X熒光金厚測(cè)試儀，鍍金測(cè)厚儀，電鍍金厚度測(cè)量?jī)x面對(duì)復(fù)雜的電鍍層，如單一鍍層，二元合金鍍層，三元合金鍍層，雙鍍層，雙鍍層其中一層為合金鍍層這些復(fù)雜的電鍍層厚度檢測(cè)，菲希爾金厚測(cè)試儀，鍍金測(cè)厚儀，電鍍金厚度測(cè)量?jī)x能夠準(zhǔn)確快速的檢測(cè)分析出結(jié)果，多項(xiàng)技術(shù)，在線路板鍍金、五金鍍鎳鍍鉻鍍鋅鍍銀等領(lǐng)域中，占有90%的*，是客戶鍍層檢測(cè)的*選擇。

X熒光的X射線發(fā)生系統(tǒng)為X射線聚焦光學(xué)系統(tǒng)（聚焦導(dǎo)管）與X射線源相結(jié)合，并且可以照射出實(shí)際照射直徑為0.1mmφ以下高強(qiáng)度的X射線束。為此，可以對(duì)以往X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x由于照射強(qiáng)度不足而無法得到理想精度的導(dǎo)線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測(cè)量。X熒光膜厚儀同時(shí)搭載高計(jì)數(shù)率、高分辨率的檢測(cè)器，在測(cè)量鍍層厚度的同時(shí)，也能對(duì)RoHS、ELV、中國(guó)版RoHS等法規(guī)所管制的有害物質(zhì)進(jìn)行分析測(cè)量。

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