所在地：

北京北京市

公司名稱：

北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

簡介： 可評估薄膜導(dǎo)電的高溫四探針測試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測量。主要用于評估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電，重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參......

所在地：

北京北京市

公司名稱：

北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

簡介： HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)......

所在地：

北京北京市

公司名稱：

北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

簡介： 半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)，高溫絕緣電阻率運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)，并......

所在地：

北京北京市

公司名稱：

北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

簡介： 華測半導(dǎo)體材料四探針測試系統(tǒng)，是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻......

所在地：

北京北京市

公司名稱：

北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

簡介： HCTZ-2S北京華測四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻......

所在地：

廣東深圳市

公司名稱：

深圳市中圖儀器股份有限公

簡介： WD4000晶圓Wafer厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、......

所在地：

廣東深圳市

公司名稱：

深圳市中圖儀器股份有限公

簡介： WD4000晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可......

所在地：

湖北武漢市

公司名稱：

邁可諾技術(shù)有限公司

簡介： LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測試與測量分析......