超平有孔碳支持膜C-flat™（低溫透射電鏡用支持膜）

      C-flat™是蕞適于低溫透射電鏡（cryo-TEM）用的一種新款多孔碳支持膜。C-flat™具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射電鏡的銅網(wǎng)上。C-flat™采用整體制造工藝，到達客戶手中的產品保證整潔，無任何多余的碳膜渣殘留。

特性：

      技術制造，超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻，為冰層厚度均勻打下良好的基礎。膜上的花樣孔采用深紫外光刻印制技術，確保了孔大小的準確（準確至微米級別）；同時確保了孔型的連續(xù)性，精細的制造技術*消除了多于的碳和碳膜孔產生的邊角料。

應用：

      C-flat™有孔碳支持膜對利用低溫透射電鏡獲得高分辨率的數(shù)據(jù)信息提供了非常理想的樣品支撐。主要應用于以下兩個方面：

1．  低溫電子斷層掃描術（cryo-ET）和單一微粒分析（single particle analysis，SPA）

大量的科學研究人員報道，C-flat™超平的膜表面使得研究對象更均勻的分布膜上孔區(qū)域，膜上冰層厚度的均一性也大大提高。與其它有孔碳膜相比，蕞佳的微粒分布特性可以采集到蕞理想的數(shù)據(jù)信息。膜上標準的孔大小為2µm，同時提供的還有其它大小的孔徑，也可以根據(jù)你的需要定制，因此C-flat™可在普通放大倍率下進行TEM定量分析。

2．  自動化低溫透射電鏡（automated TEM）

C-flat™分析位點的規(guī)則排列（以及微粒分布均勻和冰層厚的均一），可以使用Leginon軟件進行信息的自動控制和采集，兩者可以兼容。（Leginon是用于進行自動控制和采集TEM圖像的軟件系統(tǒng)，這個軟件通常用于SPA（Single Particle Analysis）應用，建立納米量級的三維模型。Leginon軟件可以使得TEM用戶在計量很低的情況下，采集大量的高質量的大分子圖像，系統(tǒng)使用數(shù)據(jù)庫自動更跟蹤采集的圖像、圖像參數(shù)、和同一目標在不同尺度下的關系。系統(tǒng)因此可以幫助提高用于分析的數(shù)據(jù)量。）

      我們提供的超平有孔碳支持膜所用的載網(wǎng)只有200目和400目兩種。選購產品時注意產品的型號，不同型號的產品的圖樣見下：

1.孔徑1.2μm,孔距1.3μm,型號：CF-1.2/1.3-2C，CF-1.2/1.3-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

2.孔徑2.0μm,孔距1.0μm,型號：CF-2/1-2C，CF-2/1-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

3.孔徑2.0μm,孔距2.0μm,型號：CF-2/2-2C，CF-2/2-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

4.孔徑2.0μm,孔距4.0μm,型號：CF-2/4-2C，CF-2/4-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

5.孔徑4.0μm,孔距2.0μm,型號：CF-4/2-2C，CF-4/2-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

6.孔徑1.0μm,孔距1.0μm,型號：CF-1/1-2C，CF-1/1-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

7.孔徑和孔距多樣（multi hole and space）,型號：CF-MH-2C，CF-MH-4C,圖樣見下：

1500x （45°）                  3000x                  10000x                   20000x

產品（C-flat™ Holey Carbon Grids for TEM）訂購信息：

超平有孔碳支持膜C-flat™（低溫透射電鏡用支持膜）