)儀檢測(cè)范圍：被測(cè)樣品在-20℃~130℃間的閃點(diǎn)值

Seta 全自動(dòng)微量閉口閃點(diǎn)儀測(cè)試原理：用2ml或4ml注射器將試樣注入杯中，用每分鐘2℃的恒定的升溫速率加熱，在規(guī)定的時(shí)間間隔，用點(diǎn)火頭將一小火焰引入杯內(nèi)。試驗(yàn)火焰引起試樣上的蒸汽閃火時(shí)的低溫度作為閃點(diǎn)。

功能：用于測(cè)定液體和半固體樣品在-20℃~130℃間的閃點(diǎn)值。

技術(shù)參數(shù)：樣品量：根據(jù)方法2ml或4ml

點(diǎn)火：電子點(diǎn)火頭或氣點(diǎn)火

測(cè)試方法：快速平衡和微量升溫法

測(cè)試持續(xù)時(shí)間/快速平衡模式：1分鐘內(nèi)加熱到100℃，2分鐘內(nèi)加熱到100℃以上， FAME 1分鐘或用戶(hù)自定義1-99分鐘

測(cè)試持續(xù)時(shí)間/升溫模式：一般為7分鐘

冷卻時(shí)間：4分鐘內(nèi)從80℃降至20℃

計(jì)算機(jī)接口：RS232C，USB&LAN可選

功率：500W（最大）

電壓：100-250V，50/60Hz（可變換）