XDL210 菲希爾X-RAY膜層分析儀
參考價 | ¥ 400000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳金東霖科技有限公司
- 品牌
- 型號 XDL210
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2016/1/2 13:16:01
- 訪問次數(shù) 660
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X-RAY膜層分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損分析測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.膜層分析儀配備比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量.為了使每次測量都能在*的條件下進(jìn)行,儀器配備了可電動調(diào)整的多個準(zhǔn)值器及基本濾片.無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量.并且有著良好的*穩(wěn)定性,不用經(jīng)常佼準(zhǔn)儀器,可節(jié)省時間。
X-RAY膜層分析儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
1.測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件
2.測量微小區(qū)域上的薄鍍層
3.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
4.全自動測量,如測量印刷線路板
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