日本ST5520絕緣電阻測(cè)試儀

實(shí)現(xiàn)了"高速"絕緣電阻檢查

蕞快50ms高速判定 快速釋放殘留電壓 測(cè)量電壓25～1000V可任意選擇 接觸檢查功能 短路檢查功能

● 蕞快50ms的高速判斷

● 快速釋放殘留電壓

● 任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）

● 接觸檢查功能（防止由于接觸不良造成的誤判斷）

● 短路檢查功能（防止不合格品流入市場(chǎng)）

日本ST5520絕緣電阻測(cè)試儀

規(guī)格

測(cè)試項(xiàng)目

絕緣電阻（直流電壓施加方式）

測(cè)試電壓/測(cè)量量程（手動(dòng)/自動(dòng)）

25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ),

100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ),

500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)

基本精度

±2 % rdg. ±5 dgt.

25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ],

100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ],

500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ]

測(cè)試速度

FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換）

顯示屏

LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段

存儲(chǔ)功能

保存內(nèi)容：額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度

存儲(chǔ)數(shù)：最多10組（可保存/讀?。?/p>

測(cè)試模式

連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換）

比較設(shè)置

UPPER_FAIL：測(cè)量值≧上限值

PASS： 上限值＞測(cè)量值＞下限值

LOWER_FAIL：測(cè)量值≦下限值

判定處理

蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果

試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器

0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間

響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器

試驗(yàn)開(kāi)始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間

模擬輸出

DC +4 V f.s.

接口

RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（限ST5520-01）

電源

AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，蕞大25VA

體積及重量

215W×80H×166Dmm，1.1kg

附件

使用說(shuō)明書(shū)×1、電源線(xiàn)×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1