EM5030E CYBERTEK知用EM5030LF高頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭
- 公司名稱 深圳市博斯特電子儀器有限公司
- 品牌 深圳知用
- 型號(hào) EM5030E
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/24 8:32:14
- 訪問次數(shù) 1884
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣 |
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CYBERTEK知用EM5030LF高頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭
EM5030頻率范圍 30MHz-3GHz
精確定位磁場(chǎng)干擾源
電磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)
1.概述
EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。
EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來(lái)測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz,主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。
探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾,能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí),可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。
頻率范圍:9kHz-50MHz
精確定位磁場(chǎng)干擾源
電磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)
1.概 述
EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。
CYBERTEK知用EM5030LF高頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭
頻率范圍為30MHz-3GHz
應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源
.概述
EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz,共4種探頭形狀;EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz,共3種探頭形狀。
EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來(lái)測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭,覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz,主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源,除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。
探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾,能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí),可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。
概述:
EM5030 CYBERTEK近場(chǎng)探頭套件主要用于電子產(chǎn)品的電磁場(chǎng)測(cè)量,實(shí)現(xiàn)干擾源快速位,多種形狀的探頭,寬頻率范圍,可以完成多種的電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù)。配套使用的放大器,增益約20dB,可提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度!廣泛應(yīng)用于檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度;機(jī)箱、線纜、PCB模塊等磁場(chǎng)泄露情況;甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線,從而判斷干擾產(chǎn)生的原因,提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平,縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。
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