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徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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ICS1000NIR ICS1000NIR 近紅外熱像顯微鏡

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產(chǎn)品標(biāo)簽

紅外顯微鏡

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      上海銳馳創(chuàng)通電子科技有限公司(ACCTRONICS ENGINEERING LTD),總部位于中國上海,同時(shí)還在香港,深圳,天津,重慶設(shè)有辦事處。

      為了更好地服務(wù)國內(nèi)客戶,銳馳創(chuàng)通電子科技總經(jīng)銷和代理多種生產(chǎn)設(shè)備和儀器。

       公司致力于建立knowledge delivery system:知識傳送系統(tǒng),也就是不僅僅要提供Z終客戶物理意義上的產(chǎn)品,更重要地是提升用戶體驗(yàn),提供產(chǎn)品之外的價(jià)值服務(wù),將和產(chǎn)品有關(guān)工藝和知識傳輸給客戶。

        目前公司代理的產(chǎn)品分為:可靠性測試/*生產(chǎn)/焊接系列/過程控制與檢測/溫度控制與檢測/可編程電源

       可靠性測試產(chǎn)品包括:METRONELEC離子污染測試儀,CAF/離子遷移/SIR表面絕緣阻抗測試,X光無損探傷,電鍍?nèi)芤禾砑觿┓治鰞x,焊接強(qiáng)度/推拉力測試儀,電化學(xué)工作站,2D/3D錫膏厚度測試儀,OPTILIA光學(xué)檢測,英國PHOENIX爐溫追蹤儀..

      *生產(chǎn)包括: 瑞士ESSEMTEC全自動(dòng)/半自動(dòng)印刷機(jī),ESSEMTEC半自動(dòng)/全自動(dòng)貼片機(jī),ESSEMTEC智能料倉,ESSEMTEC全自動(dòng)點(diǎn)膠機(jī),LED生產(chǎn)設(shè)備,英國ROBOTAS智能組裝工作站..

        焊接設(shè)備包括: 德國WELLER焊接工具,德國ZIPATEC選擇性波峰焊,德國ATN全自動(dòng)焊接機(jī)器人(可以進(jìn)行紅外/激光/烙鐵/非接觸),瑞典OPTILIA BGA光學(xué)檢測系統(tǒng),法國METRONELEC可焊性測試儀,英國SOLDERSTAR回流焊/波峰焊測試儀,德國WELLER BGA返修工作站..

         過程控制與檢測: 美國OMEGA全系統(tǒng)溫度/流量/壓力/電導(dǎo)/PH傳感器儀器,加拿大ACR全系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集裝置.

         溫度控制和檢測:美國Omega熱電偶/RTD/溫控器/..

         可編程電源:美國AMETEK可編程電源

 

檢測設(shè)備、生產(chǎn)輔料、過程控制傳感器、電鍍分析控制儀器設(shè)備。

ICS1000NIR 近紅外熱像顯微鏡的產(chǎn)品實(shí)物圖:



ICS1000NIR 近紅外熱像顯微鏡的應(yīng)用:

  •  通過體硅預(yù)檢測及觀察集成電路背面
  •  殘留硅厚度測量
  •  硅結(jié)構(gòu)分析
  •  便攜式光子發(fā)射攝像機(jī)(帶升級)
  •  激光二極管檢測

的選項(xiàng)功能:

  •  140萬像素高分辨率加強(qiáng)型NIR數(shù)碼攝像機(jī)
  •  殘留硅厚度測量選件
  •  ICS1000超便攜式控制器
  •  便攜式光子發(fā)射攝像機(jī)升級
  •  Windows Vista商業(yè)版操作系統(tǒng)

的基本功能:

  •  優(yōu)化的1:7縮放NIR顯微鏡可觀察630nm 到2um的波長
  •  長焦距 NIR物鏡
  •  加強(qiáng)型NIR數(shù)碼攝像機(jī)
  •  集成USB控制1060nm單色光照明裝置
  •  亞微米精密電子聚焦模塊
  •  標(biāo)有0.1mm刻度的X-Y階段為安裝樣本進(jìn)行準(zhǔn)確定位
  •  ICS1000 成像軟件套件支持Win XP/ Pro系統(tǒng)
  •  ICS1000桌面系統(tǒng)控制器占地面積小
  •  ICS1000NIR 影響圖庫
  •  IC背面預(yù)檢測
  •  IC 表面 IC電路

在背面預(yù)檢測期間進(jìn)行覆晶封裝集成電路的表面檢查工作是非常重要的,它能確保高質(zhì)量的結(jié)果。左圖顯示的是設(shè)備表面,將采用*的RKD NanoPrep技術(shù)預(yù)檢測其背面。此設(shè)備已經(jīng)做好了背面光子發(fā)射準(zhǔn)備且沒有為采集的圖像移除表面碎屑。然后,ICS1000NIR聚焦到下面的電路。右圖顯示的是使用220um ICS1000NIR測量殘留硅的厚度。請注意,我們系統(tǒng)中的集成單色照明裝置是如何穿透背面的硅,甚至在有碎屑的情況下,產(chǎn)生清晰的圖像!

穿透53um的硅產(chǎn)生的IC背面成像。140萬像素;ICS1000成像軟件套件可利用按下按鈕產(chǎn)生的日期,時(shí)間和規(guī)模信息自動(dòng)標(biāo)記圖像。觀察有細(xì)微裂紋的單晶硅太陽能電池;20X物鏡。
 

上海銳馳科技有限公司

郵件:sales@acctronics.com
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