QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀
2025-04-28
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QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復(fù)合型高精度3D測(cè)量系統(tǒng)。
可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
產(chǎn)品陣容
型號(hào)
測(cè)量范圍：
X軸最大（mm） Y軸最大（mm） Z軸最大（mm）
Hyper QVWLI 302 300 200 190
Hyper QVWLI 404 400 400 240
Hyper QVWLI 606 600 650 220
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美譜勒科技（上海）有限公司
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