微小孔及小間隙內(nèi)壁粗糙度儀
- 公司名稱 永鑫企業(yè)
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2017/8/7 22:26:55
- 訪問次數(shù) 391
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粗糙度 書寫的靈敏性
總體變形 抗書寫及抗切削性
彈性和可塑性 觸覺性及柔軟度
材料致密性 抗摩擦抗刮性
微硬度及組織結(jié)構(gòu) 微摩擦系數(shù)
涂層厚度及結(jié)構(gòu) 松弛及衰減性
微小孔及小間隙內(nèi)壁粗糙度儀
為了實時對準被測孔，本儀器配備了3個自動旋轉(zhuǎn)軸及3個自動轉(zhuǎn)換軸。
由微量鎢和碳纖維組成的傳感器，能實現(xiàn)內(nèi)部形貌的精密測量。這歸功于本公司在框架結(jié)構(gòu)下開發(fā)的LVDT技術(shù)。
| 技術(shù)規(guī)格 | |
| X，Y，Z 軸范圍 （mm） | Up to 200 x 200 x 200 （motorized） |
| 解析度 （μm） | 0.5 （0.1 in option） |
| 形貌的直線度 | Up to 0.6 μm x 200 mm |
| 尺寸 | L900 x W710 x H1980 |
| 重量 （kg） | 650 |
| PheNIX技術(shù) | 由ALTIMET公司開發(fā)，同時滿足工廠及實驗室使用 |
| zui大檢測速度 | 250 μm / s |
| 探針 | AltiProbe NEEDLE |
| 原理 | 特殊設計的感應傳感器 |
| 范圍 | 150 μm to 1.5 mm |
| 垂直解析度 | 2 to 60 nm |
| 側(cè)面解析度 | 2 μm stylus radius – diameter of 35 μm |
| 頻率 | up to 30 KHz |
| 探針 | AltiProbe CLA |
| 原理 | 白光CLA （Chromatic Light Aberration） |
| 范圍 | Modular confocal optical probeof 300 μm |
| 垂直解析度 | 6 to 600 nm （accuracy: 20 nm to 3 μm） |
| 側(cè)面解析度 | up to 1.1 μm |
| 探針 | AltiProbe Inductive |
| 原理 | 標準電感傳感器或特定的觸針 |
| 范圍 | 150 μm to 1.5 mm |
| 垂直解析度 | 2 to 60 nm |
| 側(cè)面解析度 | 2 μm stylus radius 60°or 90° or customized |
| 配備 | |
| 分析軟件 | Altimap suite: Lab to line interface （control card）. Self macro analysis |
| CCD Camera | 測量區(qū)域的觀察和選擇 Zoom up to x1200 |
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