所在地：

江蘇蘇州市

公司名稱：

九域半導體科技（蘇州）有

簡介： 硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學測量技術(shù)，如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中，反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來......

所在地：

江蘇蘇州市

公司名稱：

九域半導體科技（蘇州）有

簡介： 金剛石膜檢測與測試報告檢測項目金剛石膜的檢測項目主要包括以下幾個方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。......

所在地：

江蘇蘇州市

公司名稱：

九域半導體科技（蘇州）有

簡介： 在半導體制造領(lǐng)域，晶圓的厚度測量是至關(guān)重要的一環(huán)，它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測量的需求，我們研發(fā)了一款對射非接觸式光譜共焦位移傳感器......

所在地：

江蘇蘇州市

公司名稱：

九域半導體科技（蘇州）有

簡介： 非接觸式半絕緣方阻測量技術(shù)可以廣泛應用于各種領(lǐng)域,比如材料表面導電性測試、薄膜導電性測量、電路板測試等。它具有測量快速、精度高、不損傷被測物體等優(yōu)點。......

所在地：

廣東

公司名稱：

廣州蘭泰儀器有限公司

簡介： 表面涂層測厚儀測量鋁基上的非導電涂層的厚度，渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。......

所在地：

廣東深圳市

公司名稱：

深圳市中圖儀器股份有限公

簡介： WD4000高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓上下面的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度、粗糙度、總體厚度變化(TTV)，有效保......

所在地：

四川成都市

公司名稱：

成都藤田光學儀器有限公司

簡介： 武藏MUSASHI點膠機S-SIGMA-CM3-V5-2即將停產(chǎn)，后繼開型號為S-SIGMA-CM4-CTR-V5-N和S-SIGMA-CM4-CTR-V5-P，武藏MUSASHI點膠機S-SIGMA-CM3-V2-2即將停產(chǎn)，后繼開型......

所在地：

暫無

公司名稱：

深圳市奧宇自動化設(shè)備有限

簡介： Z-LASERZ30M18B-F-640-LG90激光器MXYZ-20B......