掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 廣州佳睿科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問(wèn)次數(shù) 809
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掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100技術(shù)指標(biāo):
SPM探頭 |
樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。 |
XYzui大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 |
XY向分辨率:0.4nm(輕敲模式);0.3nm(AFM模式);0.1nm(STM模式) |
Z向分辨率:0.05nm(輕敲模式);0.03nm(AFM模式);001nm(STM模式) |
XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm;精度0.5微米 |
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近 |
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) |
電化學(xué)針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配) |
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)(選購(gòu)) |
掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100特點(diǎn)
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡(jiǎn)捷直觀。 |
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近,保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。 |
深度陡度測(cè)量,三維顯示。 |
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 |
X、Y二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索樣品區(qū)域. |
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡 |
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 |
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 |
可選配納米刻蝕功能模塊。 |