XRF-2000 韓國Micr Pioneer 系列熒光金屬鍍層測厚儀
- 公司名稱 儀高南儀器(深圳)有限公司
- 品牌
- 型號 XRF-2000
- 產(chǎn)地 韓國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2017/7/19 5:16:04
- 訪問次數(shù) 579
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金相切片制造設(shè)備;金相切片檢查設(shè)備;測厚類設(shè)備;物理特性檢測類設(shè)備;放大鏡系列;化學(xué)實驗檢測設(shè)備;環(huán)境檢測類;禾威系列等
可測元素范圍:
鈦(Ti) – 鈾(U)
可測量厚度范圍:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射線管:油冷,超微細對焦
高壓:0-50KV(程控)
準(zhǔn)直器:
固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).